ZnO壓敏電阻工作時總是承受一穩(wěn)態(tài)工作電壓，它的壽命是由漏電流IR的大小，以及它隨溫度、電壓和時間的增加而增加決定的。由于IR的增加，不易散失的熱量使壓敏電阻的溫度迅速上升。在維持初始的穩(wěn)態(tài)之后，很快就達到了可能熱擊穿的條件，它的使用壽命也就結束了。
文章綜述了ZnO壓敏電阻的熱穩(wěn)定條件，壓敏電阻的壽命，長期荷電壽命的預測。
2? 熱穩(wěn)定性條件
通常預測壽命的方法是假定在給定溫度和施加電壓的情況下，當電流或功率達到臨界值時，壽命就結束了[1~3]。
Gupta假定當壓敏電阻達到了極限功率密度(PL)，定義為產生的功率(PG)超過了耗散功率(PD)那一點，或者
PG＞PD??????????????????????????????????????? (1)
且
???????????????????????????? (2)
????????????????????? (3)
式中，當x<1時，xE0.5=VSS是穩(wěn)定電壓，單位kV/cm；
IR ——漏電流的電阻分量mA/cm2；
A和h ——壓敏電阻的面積(cm2)和厚度(cm)；
λ ——壓敏電阻的散熱系數(shù)W/cm2·℃；
RT ——壓敏電阻的熱阻 ℃/W；
S ——壓敏電阻的總表面積；
T和TS ——壓敏電阻圓片和周圍的溫度(T>TS )；
PG和PD以W計量， PG具有指數(shù)溫度關系， PD具有線性溫度關系。
利用式(2)和(3)，熱穩(wěn)定性條件在圖1中用圖解法插述。
2.1 恒定工作電壓
對于施加恒定工作電壓，產生和耗散的曲線在點B和點C相互交叉，在那里產生的熱量等于耗散的熱量。因而，在兩點之間耗散的熱量總是大于產生的熱量，而由于瞬時電壓過載，壓敏電阻經歷了一個瞬時的向較高溫度偏移后，總是能夠返回它的穩(wěn)態(tài)工作點B。
如果瞬態(tài)值大到壓敏電阻的溫度超過了穩(wěn)態(tài)下C點的溫度（圖1(a)），那么產生的熱將大于耗散的熱，壓敏電阻將熱擊穿并被損壞。
B和C兩點間的區(qū)域是壓敏電阻的穩(wěn)定范圍。
2.2 工作電壓增加
當施加電壓增加到V2……VL時，如圖1(b)所示，將會有：
(1) 穩(wěn)態(tài)點B和不穩(wěn)態(tài)點C之間的溫差漸漸減少，壓敏電阻所能吸收的因瞬時過載而產生的能量減少；
(2)當產生的功率達到由有PG線與曲線PD的切點定義的極限功率PL時，壓敏電阻就不能吸收任何瞬間放電。在大于限制電壓VL的任何外電壓下，壓敏電阻都將被熱擊穿。
所以對給定功率密度極限，確定外加電壓的最大極限，這對設計是很有益處的。
2.3 工作溫度上升
產生的功率隨溫度的增加而增加，將出現(xiàn)以下兩種情況：
(1) 當外加電壓保持一定，工作溫度上升（如在夏季和加速壽命試驗時產生的情況）時，產生的功率將如圖1(c)所示那樣增加，那么壓敏電阻將在新的平衡點D而不是C點處工作。
(2) 在更高的（穩(wěn)態(tài)）功率發(fā)生情況下，對于施加給壓敏電阻的任何超載狀態(tài)，壓敏電阻的承受能力將降低，直到在某一臨界溫度TC時，壓敏電阻被擊穿。
在這兩種情況下，極限功率越高，壽命就越長。極限功率的大小很明顯是隨熱傳輸條件而變化的，但從(0.01~0.10)W/cm3范圍內是在設計目標之內的。在該范圍的低端所選擇的值代表了最差情況的條件，在較高端所選擇的值代表更好一些的設計條件。