眾所周知，在離開被測目標3λ～5λ（λ為工作波長）距離上測量該區域電磁場的技術稱為近場測量技術。如果被測目標是輻射器，則稱為輻射近場測量；若被測目標是散射體，則稱為散射近場測量；對測得散射體的散射近場信息進行反演或逆推就能得到目標的像函數，這就是目標近場成像。但是，截止目前為止，關于輻射、散射近場測量以及近場成像技術溶為一體的綜述性文章還未見到公開的報導，這對從事這方面研究的學者無疑是一種遺憾。為使同行們能全面地了解該技術的發展動態，該文概述了近幾十年來關于輻射、散射近場測量及近場成像技術前人所做的工作及其最新進展，并指出了未來研究的主要方向。

　　1、輻射近場測量輻射近場測量

　　是用一個已知探頭天線（口徑幾何尺寸遠小于1λ）在離開輻射體（通常是天線）3λ～5λ的距離上掃描測量（按照取樣定理進行抽樣）一個平面或曲面上電磁場的幅度和相位數據，再經過嚴格的數學變換計算出天線遠區場的電特性。當取樣掃描面為平面時，則稱為平面近場測量；若取樣掃描面為柱面，則稱為柱面近場測量；如果取樣掃描面為球面，則稱為球面近場測量。其主要研究方法為模式展開法，該方法的基本思想為：空間任意一個時諧電磁波可以分解為沿各個方向傳播的平面波或柱面波或球面波之和；主要研究成果及進一步要解決的問題如下所述。

　　1.1、輻射近場測量的發展現狀輻射近場測量的研究起始于50年代，70年代中期處于推廣應用階段（商品化階段）。目前，分布在世界各地的近場測量系統已有100多套。該技術的基本理論已基本成熟，這種測量方法的電參數測量精度比常規遠場測量方法的測量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在軍用、民用中都顯示出了它獨特的優越性。

　　1.2、輻射近場測量研究的主要成果幾十年來，輻射近場測量的研究在以下4個方面取得了突破性的進展：

　　（1）常規天線電參數的測量天線近場測量可以給出天線各個截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。

　　（2）低副瓣或超低副瓣天線的測量天線方向圖副瓣電平在-28～-35 dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40 dB的天線稱為超低副瓣天線。對它們的測量要用到“零探頭”技術，據文獻報導，副瓣電平在-40 dB以上時，測量精度為±3 dB，副瓣電平為-55 dB時，測量精度為 ±5 dB。