隨著制造行業(yè)的再一次崛起，嵌入式軟件目前在軟件行業(yè)中越來(lái)越多，2004年軟件行業(yè)最火爆的三個(gè)項(xiàng)目是：嵌入式開(kāi)發(fā)，軟件培訓(xùn)以及軟件外包。

由于嵌入式軟件與其他產(chǎn)品息息相關(guān)，這給嵌入式軟件的測(cè)試工作帶來(lái)了極大的困難，軟件的測(cè)試工作不能夠等程序燒到或者固化到芯片中才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試，這就太晚了，本文結(jié)合自己的一些經(jīng)驗(yàn)提出自己的看法，希望大家一起討論。

搞好開(kāi)發(fā)前的原型設(shè)計(jì)

原型開(kāi)發(fā)目前在開(kāi)放流程中受到了更多的重視，同樣嵌入式軟件也是非常需要的。比如說(shuō)一個(gè)錄音機(jī)版面的設(shè)計(jì)，可以定義好版面上面的按鍵以及每個(gè)按鍵的功能。然后畫(huà)出狀態(tài)轉(zhuǎn)化圖，寫(xiě)清楚每個(gè)按鍵何時(shí)可以觸發(fā)，觸發(fā)后由哪個(gè)狀態(tài)轉(zhuǎn)入別的其他狀態(tài)。原型設(shè)計(jì)好了，組織專家，工程師進(jìn)行評(píng)審，盡可能多的找出原型中不合理需要改進(jìn)的地方；改進(jìn)以后，有必要可以進(jìn)行再一次的評(píng)審工作。每一次評(píng)審工作需要記錄評(píng)審建議是否需要解決？如何解決以及實(shí)際解決情況。

進(jìn)行設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)工作

設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)工作需要設(shè)立里程碑。每個(gè)里程碑結(jié)束前都需要進(jìn)行評(píng)審工作。由于嵌入式軟件的運(yùn)行環(huán)境不同，受到很大的限制，所以在進(jìn)行開(kāi)發(fā)之前需要進(jìn)行編程規(guī)范工作，編碼的時(shí)候需要嚴(yán)格按照編碼要求進(jìn)行工作，每一個(gè)條款都需要認(rèn)真執(zhí)行和審查。現(xiàn)在業(yè)界提供許多關(guān)于嵌入式軟件開(kāi)發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)，大家可以通過(guò)網(wǎng)站搜索，最好能夠購(gòu)買(mǎi)業(yè)界一些比較著名的標(biāo)準(zhǔn)。

目前市場(chǎng)上也提供許多關(guān)于代碼檢驗(yàn)的工具。為什么一直提出代碼編碼規(guī)范？這是因?yàn)榍度胧杰浖馁|(zhì)量與代碼規(guī)范是十分重要的。舉個(gè)例子，著名的阿里亞火箭失事，專家進(jìn)行詳細(xì)的調(diào)查工作，最后發(fā)現(xiàn)問(wèn)題出在代碼上。代碼是符合標(biāo)準(zhǔn)C語(yǔ)言的，但是在運(yùn)行過(guò)程中由于程序員將一個(gè)長(zhǎng)整形變量賦給了一個(gè)短整形變量，造成內(nèi)存溢出，這是導(dǎo)致火箭失事的關(guān)鍵所在。

（
int8 a;
int32 b;
…
a=b;
）

代碼測(cè)試

當(dāng)程序開(kāi)發(fā)完畢，需要進(jìn)行測(cè)試工作，但是在程序燒入或固化芯片之前如何進(jìn)行測(cè)試呢？這里介紹一種方法：比如程序時(shí)使用C語(yǔ)言進(jìn)行開(kāi)發(fā)的，請(qǐng)將所有的操作都封入在函數(shù)中，函數(shù)的定義都在相應(yīng)的頭文件中定義(.h),然后設(shè)計(jì)測(cè)試用例，書(shū)寫(xiě)測(cè)試代碼，測(cè)試代碼包含相應(yīng)頭文件，可以對(duì)函數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。測(cè)試案例往往分為兩類：一種是功能測(cè)試，主要測(cè)試函數(shù)的功能；另外一種是錯(cuò)誤參數(shù)測(cè)試，主要檢查程序?qū)M(jìn)行錯(cuò)誤參數(shù)進(jìn)行檢驗(yàn)。

功能測(cè)試

這種測(cè)試的運(yùn)行往往需要通過(guò)仿真器輔助完成，比如類似錄音機(jī)軟件程序，分別測(cè)試播放，加大（減小）音量，停止，暫停（取消暫停），快速前進(jìn)，快速后退，錄音對(duì)應(yīng)的功能是否能夠正常運(yùn)行。

錯(cuò)誤測(cè)試

主要測(cè)試函數(shù)在調(diào)用參數(shù)無(wú)效的時(shí)候，系統(tǒng)是否會(huì)按照規(guī)定返回正確的錯(cuò)誤代碼。比如

function test(int Tid)

測(cè)試的時(shí)候給出一個(gè)錯(cuò)誤的序列號(hào)(Tid),看程序是否返回正確的錯(cuò)誤代碼。

對(duì)于函數(shù)function test1(int t)需要進(jìn)行特出的處理

t 定義為1-100

我們可以按照邊界值法和等價(jià)分類法進(jìn)行測(cè)試

上邊界:-1,0,1

下邊界：99，100，101

中邊界：50

所以測(cè)試用例集合為（-1,0,1,50,99,100,101）,其中-1，101為錯(cuò)誤測(cè)試用例，其他為正確測(cè)試用例

功能組合測(cè)試

在進(jìn)行完功能測(cè)試后，我們可以進(jìn)行功能組和測(cè)試，還是拿錄音機(jī)程序做個(gè)例子。我們可以定義將音量增加到10，快速前進(jìn)，檢查音量，看是否還是為10；播放，暫停，試圖調(diào)整音量，檢查調(diào)整音量的功能是否可以被成功執(zhí)行。

燒入固化測(cè)試

當(dāng)以上測(cè)試都通過(guò)后可以將程序燒入芯片或者固化，進(jìn)行最后在實(shí)際環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試工作。

最后需要指出的是，雖然目前市場(chǎng)上嵌入式測(cè)試工具比較多，最有名氣的就是CodeTest,但是價(jià)格都非常昂貴，一般都需要上千美金，中小型企業(yè)可以根據(jù)自己的情況多想辦法，如果大家有啥好的別的方法，可以告訴我（xianggu@yahoo.com）,大家一起討論。希望中國(guó)的嵌入式產(chǎn)品質(zhì)量越來(lái)越高。

STM32/STM8

意法半導(dǎo)體/ST/STM