半導(dǎo)體供應(yīng)商意法半導(dǎo)體,簡(jiǎn)稱(chēng)ST宣布,全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功。
2011-12-31 09:45:371370 · 旋鈕掃描功能可以快速檢驗(yàn)探針是否接觸正?!?待機(jī)模式不需要外部電源· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測(cè)試。· IBASIC 用戶(hù)功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。Agilent4156C精密半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試
2019-09-27 09:38:39
`半導(dǎo)體器件C-V特性測(cè)試方案交流C-V測(cè)試可以揭示材料的氧化層厚度,晶圓工藝的界面陷阱密度,摻雜濃度,摻雜分布以及載流子壽命等,通常使用交流C-V測(cè)試方式來(lái)評(píng)估新工藝,材料, 器件以及電路的質(zhì)量
2019-09-27 14:23:43
載的 直流偏壓用作直流電壓掃描,掃描過(guò)程中測(cè)試待測(cè)器件待測(cè)器件的交流電壓和電流,從而計(jì)算出不同電壓下的電容值。 在CV特性測(cè)試方案中,同時(shí)集成了美國(guó)吉時(shí)利公司源表(SMU)和合作伙伴針對(duì)CV測(cè)試設(shè)計(jì)的專(zhuān)用精
2019-09-29 15:28:11
請(qǐng)教下以前的[半導(dǎo)體技術(shù)天地]哪里去了
2020-08-04 17:03:41
半導(dǎo)體技術(shù)是如何變革汽車(chē)設(shè)計(jì)產(chǎn)業(yè)的?
2021-02-22 09:07:43
作者: Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么,有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本,從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢?有,答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
地,2020 年業(yè)界普遍認(rèn)為 5G 會(huì)實(shí)現(xiàn)大規(guī)模商用,熱點(diǎn)技術(shù)與應(yīng)用推動(dòng)下,國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體材料需求有望進(jìn)一步增長(zhǎng)。寬禁帶半導(dǎo)體材料測(cè)試1 典型應(yīng)用一. 功率雙極性晶體管BJT 特性表征2 典型應(yīng)用二. 功率
2020-05-09 15:22:12
半導(dǎo)體二極管的伏安特性是什么?
2021-06-15 06:17:58
近年來(lái),全球半導(dǎo)體功率器件的制造環(huán)節(jié)以較快速度向我國(guó)轉(zhuǎn)移。目前,我國(guó)已經(jīng)成為全球最重要的半導(dǎo)體功率器件封測(cè)基地。如IDM類(lèi)(吉林華微電子、華潤(rùn)微電子、杭州士蘭微電子、比亞迪股份、株洲中車(chē)時(shí)代半導(dǎo)體
2021-07-12 07:49:57
的防雷器件呢?這就是優(yōu)恩半導(dǎo)體要講的重點(diǎn)了。 首先要掌握各類(lèi)電子保護(hù)器件的工作原理、特性參數(shù)以及選型標(biāo)準(zhǔn)。優(yōu)恩半導(dǎo)體就以半導(dǎo)體放電管的選型為例,介紹一下怎么選型? 半導(dǎo)體放電管特性參數(shù): ①斷態(tài)電壓VRM
2017-03-20 14:45:41
接觸處形成位壘,因而這類(lèi)接觸具有單向?qū)щ娦浴@肞N結(jié)的單向?qū)щ娦?,可以制成具有不同功能?b class="flag-6" style="color: red">半導(dǎo)體器件,如二極管、三極管、晶閘管等。此外,半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性對(duì)外界前提(如熱、光、電、磁等因素)的變化非常
2013-01-28 14:58:38
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測(cè)試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試方法有很多種,其中四探針?lè)ň哂性O(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高以及對(duì)樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
