降低半導(dǎo)體制造成本的一個(gè)關(guān)鍵方法是采用更大直徑的晶圓。Si CMOS 制造在 90 年代經(jīng)歷了 150 毫米到 200 毫米的轉(zhuǎn)變,隨后在十年左右的時(shí)間里轉(zhuǎn)向了 300 毫米晶圓。
目前絕大多數(shù)功率 FET 的 SiC 生產(chǎn)是在 150 毫米直徑的晶圓上生產(chǎn)的。例如,從 150 毫米到 200 毫米直徑的晶圓,每個(gè)晶圓的管芯數(shù)量將增加大約 85%。
就組件的總成本而言,據(jù)估計(jì),對(duì)于 1.2-kV SiC MOSFET,襯底 + Epi 約占總成本的 50%,而對(duì)于 6.5-kV MOSFET,這一數(shù)字高達(dá)約 70%。1其他部分的晶圓加工成本預(yù)計(jì)在 150 毫米和 200 毫米晶圓之間大致相同。
幾家主要的 SiC 器件制造商現(xiàn)在正在尋求 200 毫米的 SiC 制造路徑。Wolfspeed 最近宣布其位于紐約馬西的 200 毫米 SiC 晶圓廠正式開(kāi)業(yè)。該工廠號(hào)稱是最大的 200 毫米 SiC 工廠,被認(rèn)為對(duì) Wolfspeed 在 SiC 功率 FET 市場(chǎng)的未來(lái)增長(zhǎng)至關(guān)重要,其中包括為 Lucid Motors 的電動(dòng)汽車提供一些關(guān)鍵的功率逆變器模塊。
在紐約州 5 億美元贈(zèng)款的協(xié)助下,這座完全自動(dòng)化的晶圓廠耗資約 10 億美元,隨著減少對(duì)化石燃料依賴的勢(shì)頭增強(qiáng),為滿足對(duì) SiC 功率模塊的強(qiáng)勁需求提供了途徑.
該市場(chǎng)的其他主要參與者也采取了類似的步驟:
早在 2021 年 7 月,意法半導(dǎo)體還宣布已在其位于瑞典的 Norstel 晶圓廠制造了其首款 200 毫米 SiC 晶圓。
全球巨頭英飛凌科技于今年 2 月宣布,將斥資超過(guò) 20 億歐元擴(kuò)大其 200 毫米 SiC 和 GaN 產(chǎn)能,將其位于奧地利菲拉赫的 150 毫米和 200 毫米硅生產(chǎn)線轉(zhuǎn)換為 SiC 和GaN 以及在馬來(lái)西亞的第三個(gè)晶圓廠也這樣做。
onsemi 于 2021 年 8 月收購(gòu)了 GT Advanced Technologies,增加了其內(nèi)部采購(gòu) 200 毫米起始 SiC 晶圓的能力。
2020 年 6 月,總部位于中國(guó)的三安集成電路 (Sanan IC) 在其湖南三安半導(dǎo)體工廠開(kāi)設(shè)了全國(guó)首條垂直集成的 SiC 生產(chǎn)線。三安集成電路最新的制造工廠位于湖南省長(zhǎng)沙高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū),投資 25 億美元,計(jì)劃到 2024 年在 200 毫米晶圓上生產(chǎn) SiC 器件。
要使 200 毫米體積的 SiC 生產(chǎn)成為成功的框架,需要克服幾個(gè)挑戰(zhàn)。SiC 的關(guān)鍵問(wèn)題之一是晶圓襯底通常是通過(guò)物理氣相傳輸 (PVT) 的各種修改之一形成的。生長(zhǎng)速率低且溫度接近 2,400?C,這使得該工藝比用于硅晶片生長(zhǎng)的液體熔化工藝昂貴得多。PVT 工藝中的缺陷和故障會(huì)限制最終的裸片良率。此外,生長(zhǎng)過(guò)程中的不均勻性要求 200 毫米晶圓襯底比 150 毫米對(duì)應(yīng)的襯底更厚。
