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標(biāo)簽 > 表面粗糙度
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納米級形貌快速測量,優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展
研究摩擦學(xué),能帶來什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布
近年來,優(yōu)可測白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...
氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測白光干涉儀檢測時(shí)長縮短至秒級!
傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒,百倍提升檢測效率!
優(yōu)可測白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計(jì)、粗糙度等。...
優(yōu)可測白光干涉儀助力紅外探測行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測
晶圓襯底的質(zhì)量對紅外探測器芯片性能至關(guān)重要,優(yōu)可測白光干涉儀可以高精度測量晶圓襯底的亞納米級粗糙度、納米級臺階、整體平面度、微觀三維形貌等。
輪廓測長|光學(xué)型輪廓儀專業(yè)檢測光學(xué)鏡片曲面
精密光學(xué)元件制作中,粗糙度影響光學(xué)曲面質(zhì)量。輪廓儀以高精度、自動化、多功能和數(shù)據(jù)分析能力,實(shí)現(xiàn)非球面鏡片的專業(yè)檢測,解讀光學(xué)曲面變化。光學(xué)鏡片曲面測量面...
白光干涉儀AM系列助力3D打印技術(shù)的科研發(fā)展
自品牌開創(chuàng)以來,優(yōu)可測一直秉承著“用心檢測”的理念,樂于協(xié)助高校、研究院以及實(shí)驗(yàn)室的學(xué)子、老師進(jìn)行學(xué)術(shù)研究,助力3D打印技術(shù)發(fā)展以及行業(yè)創(chuàng)新,推動中國科...
國內(nèi)第一片300mm射頻(RF)SOI晶圓的關(guān)鍵技術(shù)
多晶硅層用作電荷俘獲層是RF-SOI中提高器件射頻性能的關(guān)鍵技術(shù),晶粒大小、取向、晶界分布、多晶硅電阻率等參數(shù)與電荷俘獲性能有密切的關(guān)系;此外,由于多晶...
SJ5780輪廓粗糙度測量儀具有精度高、操作方便易用、功能強(qiáng)大、智能防護(hù)、智能接觸等優(yōu)點(diǎn),一次測量即可自動記錄和顯示任意位置螺紋數(shù)據(jù)及各種螺紋參數(shù),自動...
表面粗糙度對大部分參與滑動接觸的表面而言是非常重要的。因?yàn)槟p的原始速率及持續(xù)的性質(zhì)等因素高度依賴這一特性。這些表面一般是承重面,而且需標(biāo)識粗糙度以確保...
近二十年來,精密和超精密加工技術(shù)行業(yè)對表面質(zhì)量和性能的評價(jià),提出了越來越高的要求,表面測量技術(shù)因此由傳統(tǒng)的二維接觸式向三維光學(xué)非接觸是測量發(fā)展。 1)接...
2020-02-17 標(biāo)簽:表面粗糙度 1779 0
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