要的是,如果在純諍 的半導(dǎo)體中加入適量的微量雜質(zhì)后,可使其導(dǎo)電能力增加至數(shù)十萬(wàn)倍以上。利用 這一特性,已經(jīng)做成各種不同用途的半導(dǎo)體器件(如二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管 和晶閘管等)。溫度、光照和適量摻入雜質(zhì)
2017-07-28 10:17:42
要的是,如果在純諍 的半導(dǎo)體中加入適量的微量雜質(zhì)后,可使其導(dǎo)電能力增加至數(shù)十萬(wàn)倍以上。利用 這一特性,已經(jīng)做成各種不同用途的半導(dǎo)體器件(如二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管 和晶閘管等)。溫度、光照和適量摻入雜質(zhì)
2018-02-11 09:49:21
本章介紹了 Cyclone? IV 器件所支持的邊界掃描測(cè)試 (BST) 功能。這些 BST 功能與Cyclone III 器件中的相類(lèi)似,除非另有說(shuō)明。Cyclone IV 器件 (Cyclone
2017-11-14 10:50:26
DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)西安天光測(cè)控DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs
2022-02-17 07:44:04
材料。與目前絕大多數(shù)的半導(dǎo)體材料相比,GaN 具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì):禁帶更寬、飽和漂移速度更大、臨界擊穿電場(chǎng)和熱導(dǎo)率更高,使其成為最令人矚目的新型半導(dǎo)體材料之一。目前,GaN 基發(fā)光器件的研究已取得了很大
2019-06-25 07:41:00
在研究雷達(dá)探測(cè)整流器時(shí),發(fā)現(xiàn)硅存在PN結(jié)效應(yīng),1958年美國(guó)通用電氣(GE)公司研發(fā)出世界上第一個(gè)工業(yè)用普通晶閘管,標(biāo)志著電力電子技術(shù)的誕生。從此功率半導(dǎo)體器件的研制及應(yīng)用得到了飛速發(fā)展,并快速成長(zhǎng)為
2019-02-26 17:04:37
FS-Pro系列是業(yè)界唯一的人工智能驅(qū)動(dòng)的一體化半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),單臺(tái)設(shè)備具備IV, CV 與 1/f noise 測(cè)試能力,內(nèi)建的AI算法加速技術(shù)全面提升測(cè)試效率。業(yè)界低頻噪聲測(cè)試黃金系統(tǒng)
2020-07-01 10:02:55
FastLab是一款通用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量工具軟件,主要用于在半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室中協(xié)同探針臺(tái)與測(cè)量?jī)x器進(jìn)行自動(dòng)化的片上半導(dǎo)體器件的IV/CV特性測(cè)量。 該軟件界面友好、操作簡(jiǎn)便、功能全面。機(jī)器學(xué)習(xí)算法
2020-07-01 09:59:09
建模工具所采用。基于其集成的并行SPICE引擎,BSIMProPlus提供強(qiáng)大的全集成SPICE建模平臺(tái),可以用于對(duì)各種半導(dǎo)體器件從低頻到高頻的各種器件特性的SPICE建模,包括電學(xué)特性測(cè)試、器件模型
2020-07-01 09:36:55
阻使這些材料成為高溫和高功率密度轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)的理想選擇 [4]?! 榱顺浞掷眠@些技術(shù),重要的是通過(guò)傳導(dǎo)和開(kāi)關(guān)損耗模型評(píng)估特定所需應(yīng)用的可用半導(dǎo)體器件。這是設(shè)計(jì)優(yōu)化開(kāi)關(guān)模式電源轉(zhuǎn)換器的強(qiáng)大
2023-02-21 16:01:16
去的三十年里,III-V 技術(shù)(GaAs 和InP)已經(jīng)逐漸擴(kuò)大到這個(gè)毫米波范圍中。新近以來(lái),由于工藝尺寸持續(xù)不斷地減小,硅技術(shù)已經(jīng)加入了這個(gè)“游戲”。在本文中,按照半導(dǎo)體特性和器件要求,對(duì)可用
2019-07-31 07:43:42
什么是堆疊式共源共柵?低阻抗功率半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)有哪些關(guān)鍵特性?低阻抗功率半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)有哪些應(yīng)用優(yōu)勢(shì)?
