電子元器件的質(zhì)量與可靠性軍用標準體系
10.2.1 質(zhì)量與可靠性軍用標準體系
軍用電子元器件的質(zhì)量與可靠性軍用標準是當今我國軍用電子元器件貫徹國家軍用標準的主要依據(jù)，也是軍用電子元器件研制、生產(chǎn)產(chǎn)品的質(zhì)量認證、可靠性評價的重要依據(jù)。已公布的軍用電子元器件合格產(chǎn)品目錄（QPL）中產(chǎn)品的鑒定，正準備實施發(fā)布的軍用電子元器件合格生產(chǎn)廠目錄（QML）的生產(chǎn)線質(zhì)量認證等，也都是以相應的軍用標準為依據(jù)的。目前為保證產(chǎn)品質(zhì)量并與國際標準接軌而推行的ISO9000和ISO14000質(zhì)量體系認證，也完全是依據(jù)ISO9000(GB/T19000)和ISO14000標準來進行的。
我國軍用電子元器件國家軍用標準的制定是從20世紀80年代初期開始的。我國第一個軍用電子元器件國家軍用標準GJB33-85（半導體分立器件總規(guī)范）是1985年頒發(fā)的。到目前為止，我國已基本完成了能覆蓋主要軍用電子元器件門類的國家軍用標準和行業(yè)軍用標準的制定，以及幾乎涉及到所有軍用電子元器件門類的企業(yè)軍用標準的制定。所以，從應用標準的角度說，我國已基本形成了由國家軍用標準、行業(yè)軍用標準和企業(yè)軍用標準為主要構成的軍用電子元器件軍用標準體系。這一體系為我國“八五”、“九五”期間軍用電子元器件貫徹國軍標和科研試制成果的取得，起到了卓有成效的支撐保障作用。
10.2.2 質(zhì)量與可靠性標準體系構成
若從軍用電子元器件質(zhì)量與可靠性軍用標準的技術內(nèi)涵來分析軍用標準體系的構成，現(xiàn)在一般公認為軍用標準體系應由三個層次來構成。第一層次為質(zhì)量與可靠性的基礎標準，第二層次為質(zhì)量與可靠性的保證標準，第三層次為質(zhì)量與可靠性的技術方法標準。
1.?基礎標準
一般包括定義、術語；通用規(guī)則；分類……等，現(xiàn)舉例如下：?
定義與術語：
GJB 1405-92? 質(zhì)量管理術語
GJB 2279???? 熱電子術語
GJB 2715???? 國防計量通用術語
通用規(guī)則：
GJB/Z 35-93?? 元器件降額準則
GJB/Z 69-94?? 軍用標準的選用和剪裁導則
GJB 379A-92?? 質(zhì)量管理手冊編制指南
GJB 1923-94?? 軍用數(shù)據(jù)元素定義表達的規(guī)則
GJB 2418-95?? 軍用文獻主題詞標引通則
GJB 299A????? 電子設備可靠性預計手冊
GJB 450?????? 裝備研制與生產(chǎn)的可靠性通用大綱
GJB 368?????? 裝備維修性通用規(guī)范
分類：
GJB 1825-93?? 軍用標準物質(zhì)分類與代碼
GJB 832-90??? 軍用標準文獻分類法
GJB/Z 37-93?? 軍用電阻器和電位器系列型譜
GJB/Z 38-93?? 軍用電容器系列型譜
GJB/Z 39-93?? 軍用繼電器系列型譜
GJB/Z 40-93?? 軍用真空電子器件系列型譜
GJB/Z 41-93?? 軍用半導體分立器件系列型譜
GJB/Z 42-93?? 軍用微電路系列型譜
2.?保證標準
保證標準包括質(zhì)量與可靠性保證大綱、統(tǒng)計過程控制（SPC）體系、計量確認體系、生產(chǎn)線認證要求、產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性保證要求……等。現(xiàn)舉例如下：
GJB 546A??? 電子元器件質(zhì)量保證大綱
GJB 1406??? 產(chǎn)品質(zhì)量保證大綱要求
GJB 3014-97? 電子元器件統(tǒng)計過程控制（SPC）體系
GJB 2823-97? 電子元器件產(chǎn)品出廠平均質(zhì)量水平（PPM）評定方法
GJB 2712???? 測量設備的質(zhì)量保證要求、計量確認體系
GJB 1208-91? 微電路認證要求
GJB 2439-95? 混合集成電路生產(chǎn)線與設施認證要求
GJB 33A???? 半導體分立器件總規(guī)范
GJB 597A??? 半導體集成電路總規(guī)范
GJB 2438??? 混合微電路總規(guī)范
GJB 65A???? 有可靠性指標的電磁繼電器總規(guī)范
GJB 63A???? 有可靠性指標的固體電介質(zhì)鉭電容總規(guī)范
GJB 923????? 半導體分立器件外殼總規(guī)范
GJB 1420???? 半導體集成電路外殼總規(guī)范
GJB 2440???? 混合集成電路外殼總規(guī)范
GJB 597/1-88 半導體集成電路CMOS計數(shù)器/分類器詳細規(guī)范
GJB 597/2A?半導體集成電路CMOS與門與非門詳細規(guī)范?
