引言

半導體數字測試，特別是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件轉換而成的數字測試程序，往往需要擴展到多個DUT測試位點。本文討論了使用GtDio6x產品線和ATEasy進行多位點測試的系統硬件和軟件需求，以提供一個成本有效的解決方案。

數字設備設計注意事項

在設計多位點測試程序時，設計者可能無法完全明確成本和性能之間的取舍。在評估GX5296或GX5964系列動態數字儀器的性能和能力后，可以合理地推斷單個GtDio6x板卡的大量通道應該能夠支持多位點數字測試解決方案。雖然這種解決方案是可能的，但它并不能構建一個性能能滿足每個DUT測試位點都使用數字資源或板卡的測試系統。

基于逐個位點的多數字域的解決方案

Marvin Test Solutions公司建議設計基于每個位點的多數字域的多位點測試系統，以便每個DUT測試位點使用自己的數字資源，如圖1所示。該解決方案提供了最快的多位點測試性能，因為每個DUT測試位點可以獨立運行。

圖1 -多域解決方案框圖

使用這種配置方法，每個DUT測試位點都可以使用所有的數字資源。通過讀取實時比較(RTC)錯誤狀態寄存器，可以立即識別每個DUT測試位點的測試狀態。此外，系統可以設計成每個DUT測試位點使用相同的數字測試文件和測試程序。通過增加額外的數字領域，DUT測試位點可以很容易地擴展。使用ATEasy也可以輕松創建一個多線程測試程序來執行此測試。

表1 -多域解決方案的相對優點

基于單一數字域的解決方案

如圖2所示，使用單個數字域設計的多位點數字測試系統有幾個缺點。首先，每個測試位點不能再使用相同的數字文件。單一數字域的多位點數字測試解決方案需要一個獨立的應用程序從原始數字文件創建額外的測試位點。這個額外的應用程序需要將原始通道和矢量數據復制到所有新的DUT測試位點。

圖2 -單一域解決方案框圖

盡管僅讀取和評估記錄存儲器就可以確定所有DUT位點的狀態，但由于大多數數字測試的大小都非常大，這種方法并不實用，因為它會消耗太多的測試時間。 RTC錯誤地址內存包含高達1K的失敗向量地址，可以讀取每個地址的記錄內存來確定失敗的DUT位點。由于每個測試入口都表示一個失敗的位置，所以不會浪費時間從記錄內存中讀取大量部分來確定測試失敗。除非失效次數小于1k或以上所述所有DUT均已失效，否則無法確定所有DUT的狀態。在這種情況下，測試程序必須禁用失敗的測試位點，并重新運行數字測試，直到所有DUT測試位點的狀態已知。GtDio6x系列數字儀器提供了一種在檢測到故障時中止測試序列的方法;當出現故障時，該特性可以節省測試時間。 表2 -單域解決方案的相對優點

方案比較

以下是兩種方案的比較：

總結

除非半導體測試系統的空間(PXI插槽)十分寶貴，否則多位點測試系統在設計時還是應該為每個DUT測試位點提供一個數字域。雖然硬件的前期成本會很高，但這會在后期測試過程中帶來巨大的回報。這保證了盡可能快的測試時間并簡化了測試編程，在多位點數字測試系統的設計中，這些功能是至關重要的。

責任編輯：haq