在電子測(cè)試領(lǐng)域，噪聲是影響信號(hào)完整性的核心挑戰(zhàn)之一。泰克TBS2202B示波器憑借其200MHz帶寬、2GS/s采樣率及5M點(diǎn)存儲(chǔ)深度，成為中端示波器中噪聲測(cè)試的熱門選擇。本文將從噪聲來(lái)源、測(cè)試方法、優(yōu)化策略及典型應(yīng)用場(chǎng)景四方面，系統(tǒng)解析TBS2202B的噪聲測(cè)試技術(shù)。

一、噪聲來(lái)源：從硬件到環(huán)境的系統(tǒng)性分析
1.示波器本底噪聲
TBS2202B的垂直分辨率為8位，理論本底噪聲為256級(jí)離散電壓中的最小變化量。實(shí)際測(cè)試中，其本底噪聲水平受以下因素影響：
前端設(shè)計(jì)：TBS2202B采用全新降噪前端，通過(guò)優(yōu)化模擬電路布局和信號(hào)路徑，將隨機(jī)噪聲降低至500μV以下（以500mV/div垂直刻度為例）。
帶寬限制：開啟20MHz帶寬限制后，高頻噪聲被衰減，噪聲水平可進(jìn)一步降低30%-50%。
探頭類型：使用無(wú)源探頭時(shí)，探頭本身的電容和電阻會(huì)引入附加噪聲；而有源探頭（如泰克P6245差分探頭）可通過(guò)主動(dòng)補(bǔ)償降低噪聲。
2.被測(cè)信號(hào)噪聲
熱噪聲：由導(dǎo)體中電子的熱運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生，與溫度、電阻值成正比，無(wú)法完全消除，但可通過(guò)低溫環(huán)境或低阻抗電路抑制。
開關(guān)噪聲：在電源轉(zhuǎn)換器測(cè)試中，開關(guān)管的快速通斷會(huì)產(chǎn)生高頻噪聲，其頻譜分布可達(dá)數(shù)百M(fèi)Hz。
電磁干擾（EMI）：來(lái)自外部設(shè)備（如無(wú)線路由器、電機(jī)）的電磁輻射會(huì)通過(guò)空間耦合進(jìn)入測(cè)試路徑，形成共模或差模噪聲。
二、噪聲測(cè)試方法：從基礎(chǔ)到高級(jí)的完整流程
1.基礎(chǔ)測(cè)試：峰峰值與RMS值測(cè)量
步驟：
連接探頭：使用泰克TPP0200無(wú)源探頭（帶寬200MHz）或P6245有源差分探頭，確保探頭校準(zhǔn)狀態(tài)良好。
設(shè)置參數(shù)：垂直刻度設(shè)為500mV/div，時(shí)間基準(zhǔn)設(shè)為1ms/div，觸發(fā)模式設(shè)為“邊沿觸發(fā)”。
開啟帶寬限制：在通道設(shè)置菜單中啟用20MHz帶寬限制，以濾除高頻噪聲。
測(cè)量噪聲：使用示波器的“自動(dòng)測(cè)量”功能，選擇“峰峰值”（Vpp）和“RMS值”（VRMS）參數(shù)。
結(jié)果分析：
若Vpp超過(guò)10mV或VRMS超過(guò)3mV，需進(jìn)一步排查噪聲來(lái)源。
對(duì)比開啟/關(guān)閉帶寬限制的測(cè)量結(jié)果，可量化高頻噪聲貢獻(xiàn)。
2.高級(jí)測(cè)試：頻譜分析與噪聲分布
步驟：
啟用FFT功能：在示波器菜單中調(diào)用FFT分析模塊，設(shè)置中心頻率為10MHz，頻譜跨度為20MHz。
調(diào)整窗函數(shù)：選擇“漢寧窗”以減少頻譜泄漏，提高頻率分辨率。
捕獲頻譜：觸發(fā)穩(wěn)定后，捕獲噪聲的頻譜分布圖。
結(jié)果分析：
識(shí)別噪聲峰值頻率：若在100kHz、1MHz等頻點(diǎn)出現(xiàn)顯著峰值，可能對(duì)應(yīng)開關(guān)電源的開關(guān)頻率或其諧波。
計(jì)算噪聲功率密度：通過(guò)積分頻譜圖中的噪聲功率，可量化單位帶寬內(nèi)的噪聲水平。
3.極限測(cè)試：?jiǎn)未问录东@
場(chǎng)景：測(cè)試電源啟動(dòng)瞬間的瞬態(tài)噪聲。
步驟：
設(shè)置觸發(fā)條件：選擇“脈寬觸發(fā)”，設(shè)置脈寬閾值為100ns，觸發(fā)極性為“正”。
啟用峰值檢測(cè)：在采集模式菜單中啟用“峰值檢測(cè)”，以捕獲瞬態(tài)毛刺。
調(diào)整存儲(chǔ)深度：將記錄長(zhǎng)度設(shè)為5M點(diǎn)，以捕獲完整啟動(dòng)過(guò)程。
結(jié)果分析：
觀察瞬態(tài)噪聲的幅值和持續(xù)時(shí)間，判斷是否超出設(shè)計(jì)允許范圍。
