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標(biāo)簽 > 測(cè)試系統(tǒng)
《測(cè)試系統(tǒng)》對(duì)機(jī)電液測(cè)試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測(cè)試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測(cè)試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過(guò)程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說(shuō)明了多路巡回檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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本方案主要測(cè)試內(nèi)容為《JTG 2182-2020 公路工程質(zhì)量檢驗(yàn)評(píng)定標(biāo)準(zhǔn) 第二冊(cè) 機(jī)電工程》標(biāo)準(zhǔn)中6.4 ETC門(mén)架系統(tǒng)中表6.4.2 ETC門(mén)架系統(tǒng)...
2022-07-22 標(biāo)簽:高速公路測(cè)試系統(tǒng)交通 1989 0
在芯片眾多特殊的引腳中,EN引腳無(wú)疑是最為重要的一個(gè)。EN引腳又稱(chēng)使能引腳(Enable pins),不同的芯片對(duì)其稱(chēng)呼也有所不同,如EA、RUN等,它...
2023-09-27 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試電源芯片 1923 0
基于DSP控制器TMS320F2810實(shí)現(xiàn)直流電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)
隨著電子工業(yè)的迅速發(fā)展,對(duì)小型直流電機(jī)的需求量越來(lái)越大。這一類(lèi)直流電機(jī)在出廠前往往需要對(duì)其電流和轉(zhuǎn)速進(jìn)行測(cè)試。具體的方式是給電機(jī)提供多種占空比的PWM控...
2020-12-02 標(biāo)簽:dsp控制器測(cè)試系統(tǒng) 1920 0
如何為自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)選擇電源?有哪些常見(jiàn)規(guī)范?
在購(gòu)買(mǎi)直流電源時(shí)首先要做出的決定是選擇線性電源還是開(kāi)關(guān)電源。線性電源具有較低的紋波和噪聲,并且具有快速的瞬態(tài)行為。但它們效率低,會(huì)產(chǎn)生大量熱量,而且很重...
2020-09-02 標(biāo)簽:電源測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化 1905 0
基于變頻液壓技術(shù)的液壓泵測(cè)試系統(tǒng)提高精度和系統(tǒng)穩(wěn)定性
液壓泵是液壓傳動(dòng)系統(tǒng)中的核心部件,其功用是將原動(dòng)機(jī)(電動(dòng)機(jī)或內(nèi)燃機(jī))產(chǎn)生的機(jī)械能轉(zhuǎn)換為液體的壓力能,并輸出具有一定壓力的油液。由于壓力高、耐污染能力強(qiáng)、...
2020-07-29 標(biāo)簽:電源電動(dòng)機(jī)測(cè)試系統(tǒng) 1884 0
基于LXI平臺(tái)的混合測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行鋰離子電池測(cè)試
手機(jī)鋰電池測(cè)試主要針對(duì)經(jīng)過(guò)封裝后的電池保護(hù)電路進(jìn)行功能檢測(cè),利用電源、電子負(fù)載、多路開(kāi)關(guān)和數(shù)字萬(wàn)用表等儀器仿真各種充放電時(shí)的極限過(guò)壓、過(guò)流情況,檢測(cè)電池...
2018-11-29 標(biāo)簽:鋰離子電池電源測(cè)試系統(tǒng) 1879 0
FCC(Federal communication commission)認(rèn)證是無(wú)線電設(shè)備進(jìn)入美國(guó)市場(chǎng)的許可證,確保了設(shè)備的質(zhì)量和合法性,F(xiàn)CC認(rèn)證測(cè)試...
2024-10-11 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)FCC5G 1869 0
LCR自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案的使用方法和應(yīng)用分析
LCR表中:L指的是電感,C指的是電容,R指的是電阻,顧名思義是用于測(cè)量電器元器件本證參數(shù)的專(zhuān)用測(cè)量工具。LCR表不能測(cè)量其他的,而且需在電路斷電情況下...
2020-10-20 標(biāo)簽:元器件測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量 1803 0
基于采用三菱PLC器件和工控機(jī)實(shí)現(xiàn)智能高壓電機(jī)試驗(yàn)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
目前電機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的主要組成很相似,主要有:微機(jī)系統(tǒng)及其外部設(shè)備、測(cè)試硬件平臺(tái)、各種數(shù)字測(cè)試儀器。在試驗(yàn)的方法上主要有兩種類(lèi)型:一個(gè)就是試驗(yàn)的過(guò)程控制...
2020-06-04 標(biāo)簽:plc工控機(jī)測(cè)試系統(tǒng) 1784 0
根據(jù)IEC61000-4-21(GB/T 17626.2.1)中的定義,混響室是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的具有較長(zhǎng)混波時(shí)間,以便讓場(chǎng)盡量擴(kuò)散的小室。混響室由屏蔽殼體、機(jī)...
