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SiC JFET并聯設計和測試中的最佳實踐

安森美 ? 來源:安森美 ? 2025-03-06 10:10 ? 次閱讀

本文作者:Jonathan Dodge, P.E., Mike Zhu, Shusun Qu ,Mike Tian

隨著Al工作負載日趨復雜和高耗能,能提供高能效并能夠處理高壓的可靠SiCJFET將越來越重要。在第一篇文章和第二篇文章中我們重點介紹了SiCJFET并聯設計的挑戰,本文將介紹演示和測試結果。

演示和測試結果

根據上述指南設計了一個演示板,并顯示了四個器件的測試結果:

UJ4SC075006K4S

UJ4C075023K4S

UF3SC120009K4S

UF3SC120016K4S

演示板設計

圖 1 顯示了演示和測試板,其中包括一塊并聯了兩個器件的半橋拓撲電源板和一塊柵極驅動器板。

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圖 1 演示和測試板圖片

本設計示例遵循功率環路和柵極驅動電路的對稱布局建議。同時,直流母線電容和去耦電容采用對稱布局以最小化換流環路。

圖2和圖3展示了該演示設計的原理圖,其中使用了鐵氧體磁珠和共模電感(可選)用于研究不同條件下的效果。

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圖 2 演示電路設計示意圖

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圖 3 演示電路設計示意圖

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圖 4 演示電源板 PCB 布局

圖5展示了器件RC緩沖電路與柵極驅動電路布局的示例設計,該設計的核心要點在于盡可能縮短RC緩沖電路與功率器件的距離,并對并聯器件的柵極驅動電路采用對稱布局。

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圖 5 RC 緩沖電路和柵極電路布局示例

測試結果

圖 6 至圖 9 顯示了該示例設計的 SiC FET 并聯測試結果,柵極和Kelvin源極上都有鐵氧體磁珠。

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圖 6 開關波形-UJ4SC075006K4S

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圖7 開關波形-UJ4C075023K4S

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圖 8 開關波形-UF3SC120009K4S

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圖9 開關波形-UF3SC120016K4S

仿真柵極閾值失配

通常,由于各器件的實際參數與數據手冊標稱值之間存在差異(即便差異微小),此類失配現象不可避免。因此,為了測試鐵氧體磁珠和共模電感在柵極電路上的有效性,在基于UJ4SC075006K4S器件搭建的測試平臺中,通過改變單個柵極電阻值(一個為 6.8 歐姆,另一個為 6.2 歐姆)來仿真柵極閾值電平失配狀態。圖 10 至圖 14 顯示了采用不同措施緩解仿真柵極閾值失配的波形圖。

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圖10 通過改變柵極電阻來仿真柵極閾值失配(未使用鐵氧體磁珠)

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圖11 柵極上有鐵氧體磁珠的波形

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圖 12 Kelvin源上有鐵氧體磁珠的波形

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圖13 柵極和Kelvin源極上均有鐵氧體磁珠的波形

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圖 14 柵極電路上有共模電感的波形

從上述測試結果可以看出,當器件出現不可避免的柵極閾值失配時,柵極電路上的共模電感是減輕 VGS 和 VDS 負面影響的最佳方法。

仿真布局導致的失配

對稱布局同樣是并聯器件設計的關鍵要點,因為非對稱布局會導致不同支路的漏極走線電感(Ld)與源極走線電感(Ls)產生差異,進而引發動態電流失配或瞬態振蕩。此外,去耦電容(Cd)在布局中的位置是否對稱也是影響因素之一。

因此,為驗證鐵氧體磁珠與共模電感在柵極電路上的作用,我們以 UF3SC120009K4S 為基礎,通過改變漏極/源極引線的長度來仿真失配的 Ld/Ls 布局,并對比了不同Cd布局位置的影響。圖14展示了Ld、Ls及Cd的布局位置分布,圖15至圖19則展示了通過不同優化措施減輕非對稱布局負面影響的波形對比。

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圖14 Ld、Ls 和Cd 的位置

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圖15 柵極和Kelvin源上均有鐵氧體磁珠的Ld 不平衡波形(直流母線400V,Id = 8A)

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圖 16 柵極和Kelvin源上均有鐵氧體磁珠的 Ls 不平衡波形(直流母線 400V,Id = 6A)

