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標(biāo)簽 > 負(fù)載效應(yīng)
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示波器探頭在測試的時(shí)候會(huì)引入什么負(fù)載效應(yīng)
在進(jìn)行電子測試時(shí),示波器探頭作為一種重要的測量工具,其性能對測量結(jié)果的準(zhǔn)確性具有重要影響。然而,在使用示波器探頭進(jìn)行測量時(shí),探頭本身也會(huì)引入一定的負(fù)載效...
反饋系統(tǒng)中負(fù)載效應(yīng)的計(jì)算方法
在反饋系統(tǒng)傳輸函數(shù)的計(jì)算中,先計(jì)算出開環(huán)傳輸函數(shù),再利用反饋理論公式計(jì)算閉環(huán)傳輸函數(shù)。
2023-12-01 標(biāo)簽:反饋系統(tǒng)負(fù)載效應(yīng) 1971 0
等離子體圖形化刻蝕過程中,刻蝕圖形將影響刻蝕速率和刻蝕輪廓,稱為負(fù)載效應(yīng)。負(fù)載效應(yīng)有兩種:宏觀負(fù)載效應(yīng)和微觀負(fù)載效應(yīng)。
使用虛擬實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)預(yù)測先進(jìn)FinFET技術(shù)的工藝窗口和器件性能
負(fù)載效應(yīng) (loading) 的控制對良率和器件性能有重大影響,并且它會(huì)隨著 FinFET(鰭式場效應(yīng)晶體管)器件工藝的持續(xù)微縮變得越來越重要[1-2]...
2023-01-06 標(biāo)簽:晶體管FinFET負(fù)載效應(yīng) 1581 0
直流穩(wěn)定電源的三大主要技術(shù)指標(biāo)
直流穩(wěn)定電源的主要技術(shù)指標(biāo)為源效應(yīng)、負(fù)載效應(yīng)、紋波。
2020-06-18 標(biāo)簽:紋波直流穩(wěn)定電源負(fù)載效應(yīng) 5844 0
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