動態

• 發布了方案 2023-12-01 14:24

  inTEST ATS-710 車載芯片高低溫測試解決方案

  

  上海伯東美國 inTEST ThermoStream? 高低溫沖擊熱流儀, 為車載芯片提供穩定和高效的溫度測試解決方案, 保證車規產品的高安全性, 高可靠性和高穩定性, inTEST 高度適配各類測試平臺, 協助企業生產研發符合 AEC-Q100 可靠性認證的車載芯片.

  車載芯片 高低溫測試

  472瀏覽量

• 發布了方案 2023-12-01 14:13

  inTEST Sigma 高低溫試驗箱材料拉伸測試

  

  上海伯東代理美國 inTEST Sigma 高低溫試驗箱通過可設計的孔徑, 端口直接集成到拉伸測試裝置. 將溫度測試與拉伸測試相結合, 進行材料拉伸高低溫試驗. 溫度范圍 -185°C 至 500°C, 符合 ASTM, MIL-STD 測試要求.

  測試 設備 高低溫試驗箱

  312瀏覽量

• 發布了產品 2023-12-01 10:58

  inTEST Sigma M256 高低溫試驗箱

  

  產品型號：Sigma M256 產地：美國 腔室體積：255 L

  84瀏覽量

• 發布了產品 2023-12-01 10:55

  inTEST Sigma M170 高低溫試驗箱

  

  產品型號：Sigma M170 產地：美國 溫度范圍：-185°C 至 400°C 腔室體積：165 L

  82瀏覽量

• 發布了產品 2023-12-01 10:19

  inTEST Sigma M58 高低溫試驗箱

  

  產品型號：Sigma M58 產地：美國 寬溫度范圍：-185 °C 至 500°C 腔室體積：59 L

  106瀏覽量

• 發布了產品 2023-12-01 10:06

  inTEST Sigma M10 高低溫試驗箱

  

  產品型號：Sigma M10 產地：美國 寬溫度范圍：-185°C 至 500°C 腔室體積：10 L

  90瀏覽量

• 發布了產品 2023-12-01 09:39

  inTEST Sigma 高低溫試驗箱, 溫度環境試驗箱

  

  產品型號：Sigma 品牌：inTEST 產地：美國 溫度范圍：-185°至 +500°C

  311瀏覽量

• 發布了文章 2023-11-09 15:31

  氦質譜檢漏儀應用于半導體新材料和設備管道檢漏

  

  上海伯東提供半導體新材料和設備管道檢漏解決方案, 助力企業生產高質量的六氯乙硅烷 Si?Cl?. 六氯乙硅烷廣泛應用于有機硅化合物的合成, 電子半導體材料制造.

  半導體 新材料 設備

  463瀏覽量

• 發布了文章 2023-08-07 14:35

  氦質譜檢漏儀應用于真空鍍膜生產線

  

  Si3?N4 氮化硅鍍膜系統. 在某次維護之后, 抽真空時只能達到 80 mbar 的壓力. 為了在如此高的工作壓力之下依然能夠進行檢漏, 推薦選用上海伯東氦質譜檢漏儀 ASM 340. ASM 340 檢漏儀特有的定性大漏檢測模式 ( 在 100 hPa 即可進行大漏測試 ) , 借助此模式即可定位存在的漏點.

  檢漏儀 模式 系統

  963瀏覽量

• 發布了文章 2023-08-07 14:28

  Gel-Pak VR真空釋放盒應用于50V GaN HEMT 芯片

  

  50V GaN HMET 芯片采用上海伯東美國 Gel-Pak VR 真空釋放盒進行包裝, Gel-Pak 采用了無殘膠的膜技術, 可以將芯片牢固地固定住, 避免在運輸和儲存過程中因為碰撞等造成芯片的損害.

  GaN SiC 芯片

  807瀏覽量