2021-06-26 06:14:32
B1500A半導(dǎo)體器件分析儀具有十個(gè)插槽,支持IV和CV測(cè)試的模塊化儀器?;贛S Windows 的Agilent EasyEXPERT 軟件,提供新的、更直觀(guān)的面向任務(wù)的器件表征。由于非常低的電流、低電壓
2019-12-29 14:09:35
B1500A半導(dǎo)體器件分析儀具有十個(gè)插槽,支持IV和CV測(cè)試的模塊化儀器。基于MS Windows 的Agilent EasyEXPERT 軟件,提供新的、更直觀(guān)的面向任務(wù)的器件表征。由于非常低的電流、低電壓
2020-01-16 21:15:25
找不到聯(lián)系方式,請(qǐng)?jiān)跒g覽器上搜索一下,旺貿(mào)通儀器儀Keysight B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀/半導(dǎo)體表征系統(tǒng)主機(jī)主要特性與技術(shù)指標(biāo)測(cè)量功能在 0.1 fA - 1 A / 0.5 μV - 200
2019-12-25 15:04:23
本書(shū)將簡(jiǎn)述太陽(yáng)能電池的電氣測(cè)量,集中討論太陽(yáng)光電池的屬性和如何進(jìn)行IV參數(shù)的測(cè)試,以及對(duì)在選擇太陽(yáng)能半導(dǎo)體,材料時(shí),如何用IV/CV的方法來(lái)研究材料的特性。•太陽(yáng)能電池的效率
2011-04-07 14:34:23
光電測(cè)試技術(shù)分析有源的光電器件是一個(gè)基本的半導(dǎo)體結(jié),為了更全面的測(cè)試,不僅要求對(duì)其做正向的I-V特性測(cè)試,也要求監(jiān)測(cè)反向的I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管電流驅(qū)動(dòng)在實(shí)驗(yàn)室級(jí)別是合適的,但是對(duì)于開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體
2009-12-09 10:47:38
`吉時(shí)利——半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案半導(dǎo)體分立器件包含大量的雙端口或三端口器件,如二極管,晶體管,場(chǎng)效應(yīng)管等,是組成集成電路的基礎(chǔ)。 直流I-V測(cè)試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石
2019-10-08 15:41:37
`東莞市佳華儀器有限公司趙經(jīng)理:175~~~6672~~~8272銷(xiāo)售/回收/維修熱線(xiàn)188~~~8361~~~1172B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀/半導(dǎo)體表征系統(tǒng)主機(jī)主要特性與技術(shù)指標(biāo) 測(cè)量
2020-08-18 16:52:03
電路內(nèi),意法半導(dǎo)體最新超結(jié)MOSFET與IGBT技術(shù)能效比較 圖1: 垂直布局結(jié)構(gòu) 4 功率損耗比較 在典型工作溫度 Tj = 100 °C范圍內(nèi),我們從動(dòng)靜態(tài)角度對(duì)兩款器件進(jìn)行了比較分析。在
2018-11-20 10:52:44
常用半導(dǎo)體器件本章要求:一、理解PN結(jié)的單向?qū)щ娦裕龢O管的電流分配和 &
2009-09-30 18:12:20
1.常用半導(dǎo)體器件型號(hào)命名的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)常用半導(dǎo)體器件的型號(hào)命名由五個(gè)部分組成,第一部分用數(shù)字表示電極的數(shù)目;第二部分用漢語(yǔ)拼音字母表示器件的材料和極性;第三部分表示器件的類(lèi)別;第四部分表示器件的序號(hào)
2017-11-06 14:03:02
半導(dǎo)體元器件是用半導(dǎo)體材料制成的電子元器件,隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,各種新型半導(dǎo)體元器件層出不窮。半導(dǎo)體元器件是組成各種電子電路的核心元件,學(xué)習(xí)電子技術(shù)必須首先了解半導(dǎo)體元器件的基本結(jié)構(gòu)和工作原理
2008-05-24 10:29:38
常用的功率半導(dǎo)體器件有哪些?
2021-11-02 07:13:30
行業(yè)的“傳奇定律”——摩爾定律就此誕生,它不僅揭示了信息技術(shù)進(jìn)步的速度,更在接下來(lái)的半個(gè)實(shí)際中,猶如一只無(wú)形大手般推動(dòng)了整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)的變革。
2019-07-01 07:57:50
, CdTe 等;3、低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等。 四、系統(tǒng)原理:霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)主要是對(duì)霍爾器件的 I-V 測(cè)量,再根據(jù)其他相關(guān)參數(shù)來(lái)計(jì)算出對(duì)應(yīng)的值。電阻率:范德
2020-06-08 17:04:49
` 不是所有的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠(chǎng)商對(duì)所有的器件都需要進(jìn)行老化測(cè)試。普通器件制造由于對(duì)生產(chǎn)制程比較了解,因此可以預(yù)先掌握通過(guò)由統(tǒng)計(jì)得出的失效預(yù)計(jì)值。如果實(shí)際故障率高于預(yù)期值,就需要再做老化測(cè)試,提高實(shí)際可靠性以滿(mǎn)足用戶(hù)的要求。宜特`
2019-08-02 17:08:06
氮化鎵功率半導(dǎo)體技術(shù)解析基于GaN的高級(jí)模塊
2021-03-09 06:33:26
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求?對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式?如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試?
