中圖儀器文章

• 一文讀懂：移動橋架型三坐標，如何在多領域重塑生產質量？2025-03-07 15:09

  

  移動橋架型是三坐標測量機最常用的結構。Z軸為主軸在垂直方向移動，廂形架導引主軸沿水平梁在X方向移動，水平梁垂直Z軸且被兩支柱支撐于兩端，梁與支柱形成“橋架”，橋架沿著兩個在水平面上垂直X和Z軸的導槽在Y軸方向移動。梁的兩端被支撐，可得到最小的撓度，比懸臂型精度高。移動橋架型三坐標測量機是一種常見的精密測量設備，以下是其優點、具體應用及對企業的價值所在：一、優

  三坐標機 測量機 測量設備 291瀏覽量

• 精準無界，光啟未來|中圖儀器邀您共赴2025慕尼黑上海光博會2025-03-04 15:46

  

  2025慕尼黑上海光博會即將開啟！中圖儀器作為中國精密尺寸測量領域的創新標桿，將在本次展會集中展示覆蓋微納米級到百米級尺寸的全產業鏈測量解決方案，以硬核科技助力工業檢測技術智能化、高效化發展。誠邀您蒞臨展會現場，解鎖尖端測量技術與行業應用深度融合的無限潛能！2025慕尼黑上海光博會時間：2025年3月11-13日地點：上海新國際博覽中心展位：E7館7336展

  儀器 光博會 慕尼黑 313瀏覽量

• 掃描電子顯微鏡（SEM）有哪些分類？2025-03-04 10:01

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）有多種分類方式，具體如下：1、按電子槍種類分類（1）鎢絲槍掃描電鏡：使用熱鎢極電子槍，陰極為能加熱的鎢絲。優點是結構簡單、成本較低、適用性強、維護費用低；缺點是亮度有限，束斑直徑較大，分辨率相對較低，一般為6nm左右。（2）六硼化鑭掃描電鏡：用六硼化鑭陰極替代鎢絲陰極。其亮度比熱鎢絲陰極電子槍高一個數量級，可使分辨率提高到4-5nm，

  SEM 掃描電鏡 電子顯微鏡 360瀏覽量

• 掃描電子顯微鏡（SEM）類型和原理2025-03-04 09:57

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產生的電子束經聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進行逐點掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發出二次電子、背散射電子等信號。其中二次電子對樣品表面的形貌非常敏感，這些二次電子被探測器收集，轉換為電信號，再經過處理后在顯像管或顯示屏上形成反映樣品表面形貌的三維圖像。應用場景：主要用于觀察樣品的表面形貌，如材料的斷口、

  SEM 掃描電鏡 顯微鏡 電子顯微鏡 572瀏覽量

• 精密幾何測量技術在電子芯片制造中的重要性2025-02-28 14:23

  

  精密幾何測量技術在電子芯片制造中具有極其重要的地位，主要體現在以下幾個方面：1、確保芯片性能-晶體管性能優化：在芯片中，晶體管的尺寸和結構對其性能至關重要。通過精密幾何測量技術，能夠精確測量晶體管的柵極長度、寬度、氧化層厚度等幾何參數。例如，在7nm制程中，柵極氧化層厚度每減少0.1nm，漏電流可能呈指數級增加。精確測量這些參數可確保晶體管性能穩定，如實現低

  半導體晶圓 測量 電子芯片 粗糙度 294瀏覽量

• 激光跟蹤儀的檢測功能與應用實例2025-02-24 09:48

  

  激光跟蹤儀的檢測功能及應用實例如下：1、檢測功能-三維坐標測量：能精確測量目標點的三維坐標，確定物體在空間中的位置和姿態，為后續的尺寸測量、形位公差檢測等提供基礎數據。-尺寸測量：可測量物體的長度、寬度、高度、直徑等尺寸參數，通過測量物體上多個特征點的坐標，計算出相應的尺寸值，檢測物體尺寸是否符合設計要求。-形位公差檢測：能檢測直線度、平面度、圓度、圓柱度、

  檢測 激光測量 激光跟蹤儀 336瀏覽量

• SEM是掃描電鏡嗎？2025-02-24 09:46

  

  SEM是掃描電鏡，英文全稱為ScanningElectronMicroscope。以下是關于掃描電鏡的一些基本信息：1、工作原理：掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測電子與樣品相互作用產生的各種信號來獲取樣品表面微觀結構信息的電子顯微鏡。電子槍發射出的電子束，經過電磁透鏡聚焦和加速后，形成一束高能量的細電子束，掃描線圈控制電子束在樣品表面進行逐行掃

  SEM 掃描電鏡 電子束 378瀏覽量

• 掃描電鏡能測定什么元素？2025-02-20 11:40

  

  掃描電鏡本身主要用于觀察樣品的微觀形貌，但與能譜儀（EDS）或波譜儀（WDS）等設備聯用后，可用于測定多種元素，具體如下：能譜儀（EDS）可測定的元素-輕元素：一般能測定原子序數大于等于4的元素，如鈹（Be）、硼（B）、碳（C）、氮（N）、氧（O）等。這些輕元素在許多材料中都廣泛存在，例如碳元素在各類有機材料、碳納米材料中是主要組成元素；氧元素在金屬氧化物、

  SEM 掃描電鏡 測量 657瀏覽量

• 掃描電鏡SEM是什么？2025-02-20 11:38

  

  掃描電鏡SEM（ScanningElectronMicroscope）是一種用于觀察和分析樣品微觀結構和表面形貌的大型精密分析儀器，以下從其構造、工作過程、應用等方面進行具體介紹：一、基本構造-電子光學系統：由電子槍、電磁透鏡等組成，用于產生并會聚電子束，使電子束具有足夠的能量和強度，以轟擊樣品表面。電子槍發射出高能電子束，電磁透鏡則對電子束進行聚焦和調節，

  SEM 分析儀器 掃描電鏡 650瀏覽量

• 影響激光跟蹤儀的精度因素有哪些？2025-02-20 11:35

  

  影響激光跟蹤儀精度的因素主要有以下幾個方面：一、儀器自身因素-激光發射系統-激光束發散角：發散角小的激光束更集中，傳播中擴散慢，反射光信號強，測距精度高；發散角過大，信號易變弱，影響精度。-激光器穩定性：激光器的強度和頻率穩定度會影響測量結果，不穩定會使測量值波動。-角度測量系統-角度編碼器精度：角度編碼器用于測量激光束的水平和垂直角度，其精度決定了目標點角

  儀器 激光測量 激光跟蹤儀 412瀏覽量