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半導體分立器件測試儀

hustec ? 來源:hustec ? 作者:hustec ? 2024-05-20 16:50 ? 次閱讀

HUSTEC-DC-2010分立器件測試儀,是我司團隊結(jié)合多年半導體器件測試經(jīng)驗而研發(fā)的,可以應用于多種場景,如:

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測試分析(功率器件研發(fā)設計階段的初始測試)

失效分析(對失效器件進行測試分析,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提 出改善方案)

選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對)

來料檢驗(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

量產(chǎn)測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試)

產(chǎn)品為桌面放置的臺式機結(jié)構(gòu),由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數(shù)等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產(chǎn)測試”等不同場景。

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產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現(xiàn)一點即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本。

產(chǎn)品特點

(1) 可測試 7 大類 26 分類的各類電子元器件

(2) PC 機為系統(tǒng)的主控機;

(3) 基于 Lab VIEW 平臺開發(fā)的填充式菜單軟件界面;

(4) 自動識別器件極性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC,100K/S 采樣速率;

(6) 程控高壓源 10~1400V,提供 2KV 選配;

(7) 程控高流源 1uA~40A,提供 100A,300A,500A 選配;

(8) 驅(qū)動電壓 10mV~40V;

(9) 控制極電流 10uA~10mA;

(10) 四線開爾文連接保證加載測量的準確;

(11) 通過 RS232 接口連接校準數(shù)字表,對系統(tǒng)進行校驗;

(12) Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)

(13) 可為用戶提供豐富的測試適配器

(14) 連接分選機測試量為每小時 1 萬個

(15) 可以測試結(jié)電容,諸如 Cka,Ciss,Crss,Coss;

(16) 脈沖電流自動加熱功能,方便高溫測試,無需外掛升溫裝置;

審核編輯 黃宇

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