大家好,eIQ Time SeriesStudio又和大家見面啦!本章為大家?guī)砉ぞ吆诵牟糠?模型訓(xùn)練。
Training模塊,用于Dataset模塊加載數(shù)據(jù)集后的模型訓(xùn)練。Training功能是核心技術(shù),包括數(shù)據(jù)預(yù)處理、算法超參數(shù)自動(dòng)化搜索、基準(zhǔn)測(cè)試以及針對(duì)有限的Flash和RAM大小進(jìn)行最佳精度擬合優(yōu)化。模型性能也可以通過各種基準(zhǔn)指標(biāo)進(jìn)行評(píng)估。
功能布局
下圖顯示了“Training”模塊的布局,分為三個(gè)部分:
左側(cè)框架顯示了訓(xùn)練的所有記錄
中間的框架顯示了訓(xùn)練的配置信息和優(yōu)化過程
右側(cè)框架顯示了指定模型的驗(yàn)證集的基準(zhǔn)結(jié)果
左側(cè)框包含兩部分:Training Records和Models。
Training Records:記錄了用戶創(chuàng)建的所有訓(xùn)練任務(wù)。
Models:記錄了特定訓(xùn)練任務(wù)生成的算法模型;默認(rèn)情況下,模型按得分降序排列。得分取決于 RAM/Flash 占用大小以及基準(zhǔn)測(cè)試的一些常見評(píng)估指標(biāo)。
中間框包含兩部分:Training Info和Training。
Training Info:記錄了訓(xùn)練的時(shí)間、進(jìn)度和配置信息,包括日期、最大 RAM、最大 Flash、是否使用快速搜索、on-Device learn(僅用于異常檢測(cè))、訓(xùn)練/驗(yàn)證集比例和訓(xùn)練所用的數(shù)據(jù)文件。
Training:記錄了自動(dòng)機(jī)器學(xué)習(xí)的平衡準(zhǔn)確率、Flash 和 RAM 使用的變化曲線。
右側(cè)框架中的信息因不同的任務(wù)類型而異,將在后續(xù)內(nèi)容中詳細(xì)介紹(基準(zhǔn)信息)。
訓(xùn)練過程
介紹如何開始、暫停、停止和管理訓(xùn)練。
點(diǎn)擊“Start New Training”按鈕,會(huì)出現(xiàn)一個(gè)彈框供用戶配置。在點(diǎn)擊“Start”按鈕之前,請(qǐng)檢查針對(duì)不同算法任務(wù)可配置的選項(xiàng)。通常,用戶可以在不更改配置的情況下進(jìn)行訓(xùn)練并獲得最佳結(jié)果。
配置選項(xiàng)
異常檢測(cè)的配置選項(xiàng)如下。異常檢測(cè)算法基于半監(jiān)督機(jī)器學(xué)習(xí),它支持在設(shè)備上進(jìn)行增量學(xué)習(xí)。
如果算法僅用于預(yù)測(cè),請(qǐng)不要使能“On-Device Learn”這將會(huì)導(dǎo)致更大的 RAM/Flash占用
如果使用的數(shù)據(jù)集存在變化,可以啟用“On-Device Learn”以允許在設(shè)備上進(jìn)行訓(xùn)練
如果想快速獲得訓(xùn)練結(jié)果,請(qǐng)啟用“Quick Search”。此模式的搜索范圍不如默認(rèn)模式大
以下是分類和回歸的配置選項(xiàng):
共同的選項(xiàng):
配置Train/Val Ratio,如果train/emulation準(zhǔn)確率不匹配或超出范圍,則調(diào)整數(shù)據(jù)文件中訓(xùn)練集和驗(yàn)證集的比例并再次訓(xùn)練和仿真。
訓(xùn)練配置完成或設(shè)置為默認(rèn)值后,單擊“Start”按鈕開始訓(xùn)練,等待訓(xùn)練完成。
完成培訓(xùn)的時(shí)間取決于:
數(shù)據(jù)集的大小
選擇了什么樣的算法任務(wù)
不同的訓(xùn)練配置也可能導(dǎo)致不同的時(shí)間開銷
訓(xùn)練開始時(shí),訓(xùn)練進(jìn)度條會(huì)不斷更新,計(jì)時(shí)器會(huì)一直計(jì)時(shí),直到100%完成。
暫停/停止訓(xùn)練 在訓(xùn)練過程中,可以選擇點(diǎn)擊“Stop”按鈕停止訓(xùn)練或點(diǎn)擊“Pause”按鈕暫停訓(xùn)練,左側(cè)模型列表中存在的算法,可以被使用。
暫停后,可以在左側(cè)模型列表中查看任意模型的訓(xùn)練結(jié)果,或者點(diǎn)擊“Resume”按鈕繼續(xù)訓(xùn)練。
訓(xùn)練記錄管理
任務(wù)完成后,此次的訓(xùn)練信息將被記錄到訓(xùn)練記錄中,訓(xùn)練出的算法模型將會(huì)按照性能排序出現(xiàn)在模型列表中。
