利用吉時(shí)利源表2450實(shí)現(xiàn)二極管I-V特性分析

吉時(shí)利源表廣泛應(yīng)用于低壓/電阻，LIV， IDDQ ，I-V特征分析，隔離度與引線電阻，溫度系數(shù)，正向電壓、反向擊穿、漏電流，直流參數(shù)測(cè)試，直流電源，HIPOT，介質(zhì)耐壓性等測(cè)試，是廣大院校、研究所及研發(fā)型企業(yè)的“新寵“，今天安泰測(cè)試Agitek就給大家分享一下吉時(shí)利源表熱門應(yīng)用之在I-V二極管特性分析的應(yīng)用。

概述

二極管是兩端口電子器件，支持電流沿著一個(gè)方向流動(dòng)（正向偏壓），并阻礙電流從反方向流動(dòng)（反向偏壓）。不過(guò)，有許多種類型的二極管，它們執(zhí)行各種功能，如齊納二極管、發(fā)光二極管（LED）、有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）、肖克利二極管、雪崩二極管、光電二極管等。每種二極管的電流電壓（I-V）特性都有所不同。無(wú)論在研究實(shí)驗(yàn)室還是生產(chǎn)線，都要對(duì)封裝器件或在晶圓上進(jìn)行二極管I-V測(cè)試。

二極管I-V特性分析通常需要高靈敏電流表、電壓表、電壓源和電流源。對(duì)所有分離儀器進(jìn)行編程、同步和連接，既麻煩又耗時(shí)，而且需要大量機(jī)架或測(cè)試臺(tái)空間。為了簡(jiǎn)化測(cè)試，縮小機(jī)架空間，單一設(shè)備，如吉時(shí)利源表2450成為二極管特性分析的理想選擇，因?yàn)樗軌蛱?a target="_blank">供電流和電壓的源和測(cè)量。2450型儀器可以對(duì)不同數(shù)量級(jí)（從10～11A至1A）的源電壓和測(cè)量電流進(jìn)行掃描，這剛好符合二極管測(cè)試需求。這些測(cè)試可以通過(guò)總系自動(dòng)進(jìn)行，也可以通過(guò)大型觸摸屏輕松實(shí)現(xiàn)，用戶可以在觸摸屏上進(jìn)行測(cè)試設(shè)置，并呈現(xiàn)測(cè)試圖表。圖1給出吉時(shí)利源表2450對(duì)紅色LED進(jìn)行測(cè)試的電壓源和測(cè)得的電流，它與儀器輸入端的連接采用4線配置。

本文介紹了怎樣利用吉時(shí)利源表2450實(shí)現(xiàn)二極管I-V特性分析，重點(diǎn)是介紹了怎樣利用儀器前面板的用戶界面啟動(dòng)測(cè)試、繪制圖表并存儲(chǔ)測(cè)量結(jié)果，還介紹了怎樣通過(guò)總線實(shí)現(xiàn)測(cè)量自動(dòng)化。

二極管I-V測(cè)試

通常，二極管參數(shù)測(cè)試要求能在較寬范圍提供電流和電壓的源和測(cè)量。例如，從0V到大約1V對(duì)正向電壓掃描，作為結(jié)果的電流范圍從10～12A到1A。不過(guò)，實(shí)際數(shù)量級(jí)、I-V測(cè)試類型以及提取的參數(shù)取決于待測(cè)的具體二極管。為了測(cè)試LED，用戶可能想測(cè)試發(fā)光強(qiáng)度，作為應(yīng)用電流的一個(gè)功能，而測(cè)試齊納二極管的工程師可能希望知道在某個(gè)測(cè)試電流時(shí)的“鉗位”或齊納電壓。不過(guò)，在各種不同類型的二極管中，有許多測(cè)試常見的測(cè)試。

圖2給出典型二極管的I-V曲線，包括正向區(qū)、反向區(qū)和擊穿區(qū)，以及常見的測(cè)試點(diǎn)、正向電壓（VF）、漏電流（IR）和擊穿電壓（VR）。正向電壓（VF）測(cè)試涉及在二極管的正常工作范圍內(nèi)提供指定的正向偏置電流，然后測(cè)量作為結(jié)果的電壓降。漏電流（IR）測(cè)試確定二極管在反向電壓條件下泄漏的電流電平。其測(cè)試通過(guò)提供指定的反向電壓源，然后測(cè)量作為結(jié)果的漏電流。在反向擊穿電壓（VR）測(cè)試中，需要提供指定的反向電流偏置源，然后測(cè)量作為結(jié)果的二極管電壓降。