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2023年P(guān)CIM Asia國際電力元件、可再生能源管理展覽會已于2023年8月29日，在上海新國際博覽中心正式開幕！

展會介紹

? 專注電力電子領(lǐng)域的國際展覽會及研討會之一，立足行業(yè)二十余載

?展示電力電子、智能運動、可再生能源及能源管理前沿技術(shù)產(chǎn)品及案例分享

?國際研討會發(fā)表國內(nèi)外最新學(xué)術(shù)成果，深入探討電力電子行業(yè)技術(shù)發(fā)展趨勢

?多個主題專區(qū)聚焦電力電子關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案

泰克攜重量級半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)及模擬芯片全棧式測試解決方案亮相PCIM Asia 2023，誠邀各位工程師來現(xiàn)場交個“芯”朋友，助您更懂您的“芯”~

想了解得更具體些？

Here We Go！

重量級半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)繼慕尼黑電子展后再度亮相！

半導(dǎo)體功率器件動態(tài)特性測試系統(tǒng)

DPT1000A功率器件動態(tài)測試系統(tǒng)由泰克科技領(lǐng)銜開發(fā)，專門用于針對三代半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設(shè)計高速工作的驅(qū)動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號測試，如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設(shè)計和試產(chǎn)階段，快速評估器件性能，更快應(yīng)對市場需求改善產(chǎn)品性能。

系統(tǒng)主要特點

定制化系統(tǒng)設(shè)計 , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動電路

自動化測試軟件，測試功能豐富 , 可以自動配置參數(shù)，測試和生成數(shù)據(jù)報告

高帶寬/高分辨率測試設(shè)備 , 在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件

覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測試

可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復(fù)、Qg、短路測試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測試功能

動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)

HTXB-1000D動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對以 SiC/GaN 為首的新型三代半導(dǎo)體功率器件，根據(jù)其特有的器件結(jié)構(gòu)和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件 ( 包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力 )，用以測試功率器件器件的漏流指標(biāo)，以及其他典型特性參數(shù) ( 例如閾值開啟電壓，導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo) )，以表征器件的老化特性和工作壽命。可以讓器件生產(chǎn)廠商和器件使用者在較短時間內(nèi)了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行預(yù)判和分析。

該動靜態(tài)壓力綜合老化測試系統(tǒng)用于批量 SiC/GaN器件老化測試，通過測試數(shù)據(jù)可以研究SiC/GaN器件的典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關(guān)信息并表征老化特性。

模擬芯片流程全棧式測試方案

芯片從晶圓到封裝為終端客戶使用的過程中，不同職能工程師會在各個階段進(jìn)行不同的測試，確保產(chǎn)品的安全性，穩(wěn)定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的測試解決方案助力模擬芯片全流程的測試測量需求。

隔離驅(qū)動芯片測試

時序及抖動測試

CMTI測試

DC-DC芯片測試

包括多相均流時序驗證、極小紋波時頻域驗證、電源抑制比驗證（PSRR）、PSIJ等。

電源抑制比驗證（PSRR）

AC-DC芯片測試

電驅(qū)及逆變測試

更多芯片測試方案待您解鎖，

期待您蒞臨現(xiàn)場技術(shù)交流！

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泰克展位號：

上海新國際博覽中心 W2號館2B07

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