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采用臨界粒子雷諾數(shù)方法去除晶圓表面的粘附顆粒

華林科納hlkn ? 來源:華林科納hlkn ? 作者:華林科納hlkn ? 2022-05-07 15:48 ? 次閱讀
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摘要

化學(xué)機(jī)械平面化后的葉片清洗,特別是刷子擦洗,是半導(dǎo)體器件制造的一個關(guān)鍵步驟,尚未得到充分了解。臨界粒子雷諾數(shù)方法用于評估在刷擦洗過程中去除晶圓表面的粘附顆粒,或者是否必須發(fā)生刷-粒子接觸。考慮了直徑為0.1和1.0m的氧化鋁顆粒粘附在拋光二氧化硅和銅表面的模型系統(tǒng)。結(jié)果表明,流體力學(xué)力量可以去除部分粘附顆粒,但必須發(fā)生刷狀顆粒接觸才能去除所有的粘附顆粒。

理論

粘附/移除模型:在得出任何關(guān)于粒子去除的結(jié)論之前,有必要了解在水動力流場中作用于粒子的力。圖1顯示了一個直徑為d的可變形顆粒,它粘附在運動流體中的表面上。在該模型中,粘附力(FA)、阻力(FD)和升力(FL)力和外部表面應(yīng)力矩(MD)是通過粒子暴露區(qū)域的中心起作用的。 這些力與接觸半徑(a)之間的關(guān)系,由于變形導(dǎo)致的粒子與表面之間的相對接近值a,和表面粗糙度ε,必須被理解為正確地描述顆粒的去除。

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圖1 粘性粒子和相關(guān)力的示意圖

分析

系統(tǒng)和條件:一般來說,cmp后的清潔將包括從各種表面去除各種顆粒尺寸和材料。不對稱的氧化鋁顆粒,尺寸為0.1和1.0mm,粘附在具有拋光二氧化硅表面的200毫米晶片上作為代表系統(tǒng)。為了進(jìn)行比較,還考慮了不對稱的氧化鋁顆粒粘附在類似的晶片上,但與銅表面。類似于圖中所示的單面、圓盤型刷式洗滌器的流體流動。 表一顯示了所考慮的商業(yè)刷式洗滌器的典型操作條件。

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表一 刷子擦洗模擬中的參數(shù)

流動剖面:多孔手指之間的流動輪廓刷和晶圓是復(fù)雜的,但如果有以下假設(shè),可以近似為刷徑向位置的函數(shù):(i)刷表現(xiàn)得好像它有一個均勻的固體表面,即無滑移邊界條件成立,(ii)刷子和晶片起到如下作用平行平板,底板固定,頂板以刷和晶片之間的相對速度移動,(iii)顆粒的極小尺寸防止它們干擾流場。刷子和晶片之間的流動取決于刷狀-晶片分離距離(D)和刷子指δ上的邊界層厚度之間的關(guān)系。當(dāng)它經(jīng)過晶圓片時。如果D>δ,刷子附近的速度剖面取決于邊界層的結(jié)構(gòu),而晶圓附近的速度文件是晶圓旋轉(zhuǎn)的函數(shù)。如果D≤δ,速度剖面可以近似為線性。

粘附力,附著力:CMP后粘在晶片表面的顆粒是不同的,是粗糙和不對稱的。有必要正確地描述粘附力對顆粒的組成、幾何形狀和形態(tài)的依賴性,或?qū)︻w粒去除所做的任何預(yù)測都會產(chǎn)生誤導(dǎo)。它可以準(zhǔn)確地預(yù)測不對稱粒子的粘附力。表三給出了這里所考慮的粒子和表面的粗糙度統(tǒng)計量和彈性模量。

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表三 用于計算不對稱Al2O3顆粒附著力的材料特性

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根據(jù)1.0mm氧化鋁顆粒粘附于拋光二氧化硅的歸一化刷徑向位置和分析程序,去除的顆粒百分比

結(jié)論

本文采用臨界粒子雷諾數(shù)方法來評估刷子擦洗過程中產(chǎn)生的水動力是否可以去除晶片表面的粘附顆粒,或者是否必須發(fā)生刷子粒子接觸。臨界粒子雷諾數(shù)取決于流體性質(zhì)、粘附粒子附近的速度剖面、作用在粒子上的粘附力和點滾動發(fā)生的周圍。采用時間相關(guān)的邊界層分析來確定刷擦洗過程中刷指和晶片之間產(chǎn)生的速度輪廓。刷-晶片分離距離必須小于或等于刷指上的邊界層厚度,以便刷誘導(dǎo)的流體在晶片表面附近顯著運動。采用一個經(jīng)過驗證的模型計算了感興趣的粒子的粘附力分布。該模型考慮了襯底化學(xué)、粒子和表面形貌和力學(xué)性能,以及相互作用表面的幾何形狀。然后,考慮到粘附力的變化和粗糙度對滾動發(fā)生點的影響,計算了每個粒徑的臨界粒子雷諾數(shù)分布。將這種分布與流粒子雷諾數(shù)進(jìn)行比較表明,在考慮的典型工作條件下,在cmp清洗后的過程中,水動力可以去除晶片表面的一些粘附顆粒,但必須發(fā)生刷狀顆粒接觸才能完全去除顆粒。

審核編輯:湯梓紅

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