在電子產(chǎn)品的驗(yàn)證測(cè)試中，靜電測(cè)試是非常重要的一項(xiàng)。

靜電放電可能會(huì)造成電子產(chǎn)品如手機(jī)，智能鎖等發(fā)生突然性失效或者潛在性失效，使得電子產(chǎn)品出現(xiàn)故障或性能下降，所以針對(duì)靜電測(cè)試是電子產(chǎn)品上市的一個(gè)重要步驟。

靜電測(cè)試一般分為兩種，一種是接觸式的靜電測(cè)試，一種是非接觸靜電測(cè)試 ，這兩種的電壓值要求也是不一樣的，在工業(yè)防靜電標(biāo)準(zhǔn)中：接觸防靜電電壓6kV，非接觸防靜電電壓8kV。

在進(jìn)行靜電測(cè)試之前，需要先連接好準(zhǔn)備測(cè)試的設(shè)備，確保測(cè)試前的設(shè)備是正常運(yùn)行的，然后連接靜電放電測(cè)試儀，把測(cè)試儀的地線和設(shè)備的地線相互連接在一起，從而形成放電回路。

對(duì)于接觸靜電測(cè)試， 測(cè)試過(guò)程中需要測(cè)試的項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等等。

開(kāi)始正式測(cè)試，將測(cè)試靜電電壓從2kV開(kāi)始增加，每次遞進(jìn)2kV，一直到20kV，也就是2，4，6，8，... ,16，18，20kv這些靜電電壓。

然后開(kāi)始測(cè)試放電，分為兩種頻率，一種是一秒鐘放電一次（低頻靜電放電測(cè)試），一種是0.1秒鐘放電一次（高頻靜電放電測(cè)試），不過(guò)兩種頻率每次測(cè)試放電次數(shù)都是10次。

測(cè)試通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)是：硬件無(wú)任何損壞，通訊一切正常，數(shù)據(jù)沒(méi)有丟失或錯(cuò)誤等情況。

如果測(cè)試沒(méi)有通過(guò)，比如在測(cè)試某一靜電電壓項(xiàng)目時(shí)，硬件發(fā)生了損壞，通訊異常或其他不正常的情況，測(cè)試不會(huì)向更高的標(biāo)準(zhǔn)繼續(xù)測(cè)試，而只是統(tǒng)計(jì)當(dāng)前的測(cè)試結(jié)果內(nèi)容。如果需要統(tǒng)計(jì)臨界靜電電壓測(cè)試結(jié)果（出現(xiàn)異常的臨界值），可以進(jìn)一步調(diào)節(jié)電壓的遞進(jìn)值，比如0.5kV或者0.25kV等，從而提高精度。

在測(cè)試順序上也是有講究的，先確定電壓，再確定頻率，電壓由低到高，頻率由慢到快。（在提高精度的測(cè)試中同樣也是如此）

測(cè)試過(guò)程中，先將靜電槍對(duì)準(zhǔn)被測(cè)試項(xiàng)目（接口，表面機(jī)箱等），然后扣動(dòng)靜電槍扳機(jī)，待10次放電全部結(jié)束后松開(kāi)扳機(jī)，開(kāi)始下一次測(cè)試，如此反復(fù)下去。

對(duì)于非接觸靜電測(cè)試， 測(cè)試內(nèi)容與儀器都一樣，只不過(guò)在測(cè)試過(guò)程中，靜電槍一開(kāi)始是要和被測(cè)設(shè)備保持相隔5厘米以上的，當(dāng)按下扳機(jī)后，控制靜電槍向被測(cè)設(shè)備靠近，待空氣放電結(jié)束后，然后將靜電槍從被測(cè)項(xiàng)目的表面移開(kāi)，松開(kāi)扳機(jī)，開(kāi)始下一次測(cè)試，如此反復(fù)下去。

需要注意的點(diǎn)：

**a, **測(cè)試過(guò)程中，一般不能直接對(duì)芯片進(jìn)行靜電放電，如果真的有對(duì)特定芯片的靜電放電驗(yàn)證測(cè)試需求，應(yīng)該盡量減少每次電壓增加的幅度，使測(cè)試更加準(zhǔn)確

**b, **測(cè)試過(guò)程中，每次測(cè)試的時(shí)間間隔不能太短，需要留給系統(tǒng)足夠的恢復(fù)時(shí)間（電荷釋放的時(shí)間），一般是10秒，然后開(kāi)始進(jìn)行下一次測(cè)試