2021-07-30 06:27:39
、日本等國(guó)家和組織啟動(dòng)了至少12項(xiàng)研發(fā)計(jì)劃,總計(jì)投入研究經(jīng)費(fèi)達(dá)到6億美元。借助各國(guó)***的大力支持,自從1965年第一支GaAs晶體管誕生以來(lái),化合物半導(dǎo)體器件的制造技術(shù)取得了快速的進(jìn)步,為化合物半導(dǎo)體
2019-06-13 04:20:24
電力半導(dǎo)體器件的分類(lèi)
2019-09-19 09:01:01
,硅的電阻率就大大減小,利用這種特性制成了各種不同的半導(dǎo)體器件,如二極管、雙極型晶體管、場(chǎng)效晶體管及晶閘管等。4、本征半導(dǎo)體就是完全純凈的、晶格完整的半導(dǎo)體。5、在本征半導(dǎo)體的晶體結(jié)構(gòu)中,原子之間以
2016-10-07 22:07:14
一、無(wú)線(xiàn)數(shù)字設(shè)備發(fā)射機(jī)特性測(cè)試技術(shù) 移動(dòng)終端和個(gè)人電腦的無(wú)線(xiàn)數(shù)據(jù)功能已發(fā)展為多頻帶、多系統(tǒng)結(jié)構(gòu),導(dǎo)致對(duì)前端器件需求的迅速增加。目前,簡(jiǎn)單易用、輕便及低成本終端已成為市場(chǎng)趨勢(shì),由此引起市場(chǎng)對(duì)小巧
2019-06-05 08:12:26
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試原理,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的性能測(cè)試,集成電路測(cè)試系統(tǒng).
2008-08-17 22:36:43168 服務(wù)介紹隨著技術(shù)發(fā)展,第三代半導(dǎo)體功率器件開(kāi)始由實(shí)驗(yàn)室階段步入商業(yè)應(yīng)用,未來(lái)應(yīng)用潛力巨大,這些新型器件測(cè)試要求更高的電壓和功率水平,更快的開(kāi)關(guān)時(shí)間。測(cè)試周期:根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、試驗(yàn)條件及被測(cè)樣品量確定
2022-05-25 14:26:58
SPEA功率器件測(cè)試機(jī)SPEA-功率器件測(cè)試機(jī)-DOT800T功率半導(dǎo)體器件是實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換的核心器件,主要用途包括逆變、變頻等,在家用電器、新能源汽車(chē)、工業(yè)制造、通訊等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。小型化
2022-09-16 15:36:04
全自動(dòng)半導(dǎo)體激光COS測(cè)試機(jī)TC 1000 COS(chip on submount)是主流的半導(dǎo)體激光器封裝形式之一,對(duì)COS進(jìn)行全功能的測(cè)試必不可少
2023-04-13 16:28:40
一 F-200A-60V 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)專(zhuān)為以下測(cè)試需求研制: 二 技術(shù)參數(shù)
2023-10-12 15:38:30
服務(wù)范圍MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導(dǎo)體器件等分立器件,以及上述元件構(gòu)成的功率模塊。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)l AEC-Q101分立器件認(rèn)證l MIL-STD-750
2024-01-29 22:00:42
使用半導(dǎo)體管的測(cè)試振蕩器
2008-05-01 01:16:09409 半導(dǎo)體測(cè)試生產(chǎn)管理特性我國(guó)半導(dǎo)產(chǎn)業(yè)為一個(gè)垂直分工十分細(xì)膩且資本密集、技術(shù)密集的特殊產(chǎn)業(yè),而IC測(cè)試廠(chǎng)則屬于這整個(gè)垂直分工體系的
2008-10-27 16:03:44617
半導(dǎo)體測(cè)試器電路圖
2009-04-20 11:13:09801 Stratix IV通過(guò)Interlaken通用性測(cè)試
Altera公司宣布,Stratix IV FPGA通過(guò)Interlaken聯(lián)盟的器件通用性測(cè)試。Altera認(rèn)證了與使用Interlaken協(xié)議的第三方組件的高性能FPGA接口。Stratix IV
2010-03-10 09:26:13557 誼邦電子科技YB6500半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)功能更加強(qiáng)大,可測(cè)試十九大類(lèi)二十七分類(lèi)大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件
2011-06-07 11:28:422604 半導(dǎo)體器件熱特性測(cè)試儀的性能指標(biāo)設(shè)計(jì)要求 1、快速。 2、高精度。 3、測(cè)量的程序化及自動(dòng)化 4、測(cè)量數(shù)據(jù)分析擬和的自動(dòng)化 5、測(cè)量恒溫平臺(tái)的自動(dòng)恒溫控制
2011-10-31 16:31:0716 電子專(zhuān)業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識(shí)學(xué)習(xí)教材資料之Cyclone_IV器件的JTAG邊界掃描測(cè)試
