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      8月22日|泰克云上大講堂—半導體可靠性熱載流子效應測試詳解

      泰克科技 ? 來源：未知 ? 2023-08-16 11:45 ? 次閱讀
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      芯片上更多器件和更快時鐘速度的不斷發展，推動了幾何形狀縮小、新材料和新技術的發展。由于更脆弱、功率密度更高、器件更復雜和新的失效機制，這些因素都對單個器件的壽命和可靠性產生了巨大的影響，可能僅有10年的壽命，即使是很小的壽命變化，對設備來說也可能是災難性的，所以器件的壽命和可靠性尤為重要。

      在現代超大規模集成電路中，熱載流子效應退化是一個相當重要的可靠性問題，熱載流子效應測試是半導體工業中非常重要的一個環節，用于評估半導體器件在實際應用中的可靠性，并推算器件使用壽命，從而提高產品的品質和穩定性。

      content

      本期直播預告

      本期云上大講堂，泰克高級應用工程師 劉建章將著重為大家介紹：

      ■熱載流子形成和分類

      ■熱載流子效應的機理

      ■熱載流子效應對半導體器件的影響

      ■熱載流子效應可靠性測試方案

      ■器件熱載流子效應的壽命估算

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      直播日程安排

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      時間

      2023年8月22日（周四）1445

      1400

      半導體可靠性熱載流子效應測試詳解

      1530

      互動答疑

      1545

      搶答有獎

      講師介紹

      劉建章

      泰克高級應用工程師

      主要負責西北區域的技術支持工作。多年以來一直在從事系統集成及測試測量相關工作，積累了豐富的產品開發流程及測試經驗。目前主攻方向包括半導體分立器件測試、晶圓可靠性測試、晶圓自動化測試等。

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      欲知更多產品和應用詳情，您還可以通過如下方式聯系我們：

      郵箱：china.mktg@tektronix.com

      網址：tek.com.cn

      電話：400-820-5835(周一至周五900)

      將您的靈感變為現實

      我們提供專業的測量洞見信息，旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉化為現實。
      泰克設計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案，從而突破復雜性的層層壁壘，加快您的全局創新步伐。我們攜手共進，一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準確地創造和實現技術進步。

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      原文標題：8月22日|泰克云上大講堂—半導體可靠性熱載流子效應測試詳解

      文章出處：【微信公眾號：泰克科技】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。

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      原文標題：8月22日|泰克云上大講堂—半導體可靠性熱載流子效應測試詳解

      文章出處：【微信號：泰克科技，微信公眾號：泰克科技】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。

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