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圖17 Cd 在不對稱位置,柵極和Kelvin源上都有鐵氧體磁珠的波形(直流母線800V,Id= 100A)

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圖18 Cd 在不對稱位置,柵極和Kelvin源極上均有共模電感的波形(直流母線800V,Id= 100A)。

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圖19 Cd 在對稱位置,柵極和Kelvin源上均有共模電感的波形(直流母線800V,Id= 100A)。

圖15展示了由嚴重不平衡的Ld所導致的大動態電流失配。Ld不平衡問題只能通過對稱的布局設計本身來解決。圖16顯示了由Ls不平衡引起的動態電流失配。

為避免器件損壞,本測試中我們未設置過大的Ls不平衡,因為Ls不僅會影響功率環路,還會影響柵極環路。Ls不平衡可通過以下方式解決:采用對稱布局設計并添加鐵氧體磁珠或CMC。添加鐵氧體磁珠可以解決Ls 不平衡問題,但效果不如CMC顯著。此外,與CMC相比,鐵氧體磁珠會降低器件速度,增加開關損耗。因此,我們建議在實際并聯應用中采用CMC結合對稱布局設計方案。

在實現Ld和Ls的平衡后,圖17展示了由Cd不平衡引起的動態電流失配現象(本案例中仍使用鐵氧體磁珠)。通過對比圖17和圖18可以看出,在柵極環路中使用CMC相較于使用鐵氧體磁珠,可以更有效地平衡電流失配和Vgs電壓。同樣,與CMC 相比,鐵氧體磁珠會減慢器件的速度,增加開關損耗。

但有一點我們需要注意:CMC 只能消除Vgs 電壓失配,但不能消除電流失配。對于電流失配,CMC僅能起到緩解作用。因此,如圖19所示,若要徹底消除電流失配,唯一有效的方法是將Cd盡可能靠近并聯半橋并實現對稱布局。基于上述分析,我們再次建議在實際并聯應用場景中使用CMC,并采用對稱布局設計。

設計和測試中的最佳實踐

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圖20 成功并聯SiC FET 需要器件漏極至源極緩沖電路和母線緩沖電路

?成功并聯SiC FET 需要器件緩沖電路,如圖20 所示。用戶指南中推薦了起始值。

?對稱布局至關重要,測試證實,不對稱的漏極和源極雜散電感以及去耦電容的位置會導致開關電流差異過大。

?如果柵極閾值的微小失配和微小的不對稱布局不可避免,那么柵極和源極環路上的CMC是消除瞬態電流失配或瞬態振蕩的最有效方法。

?不推薦使用鐵氧體磁芯(環形)電流互感器(CT),因為它會由于引線與磁芯之間的互感而導致不平衡的漏極雜散電感。應使用羅氏線圈電流探頭進行電流測量,如圖 21所示。

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圖21 電流測量方法,左:鐵氧體磁芯CT(不推薦);右:羅氏線圈探頭

? 對于電壓測量,不推薦使用差分探頭,因為其引線和導線的環路較大(會增加環路電感),建議使用環路電感較小的無源探頭,如圖22 所示。

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圖22 電壓探頭,左:差分探頭(不推薦使用);右:環路電感較小的無源探頭

? 由于dv/dt很高,共模噪聲很容易耦合到柵極到源極的信號測量中,濾除這種噪聲的一種方法是在電壓探頭線纜上添加鐵氧體磁芯,并扭轉這些線纜,如圖23 所示。

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圖23 將線纜扭轉,并使用鐵氧體磁芯過濾共模柵源噪聲

結語

盡管SiC JFET cascode結構具有很高的增益和開關壓擺率,只要遵循本應用筆記中概述的指導原則,就能成功實現并聯。本文雖然只討論了兩個器件并聯的情況,但這些并聯準則適用于任何數量的器件并聯。最后,這些指導原則不僅適用于cascode,也適用于任何其他類型的電壓柵控功率晶體管。

對于需要并聯兩個以上分立器件、要求低dv/dt 且不需要器件 RC緩沖電路的大功率逆變器等應用,安森美(onsemi)建議使用Combo-FET 器件。

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原文標題:速看!SiC JFET并聯設計白皮書完整版

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