2016-09-02 16:54:400 NI半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新論壇,關(guān)注探討如何在實(shí)驗(yàn)室V&V驗(yàn)證、晶圓及封裝測(cè)試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時(shí)間,針對(duì)RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片,探討如何通過(guò)PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)的測(cè)試成本、以及提高測(cè)試效率等。
2018-08-22 11:29:393806 半導(dǎo)體技術(shù)的要求通常會(huì)超出傳統(tǒng)ATE所能為模擬、混合信號(hào)和RF測(cè)試提供的測(cè)試覆蓋范圍。半導(dǎo)體測(cè)試工程師需要更智能的解決方案來(lái)解決成本、可擴(kuò)展性、設(shè)計(jì)和器件挑戰(zhàn)。
2019-02-05 08:41:003190 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié),半導(dǎo)體測(cè)試一直以來(lái)備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5915047 今天蘇州萊科斯科技公司來(lái)為大家介紹一下光伏行業(yè)里的兩項(xiàng)重要測(cè)試IV曲線(xiàn)/EL測(cè)試,這兩項(xiàng)測(cè)試是對(duì)光伏組件的必測(cè) 項(xiàng)目。而這兩個(gè)項(xiàng)必測(cè)項(xiàng)分別由IV曲線(xiàn)測(cè)試儀和EL測(cè)試儀來(lái)檢驗(yàn)測(cè)試的。 而這里面的IV
2020-07-17 16:47:5414787 吉時(shí)利8010型大功率器件測(cè)試夾具與2651A以及2657A型大功率系統(tǒng)數(shù)字源表一起完善了功率半導(dǎo)體器件測(cè)試解決方案。圖1給出源測(cè)量單元(SMU)儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指南(IRG)中給出詳細(xì)的器件測(cè)試配置實(shí)例。
2020-08-21 13:49:312285 半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ),包含大量的雙端口或三端口器件,如二極管,晶體管,場(chǎng)效應(yīng)管等。 直流 I-V 測(cè)試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V
2021-01-14 16:47:24538 近期有很多用戶(hù)在網(wǎng)上咨詢(xún)I-V特性測(cè)試, I-V特性測(cè)試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對(duì)象,分立器件I-V特性測(cè)試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù),并在整個(gè)工藝流程結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣
2021-05-19 10:50:252042 半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf(匯編語(yǔ)言嵌入式開(kāi)發(fā))-半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf
2021-07-30 09:39:3066 MOSFET管要么分布在高壓低速的區(qū)間,要么分布在低壓高速的區(qū)間,市面上傳統(tǒng)的探測(cè)技術(shù)可以覆蓋器件特性的測(cè)試需求。但是第三代半導(dǎo)體器件SiC 或GaN的技術(shù)卻大大擴(kuò)展了分布的區(qū)間,覆蓋以往沒(méi)有出現(xiàn)過(guò)的高壓高速區(qū)域,這就對(duì)器件的測(cè)試
2021-12-29 17:11:061046 交流 C-V 測(cè)試可以揭示材料的氧化層厚度,晶圓工藝的界面陷阱密度,摻雜濃度,摻雜分布以及載流子壽命等,通常使用交流 C-V 測(cè)試方式來(lái)評(píng)估新工藝,材料, 器件以及電路的質(zhì)量和可靠性等。比如
2022-05-31 16:12:040 器件的I-V功能測(cè)試和特征分析是實(shí)驗(yàn)過(guò)程中經(jīng)常需要測(cè)試的參數(shù)之一,一般我們用到源表進(jìn)行IV參數(shù)的測(cè)試,如果需要對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)IV曲線(xiàn)圖顯示及保存,可以用到源表測(cè)試軟件
2023-02-02 10:50:591313 參數(shù),具有高電壓和大電流特性,uΩ級(jí)電阻,pA級(jí)電流精準(zhǔn)測(cè)量等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量功率器
件結(jié)電容,如輸入電容,輸出電容、反向傳輸電容等。
普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向,深耕半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,在I-V測(cè)試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),先后推出了直流源表,脈沖源
2023-02-15 16:11:141 、脈沖/動(dòng)態(tài) I-V 等參數(shù)。 主機(jī)和插入式模塊能夠 表征大多數(shù)電子器件、材料、半導(dǎo)體和有源/無(wú)源元器件。 B1500A? 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀的模塊化體系結(jié)構(gòu)使其可以根據(jù)需要靈活升級(jí)。 可以在 CV 和 IV 測(cè)量之間快速切換,無(wú)需重新連接線(xiàn)纜。 能夠捕獲其他傳統(tǒng)測(cè)試儀器無(wú)法捕獲的超快速瞬
