前面的文章提到過高級錯誤報告（Advanced Error Reporting，AER），接下來詳細地介紹一下這一功能。在已有的PCIe錯誤報告機制上（之前文章介紹的），AER還支持以下特性：

· 在登記實際發生的錯誤類型時，有更好的粒度（Granularity，可以理解為區分度或者精確度）

· 區分各種不可校正錯誤的嚴重程度

· 支持登記包頭中的錯誤

· 為Root通過中斷報告接收到的錯誤消息提供了標準化的控制機制

· 可以定位錯誤源在PCIe體系結構中的位置

· 能夠獨立地屏蔽某種（或者多種）錯誤類型的報告

配置空間中的AER相關寄存器結構如下圖所示：

前面的文章中多次提到過，ECRC的產生于校檢需要AER的支持，相關控制bit位于高級錯誤功能控制寄存器中，如下圖所示：

其中，最低5bits為當前錯誤指針（First Error Pointer），當相關錯誤狀態更新時，該指針由硬件自動更新。一般情況下，當前錯誤指針指向的錯誤是優先級最高的錯誤，需要最先被處理的，往往也是其他錯誤的根源。PCIe Spec V2.1還支持多個錯誤的追蹤（Tracking Multiple Errors）。

圖中的ROS、RWS、RO等字符的意義如下：

· RO——只讀（Read Only），由硬件控制

· ROS——只讀且不被復位（Read Only and Sticky）

· RsvdP——保留且不可以用于其他用途

· RsvdZ——保留且只能被寫0

· RWS——可讀可寫且不被復位（Readable，Writeable and Sticky）

· RW1CS——可讀，寫1清零，且不被復位

不被復位是指該bit的內容不會因為復位（斷電后的上電復位除外）而發生改變。PCIe總線中有多種復位概念，Sticky bit（不被復位的位）不會受到功能層復位（Function Level Reset， FLR）、熱復位（Hot Reset）和暖復位（Warm Reset）的影響，甚至不受冷復位（Cold Reset）的影響（當主電源切斷后，Vaux等二級電源仍保持正常供電）。關于PCIe總線的復位機制，后續的文章會詳細地介紹。