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標(biāo)簽 > 相變化內(nèi)存
相變化內(nèi)存簡稱PCM, PRAM, PCRAM, CRAM,又譯為相變位內(nèi)存,是一種非易失性存儲器裝置。
PRAM 使用含一種或多種硫族化物的玻璃(Chalcogenide glass)制成,主流為GeSbTe系合金。硫?qū)俨AУ奶匦允牵?jīng)由加熱可以改變它的狀態(tài),成為晶體(Crystalline)或非晶體(Amorphous)。這些不同狀態(tài)具有相應(yīng)的電阻值。因此 PRAM 可以用來存儲不同的數(shù)值。 它是未來可能取代快閃存儲器的技術(shù)之一。
相變化內(nèi)存原理分析及設(shè)計(jì)使用技巧
相變化內(nèi)存(Phase Change Memory,PCM)是一項(xiàng)全新的內(nèi)存技術(shù),目前有多家公司在從事該技術(shù)的研發(fā)活動。這項(xiàng)技術(shù)集當(dāng)今揮發(fā)性內(nèi)存和非...
2010-11-01 標(biāo)簽:相變化內(nèi)存 1021 0
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