TRI推出高性能3D AXI
來源：Silicon Semiconductor
Test Research, Inc. (TRI) 推出了TR7600 SV系列。
3D AXI突破性的性能比其前一代、屢獲殊榮的TR7600系列提高了20%。
TR7600 SV具有7 μm分辨率，可保證高分辨率和高良率檢測。TRI的AXI配備了AI算法，優(yōu)于常用的基于灰度的算法。AI算法可以準(zhǔn)確檢測空洞缺陷。
從汽車電子到電信和高通量生產(chǎn)領(lǐng)域等行業(yè)都將受益于TR7600 SV系列的快速圖像重建和缺陷檢測功能。TRI的X射線檢測解決方案在檢測時(shí)將樣品固定在傳送帶上，防止進(jìn)一步損壞。該系統(tǒng)提供可調(diào)節(jié)的成像參數(shù)，用于定制檢查和在線微調(diào)功能。
TR7600 SV支持當(dāng)前的智能工廠標(biāo)準(zhǔn)，包括IPC-CFX、IPC-DPMX和Hermes標(biāo)準(zhǔn) (IPC-HERMES-9852)。
審核編輯 黃宇
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