如何確定所選CRC的檢測(cè)數(shù)據(jù)是否損壞
對(duì)IC或子系統(tǒng)之間的接口常常會(huì)增加循環(huán)冗余校驗(yàn)(CRC)以檢測(cè)數(shù)據(jù)是否損壞，但標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)如何確定所選CRC是否足夠好則語(yǔ)焉不詳。
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發(fā)表于 12-05 06:10
求助，關(guān)于ADS125H02數(shù)據(jù)通訊格式及CRC校驗(yàn)問(wèn)題求解
of the initial data.
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發(fā)表于 12-03 06:54
ADS131 PGA切換是否會(huì)損壞ADC呢？
受到影響；目前我們想確認(rèn)切換PGA是否會(huì)對(duì)ADC造成影響，在切換過(guò)程中環(huán)路上依然存在電流，從一個(gè)大電流比如100A，1PGA切換到4PGA或8PGA(4PGA的最大量程是50A，8PGA的最大量程是25A)，我們正常測(cè)試是切換是沒(méi)有發(fā)現(xiàn)有損壞情況，我們需要確認(rèn)
發(fā)表于 11-13 07:51
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發(fā)表于 07-09 06:39
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