準(zhǔn)確，可重復(fù)的IV / CV測(cè)量 - 當(dāng)精確模型和數(shù)據(jù)變得關(guān)鍵時(shí)

最佳決策取決于最佳數(shù)據(jù)。

對(duì)于幾乎所有的器件類型和半導(dǎo)體技術(shù)， DC參數(shù)測(cè)量貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)的每個(gè)階段。它在高級(jí)材料研究，工藝特性，器件特性和建模，設(shè)計(jì)調(diào)試，工藝監(jiān)控和生產(chǎn)晶圓測(cè)試發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

精確且可重復(fù)的直流參數(shù)測(cè)量（IV，CV，脈沖和高功率）可降低不確定性。可靠的結(jié)果可加速產(chǎn)品認(rèn)證并生成更精確的模型和設(shè)計(jì)工具包，從而使設(shè)計(jì)師能夠更快地向市場(chǎng)提供更具競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品。

我們以此為目標(biāo)重新定義了分析測(cè)試系統(tǒng) - 為在片測(cè)試提供全新的電氣環(huán)境。通過消除可能破壞測(cè)試結(jié)果的環(huán)境因素，探針臺(tái)對(duì)于測(cè)量?jī)x器確實(shí)變得“隱形”。自從1991年第一臺(tái)MicroChamber探針臺(tái)問世以來，F(xiàn)ormFactor的Cascade探針臺(tái)系統(tǒng)產(chǎn)品始終具有相同的使命 – 獲得最佳數(shù)據(jù)以做出最佳決策，使客戶獲得成功

最佳決策取決于最佳數(shù)據(jù)。對(duì)于幾乎所有的器件類型和半導(dǎo)體技術(shù)， DC參數(shù)測(cè)量貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)的每個(gè)階段。它在高級(jí)材料研究，工藝特性，器件特性和建模，設(shè)計(jì)調(diào)試，工藝監(jiān)控和生產(chǎn)晶圓測(cè)試發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

精確且可重復(fù)的直流參數(shù)測(cè)量（IV，CV，脈沖和高功率）可降低不確定性。可靠的結(jié)果可加速產(chǎn)品認(rèn)證并生成更精確的模型和設(shè)計(jì)工具包，從而使設(shè)計(jì)師能夠更快地向市場(chǎng)提供更具競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品。

我們以此為目標(biāo)重新定義了分析測(cè)試系統(tǒng) - 為在片測(cè)試提供全新的電氣環(huán)境。通過消除可能破壞測(cè)試結(jié)果的環(huán)境因素，探針臺(tái)對(duì)于測(cè)量?jī)x器確實(shí)變得“隱形”。自從1991年第一臺(tái)MicroChamber探針臺(tái)問世以來，F(xiàn)ormFactor的Cascade探針臺(tái)系統(tǒng)產(chǎn)品始終具有相同的使命 – 獲得最佳數(shù)據(jù)以做出最佳決策，使客戶獲得成功

測(cè)試完整性面臨各方面的威脅

大量因素可能會(huì)破壞直流電性測(cè)試。由于外部環(huán)境的影響，電噪聲可能出現(xiàn)在數(shù)據(jù)中 - 例如，來自蜂窩網(wǎng)絡(luò)，無線電/電視塔和附近電子設(shè)備的電磁干擾和射頻干擾，以及溫度和振動(dòng)等物理因素。

測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部的因素也會(huì)影響結(jié)果 - 例如，設(shè)計(jì)不良的信號(hào)路徑產(chǎn)生的漏電流，電阻或熱電壓偏移，材料能量存儲(chǔ)以及來自于基本的探針臺(tái)系統(tǒng)組件的電噪聲，如電源，平臺(tái)電機(jī)，溫控系統(tǒng)和電腦。

如果管理不當(dāng)，這些因素會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏移和整個(gè)樣本集的統(tǒng)計(jì)分布增加，從而嚴(yán)重降低電性能。糟糕的數(shù)據(jù)是昂貴的 - 重新測(cè)試的時(shí)間，額外的建模周期，延遲的產(chǎn)品發(fā)布以及性能不佳的產(chǎn)品。

測(cè)試完整性面臨各方面的威脅

高質(zhì)量數(shù)據(jù)不會(huì)因意外事故而發(fā)生

FormFactor經(jīng)驗(yàn)豐富的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)一再提高電性測(cè)試的性能標(biāo)準(zhǔn)。不斷的創(chuàng)新，與我們尊貴的客戶一起精心的研究，開發(fā)了大量的高效率的技術(shù)套件：EMI / RFI和光屏蔽，電噪聲濾波，信號(hào)保護(hù)，單點(diǎn)接地，噪聲去耦，接觸電阻降低，電容和電感管理等等。所有這些技術(shù)在寬泛的溫度范圍和全自動(dòng)操作中都被證明是成功的，其中的挑戰(zhàn)呈指數(shù)級(jí)增長。

對(duì)電性測(cè)試完整性的細(xì)致關(guān)注是FormFactor分析探針臺(tái)系統(tǒng)的獨(dú)特之處，使客戶的成功與數(shù)據(jù)完整性相結(jié)合。

FormFactor引領(lǐng)行業(yè)數(shù)據(jù)完整性

經(jīng)過成千上萬的客戶數(shù)十年的嚴(yán)格應(yīng)用實(shí)踐，這些工具得到了驗(yàn)證，使得FormFactor成為分析探針臺(tái)系統(tǒng)的全球市場(chǎng)份額領(lǐng)導(dǎo)者。其他廠商可能只是聲稱測(cè)量性能，但是FormFactor可以證實(shí)它。請(qǐng)先了解這些技術(shù)FormFactor的全球演示中心。

FormFactor提供完整的生態(tài)系統(tǒng)，用于收集高質(zhì)量的在片電性測(cè)試數(shù)據(jù) - 帶有探針臺(tái)，載物臺(tái)，探針和電纜的完整解決方案。

DCP-HTR低噪聲高溫探針

低噪音FemtoGuard三軸高低溫載物臺(tái)

Takumi DC參數(shù)小間距探針卡

全新面世 - 全套解決方案

經(jīng)驗(yàn)豐富的銷售，應(yīng)用和設(shè)計(jì)工程師隨時(shí)準(zhǔn)備與您一起應(yīng)對(duì)最新的測(cè)試挑戰(zhàn)。無論是在手動(dòng)，常溫探針臺(tái)上測(cè)試單個(gè)樣品，還是使用全自動(dòng)多溫度工具管理大批量工程測(cè)試，F(xiàn)ormFactor都可以快速提供當(dāng)今快節(jié)奏和苛刻的商業(yè)環(huán)境所需的完整性數(shù)據(jù)。