• 在一個盒式磁帶提供雙獨立來源
• 單模（SM）/多模（MM）輸出
• 內(nèi)部調(diào)制
• 與MAP-200符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的接口和IVI驅(qū)動程序使用時，可實現(xiàn)自動化

JDSU多應(yīng)用平臺（MAP-200）是一個光學(xué)測試和測量平臺，是光傳輸網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)測試的工具。當(dāng)今瞬息萬變的光通訊產(chǎn)品市場，需要在能夠提高生產(chǎn)率的技術(shù)和工具上進行投資，而即使在嚴(yán)格的環(huán)境下，MAP-200可擴展測試平臺也是合適之選。

基于上一代多應(yīng)用平臺（MAP），新MAP-200的不同之處在于將更多的模塊組合放在了這個密集和ju有可配置性的平臺上。無論是對于研發(fā)實驗室，還是產(chǎn)品生產(chǎn)線，MAP-200都是測試工具的you選擇，功能涵蓋從插入損耗測試到色散代價測試。

應(yīng)用

• 能夠?qū)饫w收發(fā)器和光纖收發(fā)組件進行測試
• 允許全面的無源/有源器件，激光以及放大器測試
• 便于10G和40G系統(tǒng)和子系統(tǒng)測試