探頭對測量可能引起的10種影響

①探頭的帶寬對測量系統帶寬的影響：濾波效應

②探頭自身的電路對被測電路特性的影響：負載效應/諧振效應

③探頭高、低頻電容的補償效應

④探頭的地線長短、地線的位置、形狀，探頭擺放位置等引起的輻射耦合：天線效應

⑤探頭的接地環境引起的傳導耦合

⑥浮地測量的是與非

⑦探頭和探頭之間地環路的干擾問題

⑧有源探頭本身的噪聲影響：信噪比問題

⑨探頭的衰減比引起的噪聲同步放大：量化誤差問題

⑩探頭的衰減比隨工作年限而變化：電阻值的漂移問題

探頭的帶寬對測量系統帶寬的影響：濾波效應

探頭自身的電路對被測電路特性的影響：負載效應

無源探頭在相對高頻時測量的限制

探頭在使用前要進行補償

探頭的諧振效應

地線的問題

浮地測量的問題

信噪比問題

探頭的衰減電路引起的量化誤差問題

公司目前致力于示波器測試附件配件研發、生產、銷售，涵蓋產品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等。

審核編輯 黃宇