點(diǎn)擊“flowchart”和“report”按鈕,查看或下載相應(yīng)模型的流程圖和報(bào)告,以供進(jìn)一步參考。
從列表中選擇任意算法并點(diǎn)擊,可獲取如下基準(zhǔn)詳細(xì)信息。在訓(xùn)練圖中,紫色箭頭坐標(biāo)指示當(dāng)前選定的算法模型,用戶可以查看自動(dòng)機(jī)器學(xué)習(xí)訓(xùn)練曲線以及每個(gè)模型對(duì)應(yīng)的平衡準(zhǔn)確率、Flash和RAM使用情況。
另外,可以點(diǎn)擊“Delete”按鈕刪除相應(yīng)的訓(xùn)練記錄,刪除后該訓(xùn)練記錄下的所有模型信息也會(huì)同時(shí)被刪除。
模型列表與代碼許可
為了滿足用戶對(duì)算法透明度的要求,我們會(huì)根據(jù)發(fā)布版本保持所有支持模型的列表更新:
該表格重點(diǎn)展示了以下信息:
每項(xiàng)任務(wù)對(duì)應(yīng)的模型
用于訓(xùn)練的Python代碼源
Python代碼的許可證類型
C代碼來源
基準(zhǔn)信息
支持時(shí)間序列的數(shù)據(jù)集的算法有三類,分別是異常檢測(cè)、分類和回歸?;鶞?zhǔn)信息因算法類型的不同而不同。
異常檢測(cè)基準(zhǔn)信息
Balanced Accuracy: 從類別中獲得平衡準(zhǔn)確率。
F1: F1分?jǐn)?shù)是反映分類器全局性能的指標(biāo),其值范圍為0到1。
Recall:召回率是分類器找出所有正樣本的能力,值的范圍是0~1。
Flash:所選算法所需的最小Flash。
RAM:所選算法所需的最小RAM.
Execution Time: 基于LPC55S36(Cortex-M33,150 MHz,啟用硬浮點(diǎn))平臺(tái)進(jìn)行一次推理的估計(jì)時(shí)間,同時(shí)您可以通過點(diǎn)擊時(shí)鐘按鈕來獲取執(zhí)行時(shí)間。
將鼠標(biāo)懸浮在指標(biāo)上,可查看它的解釋說明和對(duì)應(yīng)的計(jì)算公式。
驗(yàn)證集結(jié)果分析:
在訓(xùn)練過程中,部分?jǐn)?shù)據(jù)會(huì)不時(shí)用于驗(yàn)證。訓(xùn)練曲線反映了這些結(jié)果,并作為準(zhǔn)確性指標(biāo)來衡量模型的性能。
x 軸表示驗(yàn)證樣本的索引(對(duì)于異常檢測(cè),所有樣本都用于驗(yàn)證,而分類則根據(jù)訓(xùn)練/驗(yàn)證比例來驗(yàn)證)
y 軸表示概率,其值標(biāo)準(zhǔn)化為0到1之間
綠點(diǎn)表示預(yù)測(cè)正確的樣本點(diǎn),紅色表示預(yù)測(cè)異常的樣本點(diǎn)
學(xué)習(xí)曲線:
對(duì)于支持“On-DeviceLearn”的模型,提供了學(xué)習(xí)曲線,展示了在訓(xùn)練過程中添加更多樣本的效果。
混淆矩陣:
對(duì)于異常檢測(cè),混淆矩陣表包含正常和異常結(jié)果:
同時(shí),您可以通過點(diǎn)擊百分比(%)按鈕來獲取百分比結(jié)果:
也可以通過點(diǎn)擊箭頭按鈕來查看統(tǒng)計(jì)結(jié)果:
分類算法基準(zhǔn)信息 對(duì)于分類任務(wù),一些評(píng)估指標(biāo)與異常檢測(cè)一致,例如平衡準(zhǔn)確率、RAM、Flash和F1。
混淆矩陣:
對(duì)于分類,混淆矩陣表重新縮放以適應(yīng)所有類別,如下圖所示:
回歸算法基準(zhǔn)信息
R2:決定系數(shù):
其公式可在回歸仿真指標(biāo)部分找到。
算法驗(yàn)證結(jié)果:
對(duì)每個(gè)target,都繪制了驗(yàn)證集的預(yù)測(cè)目標(biāo)值。
x軸表示驗(yàn)證樣本的索引。訓(xùn)練/驗(yàn)證比例決定了用于驗(yàn)證的樣本數(shù)量
y軸表示預(yù)測(cè)值
虛線表示真實(shí)值
評(píng)估指標(biāo):
對(duì)于回歸任務(wù),給出了所有回歸目標(biāo)的MSE、RMSE、MAE、R2和SMAPE值。
MSE:均方誤差
RMSE:均方根誤差
MAE:平均絕對(duì)誤差
R2:決定系數(shù)
SMAPE:對(duì)稱平均絕對(duì)百分比誤差
*注:公式中Yi 是第i個(gè)樣本點(diǎn)的真實(shí)值,Xi 為第i個(gè)樣本點(diǎn)的預(yù)測(cè)值。
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