編者注:本文內(nèi)容看似簡單,但是簡單結(jié)果的背后卻隱藏著很多深層次的問題,歡迎大家給出你們的答案。此類問題在多個行業(yè)產(chǎn)品當(dāng)中常常會出現(xiàn)。
隨著信號速率的提升,以及小型化產(chǎn)品的發(fā)展趨勢,如何減小串?dāng)_變得越來越棘手。眾所周知,串?dāng)_與很多因素有關(guān)系,比如傳輸線之間的間距,傳輸線耦合的長度,攻擊信號的上升時間,阻抗不連續(xù)等等。因為串?dāng)_問題比較復(fù)雜,要是解決不好,還有可能會影響到其它信號完整性的問題。
今天給大家分享一個串?dāng)_引發(fā)損耗變大的問題。這類問題經(jīng)常出現(xiàn)在小型化的產(chǎn)品、連接器、線纜等產(chǎn)品中。
首先在ADS原理圖中搭建一個仿真電路,掃描仿真間距為11mil和60mil兩種情況。
運(yùn)行仿真之后查看插入損耗的結(jié)果:
Disable電路圖上的R1和R2:
仿真如下圖所示:
從結(jié)果上分析來看,去掉電阻后,距離為60mil時,結(jié)果幾乎沒有變化,但是間距為11mil時,結(jié)果卻完全不一致,產(chǎn)生了三個非常大的諧振點。這就足以導(dǎo)致產(chǎn)品不滿足設(shè)計的要求。
從上面仿真結(jié)果中,我們可以看到解決這個問題有兩個非常便捷常用的方式,要么拉大距離、要么做好端接。大家可以相互討論下有沒有其它的解決方案呢?答案肯定是有的,大家可以多多討論下。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:【干貨】高速電路中串?dāng)_引發(fā)的損耗問題
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