前言 STM32全系列產品都具有CRC外設，對CRC的計算提供硬件支持，為應用程序節省了代碼空間。CRC校驗值可以用于數據傳輸中的數據正確性的驗證，也可用于數據存儲時的完整性檢查。在IEC60335中，也接受通過CRC校驗對FLASH的完整性進行檢查。在對FLASH完整性檢查的應用中，需要事先計算出整個FLASH的CRC校驗值（不包括最后保存CRC值的字節），放在FLASH的末尾。在程序啟動或者運行的過程中重新用同樣的方法計算整個FLASH的CRC校驗值，然后與保存在FLASH末尾的CRC值進行比較。 EWARM從v5.5版本之后開始支持STM32芯片的CRC計算。前面所說的計算整個FLASH的CRC校驗值并保存在FLASH末尾的過程，可以在IAR中完成。通過配置EWARM的CRC計算參數，自動對整個FLASH空間進行CRC計算，并將計算結果放到FLASH的末尾。本文中將介紹的就是如何配置IAR的CRC參數，使之與STM32的CRC硬件模塊保持一致。本文中的例子都基于STM32F072進行。 STM32的CRC外設 CRC校驗值的計算采用多項式除法，可以通過除數和被除數進行異或運算實現。這種方法非常適合通過硬件電路來實現。 使用STM32CRC外設時，你要考慮的內容包括：采用哪個CRC生成多項式，輸入數據（要進行校驗的數據）和初始值。 1.生成多項式 默認使用CRC32多項式：0x4C11DB7 部分芯片支持可編程的多項式，比如STM32F3，STM32F0，STM32L0 2.初始值 STM32的CRC初始值默認為0xFFFFFFFF，STM32F3，STM32F0，STM32L0系列可以修改初始值 3.輸入/輸出數據的反轉 STM32F3，STM32F0，STM32L0系列還提供了對輸入/輸出數據進行反轉的功能。 默認不對輸入數據和輸出數據進行位反轉 ? 對輸入數據的位反轉操作可以設置為按字節/半字 /字為單元進行操作。例如輸入數據為0x1A2B3C4D, - 每個字節內逐位反轉，結果是0x58D43CB2 - 每半字內逐位反轉，結果是0xD458B23C - 每個字長內逐位反轉，結果是0xB23CD458 ? 對輸出數據的位反轉。 - 例如輸出數據為0x11223344,反轉后為0x22CC4488 IAR的CRC配置 1.修改Link文件 指定checksum在FLASH中的存儲位置，在Link文件中增加下面語句。 該語句指定將CRC的值放在FLASH的末尾位置。是整個FLASH空間的末尾，不是應用程序的代碼末尾。這樣，CRC值的位置就是固定的。不會隨代碼大小而變化。 2.配置Checksum頁面的參數 IAR Checksum頁說明（v6.4及以上） IAR的checksum頁面分為兩個部分。 第一部分，也就是紅線圈出的部分。定義了FLASH中需要計算CRC的范圍和空閑字節填充值。 剩下的部分，就是對checksum計算參數的設定部分。 Checksum size ：選擇checksum的大?。ㄗ止潝担? Alignment：指定checksum的對齊方式。不填的話默認2字節對齊。 Algorithm：選擇checksum的算法 Complement：是否需要進行補碼計算。選擇“Asis”就是不進行補碼計算。 Bit order：位輸出的順序。MSB first，每個字節的高位在前。LSB first，每個字節的低位在前。 Reverse byte order within word： 對于輸入數據，在一個字內反轉各個字節的順序。 Initial value： checksum計算的初始化值 Checksum unit size ：選擇進行迭代的單元大小，按8-bit，16-bit還是32-bit進行迭代。 3.STM32 CRC外設使用默認配置時IAR的配置 STM32CRC外設的配置： POLY= 0x4C11DB7（CRC32） Initial_Crc = 0Xffffffff 輸入/輸出數據不反轉 輸入數據：0x08000000~0x0801FFFB。(最后4個字節用來放計算出的CRC值) 具體使用中我們可以根據實際應用需求參照上面介紹做相應配置即可。 本文轉載自 轉載地址： 聲明：本文為轉載文章，轉載此文目的在于傳遞更多信息，版權歸原作者所有，如涉及侵權，請聯系小編進行處理。 (mbbeetchina)