GJB 597/5A? 半導體集成電路運算放大器詳細規(guī)范
3.? 技術方法標準
技術方法標準包含有質(zhì)量與可靠性評價方法與程序、失效分析方法與程序、可靠性增長評估方法……等。現(xiàn)舉例如下：
??? GJB 128????? 半導體分立器件試驗方法
??? GJB 360????? 電子元件試驗方法
??? GJB 548????? 微電子器件試驗方法和程序
??? GJB 616????? 電子管試驗方法
??? GJB 1487???? 激光光學元件測試方法
??? GJB/E 77???? 可靠性增長管理手冊
??? GJB 1407???? 可靠性增長試驗
??? GJB 1788???? 紅外探測器試驗方法
??? GB/T 15297?? 微電路模塊機械和氣候試驗方法（國家標準）
??? GB/T 1772??? 電子元器件失效率試驗方法（國家標準）
??? GB/T 4619??? 液晶顯示器件測試方法（國家標準）
??? GB/T 16304?? 壓電陶瓷電場應變特性測試方法（國家標準）
??? GB/T 16526?? 封裝引線間電容和引線負載電容測試方法（國家標準）?
10.2.3 國外質(zhì)量與可靠性標準簡介
1.? IEC標準
國際電工委員會IEC的宗旨就是促進整個電工技術（包括電子工業(yè)）的國際標準化。它在1908年成立，已有42個國家參加，設有81個技術專業(yè)委員會（TC）和123個分技術委員會（SC）。1980年國際關稅貿(mào)易標準規(guī)則的批準，使各國家普遍感到本國標準和技術基準必需與國際標準一致，因此各國在制定標準時，都以IEC標準作為基準。
與半導體器件有關的專業(yè)技術委員會有：
??? TC 47?? 半導體器件
??? TC 50?? 環(huán)境試驗
與半導體器件有關的標準有：
IEC 68?? 基本環(huán)境試驗方法
IEC 695? 耐久性試驗
IEC 147? 半導體器件定額、特性及測試方法通則
IEC 747? 半導體分立器件
IEC 748? 集成電路
2.? ISO標準
國際標準化組織ISO是由各國標準化團體（ISO成員）組成的世界性聯(lián)合會。制定國際標準的工作是由ISO的專業(yè)技術委員會（TC）來完成。各ISO成員（官方的或非官方的）若對某專業(yè)技術委員會已確立的標準項目感興趣，均有權參加該專業(yè)委員會的工作。在電工技術標準化方面，ISO與IEC保持著密切的合作關系。
ISO9000系列標準已被我國和我軍直接引用，已作為對電子元器件質(zhì)量體系認證依據(jù)的標準，做到了與國際標準完全接軌，說明我國的質(zhì)量體系認證工作已推向了新階段。
下面列出ISO9000系列標準的標題供參考：
ISO 8402：1994 質(zhì)量管理和質(zhì)量保證術語