2023-03-07 11:10:421081 解決方案為核心,聯(lián)合國(guó)內(nèi)外一線(xiàn)方案合作伙伴,為全球半導(dǎo)體客戶(hù)提供各種測(cè)試開(kāi)發(fā)服務(wù),輔助客戶(hù)完成半導(dǎo)體器件以及電路的精確測(cè)試。是德科技始終致力于為客戶(hù)提供高效可靠的測(cè)試服務(wù),歡迎您的垂詢(xún)和合作! 把握中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)的未來(lái),彰顯價(jià)值 隨著全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)規(guī)模日益擴(kuò)大,中國(guó)半導(dǎo)
2023-03-27 09:28:42943 不用在測(cè)試之前對(duì)軟件進(jìn)行復(fù)雜耗時(shí)地?fù)跷辉O(shè)置。所有測(cè)試傳感器模塊均采用垂直位移定位技術(shù),確保測(cè)試的狀態(tài)可靠,定位地動(dòng)作快速??煞胖玫米笥覔u桿控制器,操作舒適得搖桿控制器。 ? ? 便攜式半導(dǎo)體推力測(cè)試儀特點(diǎn): ?
2023-04-12 17:58:08399 最近有很多人問(wèn)到,半導(dǎo)體測(cè)試和IC現(xiàn)貨芯片測(cè)試是一回事嗎?今天安瑪科技小編為大家解惑。 半導(dǎo)體測(cè)試并不一定等同于IC現(xiàn)貨芯片測(cè)試,兩者也不完全是一回事。半導(dǎo)體測(cè)試實(shí)際上是半導(dǎo)體設(shè)備中的一項(xiàng)技術(shù)
2023-04-17 18:09:36858 。屆時(shí),概倫電子將攜 領(lǐng)先的半導(dǎo)體特性測(cè)試儀FS-Pro、業(yè)界黃金標(biāo)準(zhǔn)低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)981X系列以及資深專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)打造的一站式工程服務(wù)解決方案 亮相此次盛會(huì)。 ? 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀FS-Pro 一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析測(cè)試系統(tǒng),能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)試半導(dǎo)
2023-06-20 09:25:01415 包括球柵陣列封裝(BGA)、無(wú)引線(xiàn)封裝(QFN)、芯片級(jí)封裝(CSP)等。 本文科準(zhǔn)測(cè)控的小編將介紹半導(dǎo)體封裝推拉力測(cè)試機(jī)的技術(shù)參數(shù)和應(yīng)用范圍,并探討其在BGA封裝測(cè)試中的重要性。 一、測(cè)試內(nèi)容 引腳連接強(qiáng)度:測(cè)試封裝器件引腳與
2023-06-26 10:07:59581 ,觀(guān)摩新產(chǎn)品、新技術(shù),交流半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的最新動(dòng)向,共同探討測(cè)試行業(yè)未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)。 隨著新興技術(shù)和市場(chǎng)不斷興起,芯片工藝越來(lái)越復(fù)雜,新器件類(lèi)型層出不窮,行業(yè)需要更加面向未來(lái)需求的測(cè)試系統(tǒng)和方案,來(lái)打破傳統(tǒng)儀器固有的不
2023-07-03 14:05:01586 碳化硅功率器件作為新一代功率半導(dǎo)體器件,以其優(yōu)異的特性獲得了廣泛的應(yīng)用,同時(shí)也對(duì)其動(dòng)態(tài)特性測(cè)試帶來(lái)了挑戰(zhàn),現(xiàn)階段存在的主要問(wèn)題有以下三點(diǎn)
2023-07-08 15:14:02325 在半導(dǎo)體器件中,常見(jiàn)的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下,加速測(cè)試不改變故障的物理特性,但會(huì)轉(zhuǎn)移觀(guān)察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱(chēng)為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些?讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548 的好壞、穩(wěn)定性的高低直接影響到電子設(shè)備的性能和可靠性。從最籠統(tǒng)的角度說(shuō),我們可以利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行IV參數(shù)測(cè)試,即電壓和電流關(guān)系的測(cè)試,也可以延展到CV參數(shù)測(cè)試即電容相關(guān)的測(cè)試。 通過(guò)以上測(cè)試,我們可以得到半