GTAT 估計(jì) 200 毫米晶圓的厚度為 500 微米,而 150 毫米晶圓的厚度為 350 微米??紤]到 200 毫米 SiC 襯底的成本增加(與 150 毫米晶圓約 800 美元的成本相比,估計(jì)約為 1,300 至 1800 美元),200 毫米晶圓的總芯片成本實(shí)際上可能更高,至少在短期內(nèi),直到基板良率和制造成本得到改善(PGC 咨詢,2022 年 1 月)。在 5 到 7 年的時(shí)間里,對(duì)于 1.2 kV、100 A MOSFET,200 毫米襯底上的每片晶片成本應(yīng)該會(huì)提高,并比 150 毫米低約 20%(根據(jù)分析PGC 咨詢)。襯底+外延在總裸片成本中占較大組成部分的更高電壓級(jí)晶圓將看到更大的百分比改進(jìn)。
用于 SiC 生產(chǎn)的 Smart Cut 技術(shù)
Soitec 在 APEC 2022 會(huì)議上強(qiáng)調(diào)了一種顯示出前景的新方法。一段時(shí)間以來(lái),它一直在使用一種稱為 Smart Cut 的技術(shù)生產(chǎn) SOI 晶圓。這涉及使用高劑量 H 注入將晶圓的器件部分(?頂部 1 μm)從主晶圓上分離出來(lái),然后將其鍵合到處理晶圓上。已經(jīng)提出了一種類似的 SmartSiC 襯底制備方法,其中單晶 SiC 供體晶片被劈開(kāi),并且該頂部可能薄至 0.5 μm,被粘合到超高電導(dǎo)率多晶 SiC 處理晶片上。這方面的一些放大優(yōu)勢(shì)包括處理晶片的成本較低,其生產(chǎn)溫度比單晶對(duì)應(yīng)物低得多,以及增加處理晶圓襯底摻雜的能力,而不會(huì)隨之增加限制產(chǎn)量的晶體缺陷,正如在標(biāo)準(zhǔn)單晶晶圓上進(jìn)行的那樣。對(duì) SmartSiC 和標(biāo)準(zhǔn) SiC 襯底之間的 JBS 二極管進(jìn)行了比較,這些二極管在 SmartSiC 工藝流程中顯示出較低的電阻,而襯底缺陷率保持不變。
除了基板的改進(jìn),200 毫米還需要其他幾項(xiàng)制造改進(jìn)/升級(jí)。雖然硅常見(jiàn)的工藝步驟可以利用完全折舊的 200 毫米硅晶圓廠設(shè)備,但 SiC 生產(chǎn)和工藝制造有幾個(gè)獨(dú)特的步驟。其中之一是使用加熱的鋁注入進(jìn)行 p 型摻雜。領(lǐng)先的半導(dǎo)體工藝設(shè)備制造商應(yīng)用材料公司最近宣布推出其用于 150 毫米和 200 毫米 SiC 晶圓的新型 VISta 900 3D 熱離子注入系統(tǒng)。
應(yīng)用材料公司開(kāi)發(fā)的另一種工具是 Mirra Durum CMP 系統(tǒng),與機(jī)械研磨的 SiC 晶圓相比,該系統(tǒng)可將成品晶圓表面粗糙度降低 50 倍。其他用于 SiC 生產(chǎn)的獨(dú)特工具包括可以達(dá)到 1,700?C 以上溫度的摻雜劑激活退火工具,以及用于硅化物背接觸的激光退火工具。對(duì)于較大的晶片直徑,需要仔細(xì)管理晶片應(yīng)力,并且需要優(yōu)化工具和/或工藝條件。
參考
1阿加瓦爾等人。(2016 年)?!疤岣吣茉葱实膶拵栋雽?dǎo)體技術(shù)?!?材料科學(xué)論壇,卷。858,第 797-802 頁(yè)。
審核編輯 黃昊宇
評(píng)論