可靠性測試主要是通過模擬不同環境來精準檢測半導體芯片的工作狀態，其核心目標是確保芯片能夠長期穩定運行。可靠性測試項目豐富多樣，涵蓋溫度測試、電壓測試、功能測試等多個維度。

半導體芯片測試

溫度循環測試
溫度循環測試的重要目的是全面評估不同溫度條件下半導體芯片的性能，這里的溫度條件包括常溫、極端高溫和低溫。一個完整的溫度循環包含了一段時間的高溫暴露和一段時間的低溫暴露。在高溫環境中，芯片的功耗會發生明顯變化，時鐘頻率的穩定性、信號完整性等關鍵性能指標都會受到嚴峻考驗。這是因為高溫會使芯片內部電子元件的熱運動變得異常劇烈，從而極大地改變其電學特性，進而對電路的正常運行產生重要影響。而在低溫環境下，該測試能夠有效檢測芯片的冷啟動性能、低溫下的功耗情況、時鐘穩定性以及材料和封裝的可靠性。這是由于低溫可能導致芯片封裝材料出現收縮現象，使得焊點承受更大的應力而變脆，甚至可能出現斷裂情況，這些問題都會直接影響芯片內部結構的穩定性和電氣連接的可靠性。

芯片測試

高溫存儲測試
高溫存儲測試的核心是模擬芯片在長期存儲過程中可能面臨的高溫環境，通過這種模擬來科學評估芯片的可靠性。該測試具有重要意義，它有助于準確預測芯片在實際使用過程中可能遇到的各類問題。基于測試所發現的問題，相關人員可以有針對性地從設計、材料、封裝等多個關鍵環節采取有效的改進措施，從而提高芯片的整體可靠性和穩定性。
跌落測試
跌落測試主要是為了評估芯片在受到物理沖擊時的性能表現，具體包括機械強度、封裝和焊接質量、內部結構和連接的穩定性等多個方面。通過該測試，能夠及時發現芯片潛在的機械弱點、封裝問題或連接無效等問題。例如，在物理沖擊下，芯片的封裝可能會出現裂縫，焊接點可能會脫落，內部的電路連接可能會斷裂，這些問題都將嚴重影響芯片的正常工作。因此，跌落測試對于確保芯片在實際使用過程中能夠承受一定的物理沖擊，保證其可靠性具有重要作用。

芯片測試

加速應力測試
加速應力測試主要是通過施加極端的電壓和溫度條件，如高溫、高濕、壓力和偏壓值等，來加速芯片在短時間內的老化和故障模式。這種測試方法的原理是，在極端條件下，芯片內部的各種潛在缺陷和薄弱環節會被快速激發出來，從而能夠在較短的時間內評估芯片的可靠性和使用壽命。這些極端條件與芯片在實際使用環境中可能遇到的惡劣條件具有一定的相關性，通過加速應力測試，能夠為芯片的設計優化、材料選擇和生產工藝改進提供重要的參考依據，確保芯片在實際使用過程中能夠長期穩定運行。

審核編輯 黃宇