電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)價(jià)，是對(duì)電子產(chǎn)品根據(jù)其可靠性模型、結(jié)構(gòu)、材料、工作環(huán)境等信息定量估計(jì)其組成單元及系統(tǒng)的可靠性水平，是對(duì)電子產(chǎn)品可靠性評(píng)估的有效工具。目前，可用于電子產(chǎn)品可靠性評(píng)價(jià)的方法有很多種，包括應(yīng)力分析法、元器件計(jì)數(shù)法、專家評(píng)分法、相似產(chǎn)品法、馬爾科夫法、故障物理法、性能參數(shù)法、圖解法、有源組件法、上下限法、蒙特卡羅法、故障樹法等。在對(duì)工程實(shí)踐中常用的電子產(chǎn)品（硬件）的可靠性評(píng)價(jià)方法分類后，主要將可靠性評(píng)價(jià)方法分為兩類——基于故障率經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ偷姆椒ǎ煽啃栽u(píng)價(jià)手冊或標(biāo)準(zhǔn)的采用的方法，因此也成為基于手冊的方法）和基于故障物理模型的方法。但在工程界至今仍然沒有形成關(guān)于電子產(chǎn)品可靠性評(píng)價(jià)的統(tǒng)一的方法論。

基于故障率經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ偷目煽啃栽u(píng)價(jià)方法主要是指基于MIL-HDBK-217F手冊的評(píng)價(jià)方法，主要有：PRISM，RIAC-HDBK-217 PlusTM，Telcordia SR-332，CNET RDF2000（IEC-TR-62380（2004）），Simens SN 29500-1999，IEEE Gold book Std 493TM-2007，GJB/Z 299C-2006，GJB/Z 108A-2006，F(xiàn)IDES Guide 2009。主要基于失效概率統(tǒng)計(jì)的方法進(jìn)行失效率計(jì)算。基本方法是在各種基礎(chǔ)失效率的基礎(chǔ)上，利用環(huán)境、制程、工作應(yīng)力相關(guān)的多種修正因子，對(duì)基礎(chǔ)失效率進(jìn)行修正，并得到最終的元器件失效率，在此基礎(chǔ)上，再利用系統(tǒng)參數(shù)修正得到設(shè)備或系統(tǒng)的失效率（若有）。

基于故障物理（Physics of Failure）模型的方法是指根據(jù)電子產(chǎn)品的應(yīng)用環(huán)境和設(shè)計(jì)、工藝等信息，構(gòu)建應(yīng)力-損傷模型。基于此模型對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)。目前，常用的基于PoF模型的評(píng)價(jià)方法主要應(yīng)用在元器件和電路板級(jí)。因?yàn)镻oF方法不能對(duì)整個(gè)系統(tǒng)構(gòu)建故障機(jī)理的物理模型，實(shí)施難度較大，所以不能作為唯一的方法來使用。所以，至今沒有完全基于失效物理模型的可靠性評(píng)價(jià)方法和統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，主要以探索與建議為主。目前設(shè)計(jì)到PoF方法的標(biāo)準(zhǔn)有：IEEE1413.1，IEEE1413-2010。給出了可靠性評(píng)價(jià)建議的輸入對(duì)象和因素。IEEE1413.1中對(duì)各類可靠性評(píng)價(jià)方法有概括性的介紹，并且對(duì)各類方法進(jìn)行對(duì)比后，認(rèn)為基于應(yīng)力損傷和失效物理的可靠性評(píng)價(jià)方法更符合IEEE1413對(duì)可靠性評(píng)價(jià)的建議，但并未給出具體、詳細(xì)的計(jì)算方法和模型。

值得一提的是，很多方法在嘗試將基于故障率經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ秃凸收衔锢砟Ｐ偷姆椒ㄟM(jìn)行結(jié)合使用，目前主要的做法是基于故障物理模型計(jì)算環(huán)境影響參數(shù)，并代入整體故障率經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ瓦M(jìn)行修正，比起傳統(tǒng)的按照經(jīng)驗(yàn)對(duì)修正參數(shù)進(jìn)行賦值，這種方法考慮了環(huán)境因素，對(duì)修正參數(shù)的取值更加合理。

在這些方法中，應(yīng)用最合理、考慮故障物理因素最全面的是FIDES Guide 2009。FIDES評(píng)價(jià)方法考慮了目前電子產(chǎn)品的主要影響應(yīng)力類型和失效模式，將器件/系統(tǒng)的工作環(huán)境剖面量化，明確了溫度、溫循、機(jī)械、濕度等幾方面應(yīng)力的施加條件，代入失效模式對(duì)應(yīng)的典型失效物理模型，計(jì)算修正因子，用于對(duì)器件失效率的修正。與傳統(tǒng)的217、299C和RDF2000等相比，此種修正方式更接近于器件/系統(tǒng)的真實(shí)工作環(huán)境和失效過程，對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)價(jià)更有指導(dǎo)意義。

但總體上，F(xiàn)IDES方法認(rèn)為：雖然微觀上來看，失效機(jī)理不能嚴(yán)格滿足“恒定失效率”，但對(duì)于許多離散的失效機(jī)理，隨著累積和時(shí)間的推移，在所考慮的一段時(shí)間范圍內(nèi)可以認(rèn)為失效率是恒定的。即使在單板上，元件的大量和多樣性的積累也使得故障率接近一個(gè)常數(shù)。在同一系統(tǒng)中的設(shè)備之間的壽命差異往往會(huì)使系統(tǒng)級(jí)的失效率為常數(shù)。對(duì)于系統(tǒng)可靠性的評(píng)估，利用恒定的故障率仍然是最推薦的方法。因此FIDES 2009等依然是基于217的失效率計(jì)算方法，即在器件基礎(chǔ)失效率的條件下進(jìn)行修正得到可靠性評(píng)價(jià)結(jié)果。