實驗名稱:相位調(diào)制零差干涉儀性能評價及實驗
實驗目的:測試相位調(diào)制零差干涉儀在測量鏡靜止時,由環(huán)境參數(shù)變化引起測量干涉儀與參考干涉儀之間干涉信號的相位差,即被測位移相對于零點的漂移誤差。
測試設備:ATA-2088高壓放大器、納米定位平臺、單頻激光干涉儀、光電探測器、Redpitaya信號處理板等。
實驗過程:
圖1:相位調(diào)制零差干涉儀實物圖
相位調(diào)制零差干涉儀組裝調(diào)試主要分為干涉儀光路元件機械結構組裝、根據(jù)光路結構設計進行初步調(diào)試和結合硬件電路及上位機軟件進行最終調(diào)試三個部分。裝配調(diào)試完成的相位調(diào)制零差干涉儀如圖1所示。
搭建光路結構,光路初步調(diào)整完成后,對光電探測器、高壓放大器、Redpitaya信號處理板及運放等硬件上電,通過示波器觀察光電探測器輸出電壓幅值,調(diào)節(jié)光電探測器分壓滑動變阻器使干涉信號幅值在±1V左右。
打開基于LabVIEW的上位機軟件橢圓擬合效果顯示模塊,通過觀察橢圓擬合前圖形是否存在畸變來判斷Redpitaya信號處理板輸入信號幅值是否超過限壓。通過觀察橢圓擬合后的圖形以及橢圓擬合質(zhì)量燈判斷當前光路狀態(tài)下橢圓擬合效果是否為最佳。
若判斷當前狀態(tài)下光路可以達到橢圓擬合最佳效果,則進行干涉儀外罩及其他干涉儀元件的安裝工作,最終實現(xiàn)干涉儀正常使用。否則,繼續(xù)對光路進行調(diào)整直到達到最佳橢圓擬合效果。
實驗前,將恒溫空調(diào)開啟,設置環(huán)境參數(shù),溫度為21.5℃,相對濕度為50%,保證實驗環(huán)境穩(wěn)定;開啟氣浮隔振光學實驗平臺,消除震動影響;將相位調(diào)制零差干涉儀與浙江理工大學碩士學位論文相位調(diào)制零差干涉納米位移測量系統(tǒng)儀器化及性能評價57Renishaw激光干涉儀同時開啟,使兩套干涉儀測量鏡背靠背安裝,以保證其能夠最大程度受環(huán)境影響一致,并對兩套干涉儀測量鏡分別經(jīng)行調(diào)整,使相位調(diào)制零差干涉儀橢圓擬合效果最佳,使Renishaw干涉儀干涉信號質(zhì)量指示燈全亮;待干涉儀開啟兩個小時后,環(huán)境趨于穩(wěn)定時,開始測量,每隔500ms計數(shù)一次,測量時間為2小時。
實驗結果:
如圖2及圖3所示為相位調(diào)制零差干涉儀與Renishaw干涉儀靜態(tài)穩(wěn)定對比實驗測量結果。通過觀察干涉儀漂移曲線發(fā)現(xiàn),在2小時的實驗過程中,相位調(diào)制零差干涉儀總體位移漂移值與Renishaw干涉儀位移漂移值分別約為65nm和165nm,證明相位調(diào)制零差干涉儀相同測量條件下靜態(tài)穩(wěn)定性優(yōu)于Renishaw干涉儀;且Renishaw干涉儀漂移曲線與相位調(diào)制零差干涉儀的測量干涉儀光路漂移方向一致,漂移位移差值僅為20nm左右,因此充分證明在相位調(diào)制零差干涉儀光路中加入?yún)⒖几缮鎯x測量光路能夠有效減小底板變形等帶來的測量誤差。通過觀察相位調(diào)制零差干涉儀10min內(nèi)的位移漂移曲線發(fā)現(xiàn)其僅漂移約為5.5nm。
圖2:靜態(tài)穩(wěn)定性對比實驗測量結果
圖3:相位調(diào)制零差干涉儀10min內(nèi)的漂移范圍
電壓放大器推薦:ATA-2088
圖:ATA-2088高壓放大器指標參數(shù)
本資料由Aigtek安泰電子整理發(fā)布,更多案例及產(chǎn)品詳情請持續(xù)關注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線,且具有相當規(guī)模的儀器設備供應商,樣機都支持免費試用。電壓放大器https://www.aigtek.com/products/bk-dyfdq.html
審核編輯 黃宇
-
電壓放大器
+關注
關注
2文章
300瀏覽量
21554 -
高壓放大器
+關注
關注
4文章
536瀏覽量
14489
發(fā)布評論請先 登錄
相關推薦
安泰電壓放大器解決的問題是什么

評論