如何確定所選CRC的檢測數據是否損壞
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
IC
+關注
關注
36文章
5986瀏覽量
176253 -
數據
+關注
關注
8文章
7149瀏覽量
89601 -
檢測
+關注
關注
5文章
4514瀏覽量
91758
發布評論請先 登錄
相關推薦
如何判斷熱電偶是否損壞
熱電偶是一種常用的溫度測量設備，它通過兩種不同金屬或合金的接點在不同溫度下產生電動勢（電壓）來測量溫度。熱電偶損壞可能會導致溫度讀數不準確，影響生產過程和產品質量。以下是一些判斷熱電偶是否損壞的方法
ADS8688特別容易損壞的原因？
波形均正常，僅僅SDO波形異常（如圖，看起來是有數據輸出的）。
這是否意味著該芯片數字輸入端接收都是正常的，僅數字輸出端壞了？如此現象，請問能否結合芯片內部結構，分析出浪涌進入的途徑和損壞原理，從而施加防范措施？TI公司
發表于 12-05 06:10
ADS131 PGA切換是否會損壞ADC呢？
受到影響；目前我們想確認切換PGA是否會對ADC造成影響，在切換過程中環路上依然存在電流，從一個大電流比如100A，1PGA切換到4PGA或8PGA(4PGA的最大量程是50A，8PGA的最大量程是25A)，我們正常測試是切換是沒有發現有損壞情況，我們需要確認
發表于 11-13 07:51
TAS5805內部的硬件CRC8對應標準的哪種? CRC校驗的數據是offset和value值嗎？
TAS5805 內部的硬件 CRC8 對應標準的哪種? CRC 校驗的數據是 offset 和 value 值嗎？用 PPC 加載文件計算出來的值和在線CRC計算工具計算的值不一樣。
發表于 10-12 06:19
怎么判斷磁性開關是否損壞
磁性開關是一種利用磁場變化來控制電路通斷的開關設備，廣泛應用于自動化控制系統、安全防護系統等領域。當磁性開關出現故障時，可能會導致整個系統無法正常工作，因此及時判斷磁性開關是否損壞非常重要。 一
如何判斷電容器是否損壞
判斷電容器是否損壞可以通過以下幾個方法： 一、目視檢查 1、外觀變形 ：檢查電容器外殼是否有變形、膨脹、漏液或燒焦痕跡，這些都是電容器損壞的明顯跡象。 2、連接端子 ：檢查連接端子
使用RTC內存的用戶區域來存儲值，發現某些區域已損壞或無法寫入，為什么？
我正在嘗試使用RTC內存的用戶區域來存儲值，但我發現某些區域已損壞或無法寫入。
我正在使用 NonOS SDK 2.2.1，并編寫了一個小程序來將隨機大小的數據塊寫入 RTC 用戶內存區域，然后
發表于 07-09 06:39
如何檢測TC39x的閃存損壞情況？
我想檢測 TC39x 的閃存損壞情況。 我參考了技術參考手冊，其中第 6 節（NVM Susbsystem）提到了閃存的 ECC 故障檢測。
它指出，當檢測到單位、雙位或多位錯誤等 E
發表于 06-03 08:22
電力補償電容是否損壞的判斷標準
電力補償電容的損壞可能會導致電力系統的效率下降，甚至會損壞其他設備。以下是一些判斷電力補償電容是否損壞的常見標準： 1、電容器外觀檢查： 首先，可以檢查電容器的外觀，包括外殼
這個CRC計算單元是如何基于固定的生成多項式(0x4C11DB7)來獲取給定數據緩沖區的CRC碼的？
這個CRC計算單元是如何基于固定的生成多項式(0x4C11DB7)來獲取給定數據緩沖區的CRC碼的？
7系列FPGA中的POST_CRC錯誤檢測與恢復策略
FPGA 在比特流被加載時計算 CRC 值，然后該值與在比特流加載結束時預期的 CRC 值進行比較。如果兩個值匹配，則FPGA 成功加載。
發表于 02-28 14:58
?1005次閱讀
RA MCU中的CRC模塊和使用方法
瑞薩RA單片機硬件CRC計算單元采用固定的多項式發生器來計算8位或者32位數據的CRC校驗值，對數據傳輸或數據存儲的一致性、完整性進行驗證。
發表于 02-26 11:45
?1062次閱讀
工商網監
評論