Agilent4145B半導體參數分析儀
安捷倫4145B半導體參數分析儀
附加功能:
半導體器件的全自動高速DC表征
高分辨率、寬范圍源和測量。電流:1pA - 100mA，電壓:1mV - 100V
最多1150個測量和顯示點，用于精確測量和分析
靈活的圖形分析功能，可快速提取參數
內置微型軟盤驅動器，可存儲240個用戶程序或105個測量結果
Agilent 4145B是一款獨立的儀器，能夠對半導體器件和材料進行完整的DC表征。Agilent 4145B模擬電壓和電流敏感設備，測量產生的電流和電壓響應，并在內置CRT顯示器上以用戶可選的格式(圖形、列表、矩陣或圖表)顯示結果。
審核編輯 黃宇
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