同其他車用電子零部件一樣，車規(guī)級功率半導體也須通過AEC-Q100認證規(guī)范所涵蓋的7大類別41項測試要求。對于傳統(tǒng)的硅基半導體器件，業(yè)界已經(jīng)建立了一套成熟有效的測試評估流程。而對于近兩年被普遍應用于開發(fā)800V超充技術的三代半導體碳化硅（SiC）材料而言，由于其面世時間較短，缺陷暴露不充分，失效機理不清晰，對其進行科學有效的評估和驗證至關重要。

為了幫助產(chǎn)業(yè)更好的應對SiC所帶來的測試驗證挑戰(zhàn)，各大汽車檢測認證機構正逐步建立起符合AEC-Q100認證規(guī)范要求的完整SiC器件/模塊測試評估能力；而動態(tài)可靠性測試作為整個評估體系的重要一環(huán)，往往是機構在搭建相關驗證能力時所關注的焦點。泰克作為全球領先的測試測量設備商，針對SiC器件/模塊可提供以下全流程測試驗證解決方案，相關方案已被各大汽車檢測認證機構廣泛采用，備受好評。

DPT1000A功率器件動態(tài)測試系統(tǒng)由泰克科技領銜開發(fā)，專門用于針對三代半導體功率器件的動態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅(qū)動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設計和試產(chǎn)階段，快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產(chǎn)品性能。

定制化系統(tǒng)設計 , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動電路

自動化測試軟件，測試功能豐富 , 可以自動配置參數(shù)，測試和生成數(shù)據(jù)報告

高帶寬/高分辨率測試設備 , 在高速開關條件下準確表征功率器件

覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測試

可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復、Qg、短路測試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測試功能

HTXB-1000D動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對以 SiC/GaN 為首的新型三代半導體功率器件，根據(jù)其特有的器件結(jié)構和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力），用以測試功率器件器件的漏流指標，以及其他典型特性參數(shù)（例如閾值開啟電壓，導通電阻等關鍵指標），以表征器件的老化特性和工作壽命。可以讓器件生產(chǎn)廠商和器件使用者在較短時間內(nèi)了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應用過程中可能出現(xiàn)的故障進行預判和分析。

該動靜態(tài)壓力綜合老化測試系統(tǒng)用于批量SiC/GaN器件老化測試，通過測試數(shù)據(jù)可以研究SiC/GaN器件的典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關信息并表征老化特性。

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