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標(biāo)簽 > 可靠性
元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)在一定時(shí)間內(nèi)、在一定條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。可通過(guò)可靠度、失效率、平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。
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在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng),公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng),...
由于無(wú)人操作的環(huán)境條件往往多變復(fù)雜,每臺(tái)機(jī)器對(duì)內(nèi)部功耗加熱的控制能力不同,最終導(dǎo)致飛機(jī)本身的硬件對(duì)溫度的適應(yīng)性不同,因此為了滿足更多或特定條件下的操作需...
2023-08-09 標(biāo)簽:測(cè)試可靠性無(wú)人機(jī) 2022 0
一般來(lái)說(shuō),系統(tǒng)總是由多個(gè)子系統(tǒng)組成,而子系統(tǒng)又是由更小的子系統(tǒng)組成,直到細(xì)分到電阻器、電容器、電感、晶體管、集成電路、機(jī)械零件等小元件的復(fù)雜組合,其中任...
2023-06-29 標(biāo)簽:電容器控制系統(tǒng)硬件 1882 0
前言 光器件的可靠性標(biāo)準(zhǔn)中,我們最常接觸的應(yīng)該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點(diǎn)講了有源器件的可靠性要求,而GR-1209/...
干貨推薦│PCB板表面如何處理提高可靠性設(shè)計(jì)
問(wèn) PCB板為什么要做表面處理? 由于PCB上的銅層很容易被氧化,因此生成的銅氧化層會(huì)嚴(yán)重降低焊接質(zhì)量,從而降低最終產(chǎn)品的可靠性和有效性,為了避免這種情...
鑒于氮化鎵 (GaN) 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (FET) 能夠提高效率并縮小電源尺寸,其采用率正在迅速提高。但在投資這項(xiàng)技術(shù)之前,您可能仍然會(huì)好奇GaN是否具有...
開(kāi)關(guān)電源是各種系統(tǒng)的核心部分。開(kāi)關(guān)電源的需求越來(lái)越大,同時(shí)對(duì)可靠性提出了越來(lái)越高的要求。涉及系統(tǒng)可靠性的因素很多。目前,人們認(rèn)識(shí)上的主要誤區(qū)是把可靠性完...
2022-08-10 標(biāo)簽:電容器開(kāi)關(guān)電源可靠性 1590 0
使用Weibull分布對(duì)可靠性數(shù)據(jù)建模
Weibull分布是最常用于對(duì)可靠性數(shù)據(jù)建模的分布。此分布易于解釋且用途廣泛。在可靠性分析中,可以使用此分布回答以下問(wèn)題: · 預(yù)計(jì)將在老化期間失效的項(xiàng)...
2023-03-27 標(biāo)簽:可靠性Minitab數(shù)據(jù)建模 1556 0
本文就SiC-MOSFET的可靠性進(jìn)行說(shuō)明。這里使用的僅僅是ROHM的SiC-MOSFET產(chǎn)品相關(guān)的信息和數(shù)據(jù)。另外,包括MOSFET在內(nèi)的SiC功率元...
芯片設(shè)計(jì)問(wèn)題須知及設(shè)計(jì)策略
長(zhǎng)期可靠性的問(wèn)題,比如電子遷移(EM)失效機(jī)制,歷來(lái)屬于晶圓廠的處理范疇。但隨著納米設(shè)計(jì)中可靠性實(shí)現(xiàn)的愈加困難,對(duì)設(shè)計(jì)人員而言,不能再把問(wèn)題扔給制造...
2012-05-02 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)電子遷移可靠性 1511 0
倒置開(kāi)關(guān)是存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件,針對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)低功耗的要求,研制了微型光電倒置開(kāi)關(guān)。
2012-04-05 標(biāo)簽:光電開(kāi)關(guān)可靠性 1466 0
一般來(lái)說(shuō),系統(tǒng)總是由多個(gè)子系統(tǒng)組成,而子系統(tǒng)又是由更小的子系統(tǒng)組成,直到細(xì)分到電阻器、電容器、電感、晶體管、集成電路、機(jī)械零件等小元件的復(fù)雜組合,其中任...
2023-05-11 標(biāo)簽:元器件控制系統(tǒng)計(jì)算機(jī) 1445 0
壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法,用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種...
自20世紀(jì)50年代初,印制電路板(PCB)一直是電子封裝的基本構(gòu)造模塊,作為各種電子元器件的載體和電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~,其質(zhì)量和可靠性決定了整個(gè)電子封裝的...
LED照明有著許多傳統(tǒng)光源無(wú)可比擬的優(yōu)點(diǎn)和廣闊的市場(chǎng)前景。但是目前可靠性差、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)缺乏、價(jià)格昂貴等一系列問(wèn)題困擾著LED照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,特別是高亮度L...
司空見(jiàn)慣的經(jīng)驗(yàn)性的東西,其實(shí)我們都很多都是錯(cuò)的,而這一旦用于設(shè)計(jì),產(chǎn)品可靠性可想而知。
2012-02-23 標(biāo)簽:可靠性 1202 0
任何電氣或電子系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵是在需要時(shí)就有電可使用,但推動(dòng)電源模塊或子系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)最終穩(wěn)健性依靠是多年對(duì)故障物理學(xué)以及將這些知識(shí)經(jīng)過(guò)大量試誤,然后應(yīng)用在電...
亞穩(wěn)態(tài)與設(shè)計(jì)可靠性的關(guān)系
亞穩(wěn)態(tài)是我們?cè)谠O(shè)計(jì)經(jīng)常遇到的問(wèn)題。這個(gè)錯(cuò)誤我在很多設(shè)計(jì)中都看到過(guò)。有人可能覺(jué)得不以為然,其實(shí)你現(xiàn)在沒(méi)有遇到問(wèn)題只能說(shuō)明。
2022-10-10 標(biāo)簽:數(shù)字電路亞穩(wěn)態(tài)可靠性 942 0
半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)
產(chǎn)品可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的使用條件下和一定時(shí)間內(nèi),能夠正常運(yùn)行而不發(fā)生故障的能力。它是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),對(duì)提高客戶滿意度和復(fù)購(gòu)率具有重要影響。金鑒...
2024-11-21 標(biāo)簽:檢測(cè)半導(dǎo)體封裝可靠性 745 0
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