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關于產測工具的連載文章

【技術專欄】泰凌微電子產測工具使用方式一

【技術專欄】泰凌微電子產測工具使用方式二

【技術專欄】泰凌微電子產測工具使用——配置帶PA芯片的測試腳本

量產工具開始測試后，界面出現load err，

該怎么解決？

解答：load err產生的原因是sws數據線通訊不正常，屬于常見錯誤。

量產工具測試流程是Jig evk板子通過sws線把測試固件加載到dut的ram中，當這個過程出現的錯誤就會提示load err。出現問題后先檢查下連線是否存在異常，大部分就可以解決。接線方式如下：

參考文檔：《AN_18102501-C1_Assembly and Maintenance Manual for Telink BLE 1x6 Test System》

點擊start之后，窗口提示err open database，

該如何解決？

解答：軟件打開時會生成數據庫文件，每次“RUN”都會保存燒錄狀態到數據庫文件里面，文件路徑“EvkMonitordatabase[日期][時間].db”。如果[日期]或者[時間]有中文，或者軟件所在目錄有中文或者空格，都會導致數據庫文件生成失敗。除此之外還要檢查電腦日期是否帶中文，若帶中文星期幾也不行，可以按照如下方法修改系統時間格式：

點擊右下角的時間，將時間設置中的星期去掉。

如果以上都沒有問題，則檢查test.tls中的##test_name:測試項名稱是否有同名，若有同名請修改，此處同名會導致生成的config.ini文件中ITEM的name有同名，此時就會創建數據庫失敗。

參考文檔：《AN_18101001-C2_Telink EvkMonitor User Guide.pdf》

在EvkMonitor軟件上如何打開log信息？

解答：在Tcon下打開log然后根據你命名的USB_ID進行選擇，命名為0就選擇EVK0

如果彈出下面的窗口，怎么辦？

彈出窗口直接點擊在確認后會出現下面窗口點擊確定就可以使用log了。

通過log信息我們能快速定位出錯原因。如下面報錯是接收靈敏度不過，那可能是天線測試距離過遠，或者閾值需要調整。接口的具體說明可參考《AN_20021101-C1_Decription of the Script test.tls of EVK Testbench BLE 2M Flash.pdf》

在燒錄固件時，出現flash CRC err，

如何解決？

解答：這代表當你更換BIN文件時沒有完全擦除之前的BIN文件，需要重新設置擦除值。

具體操作：可以在腳本文件text.tls中更改擦除大小，這里需要注意設置的擦除值必須是4的倍數同時比你導入的BIN文件要大。

另一種方法是可以打開EVK——Configure——lastTemplate配置界面。

在這里來修改你的擦除值。

生產過程中，出現IdLimit該怎么解決？

解答：這種情況是工具上配置的mac地址用完了，重新設置即可。具體燒錄方式可以看下往期的文章，里面有詳細介紹。

注：文中所提參考文檔及軟件可聯系泰凌銷售獲取：telinksales@telink-semi.com。

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泰凌微電子致力于為客戶提供一站式的低功耗高性能無線連接SoC芯片解決方案，包括經典藍牙，藍牙低功耗，藍牙Mesh，Zigbee，Thread，Matter，Apple HomeKit，Apple“查找（Find My）”，和私有協議等低功耗2.4GHz多協議無線連接系統級芯片和豐富的固件協議棧。公司產品廣泛應用于智能照明，智能家居/樓宇，智能遙控，無線外設，智能零售，穿戴設備，無線音頻，智能玩具，物流追蹤，智慧城市等各類消費和商業應用場景中。