結(jié)合頻譜分析，定位瞬態(tài)噪聲的頻率成分。
三、噪聲優(yōu)化策略：從硬件到軟件的全方位抑制
1.硬件優(yōu)化
探頭選擇：
對(duì)于低頻信號(hào)（<1MHz），優(yōu)先使用無(wú)源探頭，以降低探頭引入的附加噪聲。
對(duì)于高頻信號(hào)（>10MHz），必須使用有源探頭，以保持信號(hào)完整性。
接地優(yōu)化：
使用短地線連接探頭接地環(huán)與被測(cè)設(shè)備，避免地環(huán)路引入噪聲。
在電源測(cè)試中，采用“接地環(huán)+接地夾”雙重接地，以降低共模噪聲。
2.軟件優(yōu)化
采集模式：
平均模式：對(duì)多次采集結(jié)果進(jìn)行平均，可降低隨機(jī)噪聲30%-50%，但會(huì)犧牲實(shí)時(shí)性。
高分辨率模式：通過(guò)矩形波列平均降低高頻噪聲，適用于慢速信號(hào)測(cè)試。
濾波器：
硬件帶寬限制：直接衰減高頻信號(hào)，簡(jiǎn)單有效，但會(huì)丟失高頻毛刺信息。
軟件DSP濾波：提供更靈活的濾波選項(xiàng)（如低通、高通、帶通），但需權(quán)衡計(jì)算延遲。
3.環(huán)境優(yōu)化
屏蔽措施：
使用金屬屏蔽箱包裹被測(cè)設(shè)備，以隔離外部EMI。
在探頭與示波器之間使用屏蔽電纜，減少空間耦合噪聲。
電源隔離：
為被測(cè)設(shè)備提供獨(dú)立電源，避免與其他設(shè)備共用電源線引入噪聲。
使用線性電源替代開關(guān)電源，以降低電源本身的噪聲水平。
四、典型應(yīng)用場(chǎng)景：從電源到通信的噪聲測(cè)試實(shí)踐
1.開關(guān)電源噪聲測(cè)試
測(cè)試目標(biāo)：量化電源輸出紋波噪聲，驗(yàn)證是否符合IEC 61000-3-2標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)試方法：
連接探頭：使用P6245差分探頭測(cè)量電源輸出端紋波。
設(shè)置參數(shù)：垂直刻度設(shè)為10mV/div，時(shí)間基準(zhǔn)設(shè)為10μs/div。
啟用帶寬限制：設(shè)置20MHz帶寬限制，以濾除開關(guān)頻率諧波。
測(cè)量結(jié)果：Vpp≤5mV，VRMS≤1.5mV，頻譜圖中無(wú)顯著峰值。
2.通信信號(hào)噪聲測(cè)試
測(cè)試目標(biāo)：評(píng)估CAN總線信號(hào)的噪聲容限，確保通信可靠性。
測(cè)試方法：
連接探頭：使用TPP0200探頭測(cè)量CAN總線差分信號(hào)。
設(shè)置參數(shù)：垂直刻度設(shè)為500mV/div，時(shí)間基準(zhǔn)設(shè)為10μs/div。
啟用峰值檢測(cè)：捕獲總線上的瞬態(tài)毛刺。
測(cè)量結(jié)果：毛刺幅值≤200mV，持續(xù)時(shí)間≤50ns，未觸發(fā)總線錯(cuò)誤。
3.音頻信號(hào)噪聲測(cè)試
測(cè)試目標(biāo)：量化音頻放大器的輸出噪聲，驗(yàn)證信噪比（SNR）是否達(dá)標(biāo)。
測(cè)試方法：
連接探頭：使用TPP0200探頭測(cè)量放大器輸出端噪聲。
設(shè)置參數(shù)：垂直刻度設(shè)為10mV/div，時(shí)間基準(zhǔn)設(shè)為1ms/div。
啟用FFT分析：計(jì)算噪聲功率密度，積分得到總噪聲功率。
測(cè)量結(jié)果：SNR≥80dB，滿足設(shè)計(jì)要求。

泰克TBS2202B示波器通過(guò)以下技術(shù)特性，為噪聲測(cè)試提供了高效、精準(zhǔn)的解決方案：
低噪聲前端設(shè)計(jì)：將本底噪聲控制在500μV以下，確保微弱信號(hào)的可測(cè)性。
靈活的采集模式：支持平均、高分辨率等多種模式，適應(yīng)不同噪聲測(cè)試需求。
強(qiáng)大的頻譜分析：內(nèi)置FFT功能，可快速定位噪聲頻率成分。
豐富的探頭接口：支持TekVPI探頭接口，兼容多種有源/無(wú)源探頭，擴(kuò)展測(cè)試能力。
無(wú)論是電源紋波測(cè)試、通信信號(hào)分析還是音頻性能驗(yàn)證，TBS2202B均能以卓越的噪聲測(cè)試性能，助力工程師攻克信號(hào)完整性挑戰(zhàn)。

審核編輯 黃宇