光功率是光學研究中的核心參數之一，它不僅能夠反映光源的強度、光學元件的透射效率以及光束聚焦的效果，還能夠通過其變化來評估整個光學系統的性能表現。在光通信系統中，發射端產生光功率，而接收端則負責接收該光功率。無論是光纖的衰耗測試還是接頭衰耗的測量，實質上都是在測定光纖兩端之間的光功率差異。值得注意的是，在光通信領域，光功率通常較為微弱，范圍大致介于納瓦(nW)到毫瓦(mW)級別之間，這對用于檢測光功率的儀表——如光功率計的精確度和靈敏度提出了相當高的要求。

是德科技的N77-C系列光功率計，針對多樣化的應用場景，提供了豐富的選擇，包括多端口光功率計、高功率光功率計、高靈敏度光功率計，以及配套的光探頭主機和光探頭。無論您的需求是什么，這個系列的產品都能為您提供精確而可靠的測量解決方案。接下來，就讓我們一起深入了解是德科技的這一系列光功率計儀表，探索它們的獨特之處與卓越性能。

01

高功率光功率計

N7742C和N7743C是緊湊型高速光功率計，配備了模擬反饋輸出功能，能夠高效測量輸入光信號的光功率。這兩款設備支持的波長范圍可擴展至800nm，并覆蓋了850nm和970nm波段，適用于多模光纖通信及車載光纖通信中使用的特殊波長。特別地，N7743C型號將最大輸入功率提升到了+20dBm，從而能夠測量具有更高輸入光功率的待測件。這些特性使得N7742C和N7743C成為處理多種復雜應用場景的理想選擇。

N7742C和N7743C主要用于：

? 通用光功率測量；

? 多模光信號光功率測量；

? 光纖車載以太網；

? 光纖對準；

02

多端口光功率計

N7744C和N7745C是緊湊型、高密度、高速多端口光功率計，能夠支持多達8個端口。在進行多端口波長掃描測試時，這兩款設備與高速、高精度的TSL可調諧激光器配合使用，可以在雙向200nm/s的高速掃描中提供低至0.1pm的測試分辨率。此外，它們配備了獨特設計的4合1磁吸式連接器，每個連接器包含4個相同類型的端口，支持包括FC、LC以及裸纖在內的多種光纖類型連接。當需要在多個待測光路之間切換時，可以預先將各個待測光路連接到磁吸式連接器上，從而實現更加便捷高效的操作體驗。這種設計不僅提升了測試效率，還極大地簡化了多端口測試過程中的操作復雜度。

N7744C和N7745C主要用于：

? 通用光功率測量；

? 多端口、高密度場景下的光功率測量；

? 配合TSL可調諧激光器等儀表，實現IL/PDL掃描測試；

03

高靈敏度光功率計

N7747C和N7748C具備模擬反饋輸出功能，以極低的噪聲和漂移著稱。這兩款設備為每個端口提供了模擬輸出支持，能夠根據光功率測量結果提供線性或對數輸出反饋。其端口連接器可替換，兼容包括FC、SC、LC、MU在內的多種光纖類型，增強了設備的靈活性和適用性。它們能夠實現對低至-110dBm的輸入光信號進行精確測量，并在800至1700nm的寬波長范圍內展現出卓越的測試靈敏度。這些特點使得N7747C和N7748C成為需要高精度和高穩定性的光學測試應用的理想選擇。

該設備主要用于：

? 通用光功率測量(支持SM和MM)；

? 計量場景下高精度、高靈敏度光功率測量；

04

光探頭主機&光探頭

是德科技的N7749C和8162XC系列光探頭接口及光探頭，依據采用的傳感器材料的不同，能夠覆蓋廣泛的波長范圍和輸入光功率水平，滿足多樣化的光信號測試需求。該系列光探頭的設計允許探測器在位置安排和應用場景上擁有更高的靈活性與適應性。面對高光功率測試需求時，用戶可以選擇使用積分球來實現最高可達+40dBm的光功率檢測。這種設計不僅提升了測試的精確性和可靠性，同時也為不同測試場景提供了更大的便利性和適應性。

N7749C和8162XC系列主要用于：

? 通用光功率測量；

? 使用積分球進行高功率測量；

? 使用光探頭進行空間光束功率測量；

是德科技光功率計相關解決方案

01

波長掃描光無源測試系統

隨著數據中心和光通信領域的迅猛發展，光無源器件已經取得了顯著的進步，如今大量無源光器件，例如光分路器、光復用與解復用器、光濾波器等得到了廣泛應用。對于那些技術相對成熟的無源光芯片的測試，主要集中在測量插入損耗（IL）、偏振相關損耗（PDL）以及回波損耗（RL）等方面。傳統的測試方法通常依賴于寬帶光源結合光譜分析儀來完成這些測試。然而，為了實現更高的波長分辨率和更寬的測試動態范圍，采用高性能或快速可調諧光源配合多通道功率計進行掃描測試通常是更為準確的選擇。尤其是在評估多通道器件（如波分復用器件）或需要精確測量偏振相關損耗的情況下，結合使用可調諧光源、偏振控制器以及多通道光功率計往往是唯一可行的高效測試方案。這種方法不僅能夠提供更加精確的測試結果，還能適應更為復雜的測試需求，為光通信系統的優化提供了堅實的基礎。

光無源器件測試平臺

02

混合光有源器件直流波長響應測試方案

混合光電芯片/器件指的是將有源組件（例如光電轉換器）與無源組件（如光解復用器）集成在單一芯片或器件上的技術。這種集成方式能夠有效地提升設備的功能性和效率，同時也為測試帶來了新的挑戰。針對混合光電芯片/器件進行直流波長響應的測試時，可以采用類似于測試光無源器件的系統平臺。不過，二者之間存在一個關鍵的不同點：混合光電芯片/器件的輸出接口是電信號接口，而不是光信號接口。這意味著在測試過程中，除了使用標準的光學測試設備外，還需要通過精確的直流源表來測量電輸出性能。例如，是德科技的B2900系列精密直流源表就能提供所需的精度和功能，確保對混合光電芯片/器件的準確測試。

ICR直流特性測試平臺

隨著光芯片研發的深入，除了傳統的光器件測試外，光芯片的On-wafer測試需求日益增長，成為研發和測試人員關注的重點。在進行光芯片測試時，如何高效且準確地將光芯片上的光信號通過光纖耦合到測試系統中，是確保測試成功的關鍵步驟之一。

是德科技（Keysight）的N77-C系列光功率計為這一過程提供了強大的支持。該系列設備能夠提供與光功率測量結果相關的模擬反饋輸出，支持線性和對數兩種模式。這種反饋機制使得在進行光纖耦合時，可以根據光功率的測量結果實時調整耦合參數，以達到最佳耦合效率。特別是在低光功率條件下，對數模式能提供更高的靈敏度，從而保證了測量的準確性。