• 受控基線
  • 一個裝配/測試現(xiàn)場，一個制造現(xiàn)場
• 55°至125°C的擴(kuò)展溫度性能
• 增強(qiáng)的減少制造源（DMS）支持
• 增強(qiáng)型產(chǎn)品 - 更改通知
• 資格譜系^（1）
• 無輸出電容或任何數(shù)值或類型的電容器穩(wěn)定
• 輸入電壓范圍：1.7 V至5.5 V
• 超低壓差：40 mV典型值250 mA
• 帶或不帶可選輸出電容的出色負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)
• 新型NMOS拓?fù)涮峁┑头聪蛐孤╇娏?/li>
• 低噪聲：30μV _RMS 典型值（10 kHz至100 kHz）
• 0.5％初始精度
• 1％總體精度（線路，負(fù)載和溫度）
• 關(guān)斷模式下小于1μA最大I _Q
• 熱關(guān)斷和指定的最小/最大電流限制保護(hù)
• 多輸出電壓可用版本
  • 固定輸出1.2 V至5 V
  • 可調(diào)輸出1.2 V至5.5 V
  • 自定義輸出可用
• 應(yīng)用
  • 便攜式/電池供電設(shè)備
  • 開關(guān)電源的后監(jiān)管
  • 噪聲 - VCO等敏感電路
  • DSP，F(xiàn)PGA，ASIC和微處理器的負(fù)載點(diǎn)調(diào)節(jié)

^（1）符合JEDEC和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的元件認(rèn)證，確保在擴(kuò)展溫度范圍內(nèi)可靠運(yùn)行。這包括但不限于高加速應(yīng)力測試（HAST）或偏壓85/85，溫度循環(huán)，高壓釜或無偏HAST，電遷移，鍵合金屬間壽命和模塑化合物壽命。此類鑒定測試不應(yīng)被視為超出規(guī)定的性能和環(huán)境限制使用此組件的合理性。

所有商標(biāo)均為其各自所有者的財(cái)產(chǎn)