2024-01-18 標(biāo)簽:功率放大器測(cè)試系統(tǒng)emc 1766 0
淺談LabVIEW的線程編程的相關(guān)知識(shí)
在LabVIEW中只要程序框圖中的代碼可以并行運(yùn)行(功能模塊之間沒(méi)有連線關(guān)系,比如兩個(gè)獨(dú)立的While循環(huán)),那么LabIVEW在運(yùn)行這段代碼時(shí)就會(huì)自動(dòng)...
2023-11-10 標(biāo)簽:cpulabview操作系統(tǒng) 1753 0
Keithley SourceMeter光儀器產(chǎn)品的特點(diǎn)及應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
通過(guò) Keithley 儀器,可以輕松構(gòu)建 LIV(光功率-電流-電壓)系統(tǒng),從而經(jīng)濟(jì)高效地測(cè)試激光二極管模塊。
2020-12-02 標(biāo)簽:二極管激光測(cè)試系統(tǒng) 1730 0
基于總線技術(shù)和模塊化儀器實(shí)現(xiàn)通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
我國(guó)軍用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)歷了從仿制到自行研發(fā)的過(guò)程,隨著測(cè)試技術(shù)不斷發(fā)展,軍方對(duì)測(cè)試要求也不斷提高,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)組建的難度也不斷增加。由于多個(gè)型號(hào)工程的牽...
2020-08-11 標(biāo)簽:射頻計(jì)算機(jī)測(cè)試系統(tǒng) 1723 0
航向姿態(tài)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的組成原理和實(shí)現(xiàn)軟硬件設(shè)計(jì)
本文介紹的航向姿態(tài)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備正是基于ATE技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,對(duì)某型飛行器機(jī)載航姿系統(tǒng)各部件進(jìn)行離位測(cè)試,完成部件的功能性能檢測(cè)、維護(hù)校準(zhǔn)和故障診...
2020-08-10 標(biāo)簽:放大器數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng) 1723 0
自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)面臨的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)及解決方案分析
對(duì)于一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),有些測(cè)試任務(wù)會(huì)根據(jù)待測(cè)設(shè)備(DUT)的不同而不同,如儀器的配置、結(jié)果的分析等;而有些對(duì)于所有的待測(cè)設(shè)備則是通用的,如測(cè)試流程的管...
2020-05-03 標(biāo)簽:labview虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 1719 0
基于LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)多通道數(shù)據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用方案
在以往的測(cè)試系統(tǒng)中,一般采用引線式測(cè)試法實(shí)現(xiàn)信號(hào)的同步采集、顯示與分析,但在武器系統(tǒng)參數(shù)測(cè)試裝置所工作的高溫、高沖擊、高壓的惡劣環(huán)境中,引線式測(cè)試法布線...
2020-08-28 標(biāo)簽:labview虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 1705 0
基于FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器
本文設(shè)計(jì)了一種基于FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器。系統(tǒng)可以對(duì)系統(tǒng)錯(cuò)誤進(jìn)行自行檢測(cè)和錯(cuò)誤自行定位,經(jīng)測(cè)試系統(tǒng)可以正常運(yùn)行。本系統(tǒng)下一步的工...
2013-11-28 標(biāo)簽:FPGA測(cè)試系統(tǒng)MIPS處理器 1682 2
基于FX1S-10MT型PLC和步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置實(shí)現(xiàn)玩具燃燒測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
在美國(guó)玩具標(biāo)準(zhǔn)ASTM F963-03中,玩具主軸線定義為:一條連接產(chǎn)品上最遠(yuǎn)的部分或端點(diǎn)的距離最長(zhǎng)的直線。一個(gè)產(chǎn)品可以有一條以上的主軸線,但它們的長(zhǎng)度...
2020-04-27 標(biāo)簽:plc測(cè)試系統(tǒng)步進(jìn)電機(jī) 1649 0
如何高效利用五大工具輕松地實(shí)現(xiàn)數(shù)字萬(wàn)用表的編程測(cè)量
盡管數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)已成為當(dāng)前眾多自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中常見(jiàn)的儀器,但并不是所有DMM都是為了程序化處理和自動(dòng)化測(cè)試測(cè)量而設(shè)計(jì)的。NI DMM專(zhuān)為自動(dòng)化測(cè)...
2020-09-04 標(biāo)簽:數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量 1623 0
晶圓測(cè)試系統(tǒng)需要?jiǎng)?chuàng)建晶圓上所有Mini LED Mapping,以采集關(guān)鍵屬性數(shù)據(jù)。在晶粒繪圖過(guò)程完成之后,機(jī)器將根據(jù)質(zhì)量對(duì)單個(gè)Mini LED晶粒進(jìn)行...
2022-10-08 標(biāo)簽:讀碼器晶圓測(cè)試系統(tǒng) 1622 0
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