電力調(diào)試ARM Cortex-M3和Cortex-M4應(yīng)用

　　您的應(yīng)用程序現(xiàn)在正常工作，但您仍然超出了您的預(yù)算。本文還向您展示如何調(diào)試該問(wèn)題。

　　電源調(diào)試是最近的一項(xiàng)創(chuàng)新，它為軟件開(kāi)發(fā)人員提供了關(guān)于嵌入式系統(tǒng)中軟件實(shí)現(xiàn)如何影響系統(tǒng)級(jí)功耗的信息。通過(guò)將源代碼耦合到功耗，啟用了電源優(yōu)化的測(cè)試和調(diào)優(yōu)。

　　對(duì)于幾乎所有市場(chǎng)領(lǐng)域的嵌入式系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，電池壽命是一個(gè)非常重要的因素——醫(yī)療、消費(fèi)電子、家庭自動(dòng)化等等。傳統(tǒng)上，功耗僅僅是硬件開(kāi)發(fā)人員能夠影響的設(shè)計(jì)目標(biāo)。但是，在一個(gè)主動(dòng)系統(tǒng)中，功耗不僅取決于硬件的設(shè)計(jì)，還取決于它的使用方式，而這又是由系統(tǒng)軟件控制的。

　　功率調(diào)試技術(shù)基于采樣功耗的能力，并將每個(gè)樣本與程序指令序列相關(guān)聯(lián)，因此與源代碼相關(guān)聯(lián)。難點(diǎn)之一是實(shí)現(xiàn)高精度采樣。用系統(tǒng)時(shí)鐘使用相同的頻率來(lái)取樣功耗是理想的，但是電力系統(tǒng)的電容會(huì)降低這種測(cè)量的可靠性。通常這不是一個(gè)問(wèn)題，因?yàn)閺能浖?a target='_blank' class='arckwlink_none'>開(kāi)發(fā)者的角度來(lái)看，它是電力消耗的源代碼和各種事件在程序的執(zhí)行而不是單個(gè)指令相關(guān)更有趣，所以所需要的分辨率遠(yuǎn)低于每一個(gè)樣本的指令。

　　Typically within the debug probe， a resistor is connected in series with the supply to the development board. The voltage drop across this resistor is measured， fed to a differential amplifier and then sampled by an A/D converter.

　　The key to accurate power debugging is a good correlation between the instruction trace and the power samples. The best correlation can be achieved if a complete instruction trace is available， as is the case for ARM MCUs with ETM （Embedded Trace Macrocell） support. The drawback with using ETM is that it requires a special debug probe and ETM support in the device itself.