美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)于2012年9月18日至20日參加在上海光大會(huì)展中心舉辦的2012年汽車測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)。在此次汽車測(cè)試與質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)上面，NI聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴集中展示了在汽車領(lǐng)域多項(xiàng)前端應(yīng)用和解決方案。

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　　NI公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車OEM與一級(jí)供應(yīng)商所采用。因?yàn)榫哂蓄I(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強(qiáng)大高效的LabVIEW平臺(tái)，用戶可以創(chuàng)建適合多種應(yīng)用的解決方案。目前，NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車終端測(cè)試、TEST Cell的測(cè)量與控制、硬件在環(huán)、車載測(cè)試與記錄等幾大領(lǐng)域。在此次博覽會(huì)上NI帶來了下列幾項(xiàng)產(chǎn)品的展示:

　　· μs級(jí)電機(jī)高速仿真，為目前最熱門的新能源汽車的前期仿真和硬件在環(huán)應(yīng)用帶來突破性的進(jìn)展;

　　· CAN、LIN、FlexRay總線的綜合測(cè)試應(yīng)用;

　　· DIADem上的碰撞測(cè)試與分析

　　· 以模塊化儀器PXI以及嵌入式平臺(tái)CompactRIO為核心的多項(xiàng)應(yīng)用方案

　　與此同時(shí)，NI攜手幾家業(yè)界資深合作伙伴(北京恒潤(rùn)科技、蘇州凌創(chuàng)電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環(huán)、汽車綜合電子系統(tǒng)測(cè)試、車載數(shù)據(jù)記錄和汽車NVH測(cè)試等等提供了完整的解決方案。展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)多家合作伙伴也提供了他們對(duì)于整車廠商和一級(jí)供應(yīng)商提供的成熟解決方案。

　　除了產(chǎn)品展示之外，在展會(huì)首日應(yīng)組辦方邀請(qǐng)，NI資深行業(yè)工程師以“NI推動(dòng)汽車行業(yè)關(guān)鍵應(yīng)用的發(fā)展”為題作了主題報(bào)告，深入分析了當(dāng)天幾個(gè)熱門領(lǐng)域話題，包括新能源汽車及電氣化、燃油經(jīng)濟(jì)性提升、安全性與新26262標(biāo)準(zhǔn)、整車或發(fā)動(dòng)機(jī)臺(tái)架測(cè)試、及Telematics綜合測(cè)試等汽車電子的幾大發(fā)展趨勢(shì)，以及NI對(duì)應(yīng)提供的解決方案。同時(shí)NI的合作伙伴也就他們多年來在汽車行業(yè)的應(yīng)用作了深入介紹。

　　相信通過此次博覽會(huì)，客戶一定可以就NI在汽車電子測(cè)試領(lǐng)域的理念和產(chǎn)品有一個(gè)較全面的了解。