1/f產品特性及優勢的介紹
將多種多樣的測量設備與探針臺進行整合是相當復雜的，這是因為在各種不同組成部分之間存在諸多的相互影響因素。在片的 1/f 噪聲測量是任何特性分析和建模測試系統至關重要的組成部分。由于靈敏度要求的原因，它們會很容易遭受外部干擾源的破壞。為了克服這些難題，我們必須擁有由眾所周知且經過預先驗證的配置構成的全面解決方案，從而確保包含所有的組成部分以完成盡可能好的測量。
MeasureOne 優勢
- 有保證的配置
- 準確和可重復的晶圓級 1/f 及 RTN 測量
- 經過預先驗證的系統配置
- 由專業的工程師負責安裝
- 由解決方案專家實現系統優化
解決方案組件
- Cascade 200 mm或300 mm半自動探針臺系統
- Velox? 軟件
- DCP 探針、ACP 探針、In?nity ?探針、或 |Z|?探針
- DPP 精準型 DC 定位器
- Keysight Technologies E4727A 高級低頻分析儀 (A-LFNA)
- Keysight Technologies B1500A 半導體器件參數分析儀
- Keysight Technologies WaferPro Express 軟件和 A-LFNA
審核編輯：符乾江
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