器件的I-V功能測試和特征分析是實驗過程中經常需要測試的參數之一，一般我們用到源表進行IV參數的測試，如果需要對測試的數據進行實時IV曲線圖顯示及保存，可以用到源表測試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關于用源表測試IV參數的典型應用及源表測試軟件。

一、各種器件的I-V功能測試和特征分析包括

1、分立和無源元件

兩端口器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

三端口器件——小信號雙極結型晶體管（BJT）場效應晶體管（FET），等等

2、簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感器、轉換器、穩壓器

3、集成器件——小規模集成（SSI）和大規模集成（LSI）

模擬IC

射頻集成電路（RFIC）

專用集成電路（ASIC）

片上系統（SOC）器件

4、光電器件，例如發光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發射激光器 （VCSEL）、顯示器

5、圓片級可靠性

NBTI、TDDB、HCI、電遷移

6、太陽能電池

7、電池

等等...

二、NS-SourceMeter源表測試軟件IV特性測試應用案例

這里以納米NS-SourceMeter源表軟件為例，用到軟件的掃描模塊進行IV曲線的測試演示。

◆試驗參數設置界面

在此界面中進行試驗的具體參數設置，選擇接線方式（二線法、四線法），掃描模式（從起點到終點單項掃描、從起點到終點循環掃描、從零點開始循環掃描），傳感器模式、輸出測試通道（通道、輸出類型、起點電壓、終點電壓、掃描步長、電流限制、測量間隔、循環間隔、循環次數），如下圖所示。

◆運行測試界面（舉例說明）

測試內容：伏安特性曲線（900KΩ）

測量結果：源表會根據改模塊配置，如掃描模式（從起點到終點單項掃描），傳感器模式（關閉），通道（CH1），輸出類型（電壓輸出），起點電壓（0.10V）,終點電壓（10.00V），掃描步長（0.10）、電流限制（1.00A），測量間隔（0.01S），循環間隔（0.10S）,循環次數（1.00次）進行掃描，如下圖所示。

源表測試軟件詳情介紹及下載地址：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/642.html

審核編輯：湯梓紅