2023-09-13 07:45:021210 半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試,目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能,主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過(guò)程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案,此系統(tǒng)可程控,可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試,移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415 半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試,是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有開(kāi)關(guān)時(shí)間、開(kāi)關(guān)損耗、反向恢復(fù)電流、開(kāi)關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38278 半導(dǎo)體如今在集成電路、通信系統(tǒng)、照明等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用,是一種非常重要的材料。在半導(dǎo)體行業(yè)中,半導(dǎo)體測(cè)試是特別關(guān)鍵的環(huán)節(jié),以保證半導(dǎo)體器件及產(chǎn)品符合規(guī)定和設(shè)計(jì)要求,確保其質(zhì)量和性能。
2023-11-07 16:31:17309 對(duì)于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo),是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過(guò)大,那么半導(dǎo)體器件的熱量就無(wú)法及時(shí)散出,導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過(guò)高,造成器件性能下降,甚至損壞器件。因此,半導(dǎo)體熱阻測(cè)試是必不可少的,納米軟件將帶你了解熱阻測(cè)試的方法。
2023-11-08 16:15:28687 什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng),如何測(cè)試其特性? 半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試制造出來(lái)的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過(guò)一系列測(cè)試和分析來(lái)確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:44265 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類(lèi)環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線(xiàn)鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748 半導(dǎo)體材料是制作半導(dǎo)體器件與集成電路的基礎(chǔ)電子材料。隨著技術(shù)的發(fā)展以及市場(chǎng)要求的不斷提高,對(duì)于半導(dǎo)體材料的要求也越來(lái)越高。因此對(duì)于半導(dǎo)體材料的測(cè)試要求和準(zhǔn)確性也隨之提高,防止由于其缺陷和特性而影響半導(dǎo)體器件的性能。
2023-11-10 16:02:30690 SPA6100型半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng),具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖
2023-12-01 14:00:36229 半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿(mǎn)足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶(hù)需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04697 隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展,半導(dǎo)體器件在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。而為了確保半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和性能,進(jìn)行準(zhǔn)確的半導(dǎo)體性能測(cè)試顯得尤為重要?;魻栃?yīng)作為一種常用的測(cè)試手段,在半導(dǎo)體性能測(cè)試中發(fā)
2023-12-25 14:52:30279 “時(shí)間就是金錢(qián)”這句話(huà)在半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試中尤為貼切。
2023-12-25 17:21:03286 光伏IV測(cè)試儀是用于太陽(yáng)能光伏電池組件測(cè)試的一種儀器設(shè)備。它通過(guò)測(cè)量電池在特定光照條件下的電流和電壓,從而判斷電池的性能和質(zhì)量。在光伏行業(yè)中,IV測(cè)試儀是非常重要的一種設(shè)備,它能夠幫助工程師和研究人員評(píng)估光伏電池的性能并進(jìn)行優(yōu)化。接下來(lái),我們將介紹一些常見(jiàn)的光伏IV測(cè)試儀及其特點(diǎn)。
2023-12-28 15:13:29209 光伏IV測(cè)試作為評(píng)估光伏電池性能的重要手段,對(duì)光伏技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用起著關(guān)鍵的作用。通過(guò)光伏組件IV測(cè)試,我們可以準(zhǔn)確地評(píng)估光伏電池的轉(zhuǎn)換效率和功率輸出,為光伏系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、優(yōu)化和性能監(jiān)測(cè)提供重要的參考依據(jù)。未來(lái),隨著光伏技術(shù)的不斷發(fā)展,光伏IV測(cè)試方法和技術(shù)也將不斷完善,為光伏領(lǐng)域的發(fā)展注入新的活力。
2024-01-10 14:37:57417
評(píng)論
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