計算對數放大器一致性誤差的方法類似于在RF功率管理系統校準中采用的兩點校準方法。產品測試過程中，在檢測器的線性范圍內選擇兩個已知的RF信號強度。利用其產生的輸出電壓，可以計算斜率和截距響應特性，并存儲在非易失性存儲器中以便建立一個簡單的線性公式。利用以dB為單位呈線性的函數關系和測量到的檢測器電壓，很容易計算現場的發射功率。利用兩點校準的重要優點就是減少成本、縮短測試時間。然而，這種校準方法僅是由于對數放大器的線性性能才成為可能。

因為校準通常是在一個溫度下做的，所以溫度對檢測器的定量影響是很非常重要的。對數檢測器的精度隨溫度的變化可用一致性誤差表示。圖4示出工作頻率高達3.5 GHz的45 dB對數放大器在900 MHz的傳遞函數。圖中包括在-40ºC和+85ºC時的傳遞函數，以及對數一致性誤差隨溫度變化的關系曲線。因為所謂的兩點校準情況，用相同的25ºC線性參考產生三條線性一致性誤差曲線。

圖4. 在900 MHz處單個器件的對數一致性誤差示出工作溫度范圍內±0.5dB的精度。

對數放大器在25°C環境溫度的傳遞函數具有50.25 dB/V的斜率和-51.6 dBm的截距（線性參考直線的延長線與X軸的交點）。25°C的曲線在0 dB誤差線周圍波動，然而，在兩端溫度處具有較小的斜率和截距偏移。在工作溫度范圍和40 dB檢測范圍內，單個器件的對數一致性誤差保持在±0.5 dB以內。在+85°C時的溫度漂移是動態范圍的限制。雖然單個器件在工作溫度范圍內可能會有好的精確度，然而由于半導體制造工藝引起的器件之間固有的細小差異可以證明對于精確的RF功率管理是一種障礙。

圖5示出70個器件對數一致性誤差的分布。在很寬的器件范圍內抽樣以證明制造工藝引起的偏差。每個器件都有三條相對25°C線性參考值校準的溫度曲線。盡管器件與器件之間有明顯的偏差，但其分布值非常接近。在工作溫度范圍和大于40 dB的檢測范圍內器件的總體分布曲線具有±1 dB的精度。由于器件與器件之間具有可重復性的漂移從而引入溫度補償。

圖5. 器件之間的對數一致性誤差明顯不同，但其總體分布非常接近。

通常無線通信標準要求發射功率檢測方案具有±1-dB 和±2-dB的精度，而在極端溫度則放寬限制。對數放大器的初始精度無需精細調整便足夠滿足大多數標準。盡管如此，對數放大器還是有很多明顯優點，它們超出了由不同標準決定的RF功率管理要求。

MCU如何能補償誤差

正如前面所討論的，MCU能夠利用發射信號通道的偏置電壓有效地調整發射功率。通過增加溫度傳感器，MCU能夠更進一步提高RF功率管理系統的精度。只要檢測器具有可重復性的溫度漂移，對某些測量值的誤差補償是可以實現的。可將考慮到環境變化的補償算法程序集成到MCU的決策程序中以顯著減少或消除制造工藝和溫度變化。例如，如果一個功率檢測器具有可重復性的溫度漂移，那么為了消除已知溫度下預期的誤差可采用一種補償算法。

圖6示出許多對數放大器的對數一致性誤差曲線。在3.5 GHz，溫度漂移從+1 dB擴展到-4 dB。器件在-40°C時的總體分布曲線緊隨25°C時的曲線。相反，在+85°C 的該分布曲線移動了2.5 dB，并且不再與25°C時的分布曲線平行。盡管在這個頻率處的溫度漂移很大，但在每個特定溫度下的分布保持的非常接近。由于這些飄移的可重復性，所以能夠實現一種補償方案顯著提高精度。

圖6. 在3.5 GHz 處+85°C時的溫度漂移分布曲線移動并不再與25°C時的分布曲線平行。
通過+85°C對數一致性曲線的線性區的趨勢線表示該溫度的誤差模型。
由于斜率和截距隨溫度變化導致溫度漂移。鑒于這種認識，通過分析器件的總體分布曲線可以總結出一個誤差模型。可以建立分布曲線隨溫度移動的誤差表達式，如圖6所示。圖中畫出的通過+85°C對數一致性曲線的線性區的趨勢線——誤差線，它表示在+85°C時的誤差模型。應用該誤差線的斜率和截距特性，利用補償函數關系可抵消這種溫度變化。盡管如此，該誤差模型僅描述+85°C時溫度漂移帶來的誤差。