深圳鴻合智遠|測量電路:晶體振蕩器、輸出波形、MEMS振蕩器
在通信、導航、工業(yè)控制等高精度領(lǐng)域,晶體振蕩器(XO)與MEMS振蕩器作為時序基準源,其輸出波形的穩(wěn)定性直接決定系統(tǒng)性能。測量電路作為連接振蕩器與測試設(shè)備的橋梁,需解決兩大核心挑戰(zhàn):一是如何從噪聲中提取微秒級甚至納秒級的時序特征;二是如何兼容不同類型振蕩器的電氣特性差異。今日,深圳鴻合智遠小編將分析測量電路-晶體振蕩器、輸出波形、MEMS振蕩器的多個維度,系統(tǒng)闡述針對晶體振蕩器、輸出波形、MEMS振蕩器的測量電路設(shè)計策略。
一、測量電路(晶體振蕩器)
二、測量電路(輸出波形)
三、測量電路(MEMS振蕩器)
總之,從傳統(tǒng)晶體振蕩器到新興MEMS器件,測量電路-晶體振蕩器、輸出波形、MEMS振蕩器的技術(shù)演進始終與振蕩器性能提升同頻共振。未來,隨著5G-A、6G及量子通信對時序精度的需求逼近飛秒級,測量電路將向更高帶寬(>10GHz)、更低噪聲(<-170dBc/Hz)及更強智能化(AI驅(qū)動)方向突破。對于工程師而言,掌握測量電路設(shè)計不僅是技術(shù)能力的體現(xiàn),更是參與定義下一代時序基準標準的關(guān)鍵路徑。
審核編輯 黃宇
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