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高壓擺率負(fù)載瞬態(tài)測試方案

德州儀器 ? 來源:德州儀器 ? 2025-04-02 09:10 ? 次閱讀
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歡迎來到《電源設(shè)計小貼士集錦》系列文章

本期,我們將介紹負(fù)載瞬態(tài)測試和簡化復(fù)雜測試的詳細(xì)知識

微處理器和應(yīng)用特定集成電路 (ASIC)需要低電壓、高電流電源。此類電源通常對輸出電壓偏差有非常嚴(yán)格的要求,對于負(fù)載瞬態(tài)事件尤其如此。測試此類電源會給設(shè)計人員帶來一定的挑戰(zhàn),并且可能難以確認(rèn)是否符合規(guī)范。

本文將介紹更多負(fù)載瞬態(tài)測試的詳細(xì)信息以及可用于簡化這些復(fù)雜測試的方法。

首先,需要了解所有瞬態(tài)規(guī)格,以便合理設(shè)計電源,同時還需要了解它們?nèi)绾螒?yīng)用于測試。典型的瞬態(tài)規(guī)格包括:

負(fù)載階躍大小,以安培為單位或以占滿負(fù)載的百分比表示。

瞬態(tài)事件(有時為零)期間的最小負(fù)載。

負(fù)載階躍的壓擺率,通常以安培/微秒為單位。

階躍兩個邊沿支持的最大電壓偏差。

預(yù)期恢復(fù)時間。

圖 1 展示了通常如何定義這些規(guī)格的示例。

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圖 1:負(fù)載瞬態(tài)測量的圖形說明

了解所有規(guī)格后,可以嘗試設(shè)計可滿足要求的電源。但滿足測試要求往往是一項挑戰(zhàn)。1V輸出電壓、100A負(fù)載階躍和1000A/μs壓擺率的要求再正常不過。在大多數(shù)測試情況下,限制因素是待測電源和負(fù)載之間的電感。在實際系統(tǒng)中,電源通常緊鄰其所供電的負(fù)載放置,以便更大限度地減少寄生電感。

可以使用多種方法來測試給定電源的負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng);每種方法都各有其優(yōu)缺點。本文將比較以下方案:外部電子負(fù)載、外部瞬態(tài)電路板、“場效應(yīng)晶體管 (FET) 沖擊”、板載瞬態(tài)發(fā)生器和基于插槽的瞬變測試儀。

外部電子負(fù)載可能是測試瞬態(tài)響應(yīng)的最常用,也是最方便的方法。大多數(shù)負(fù)載都具有可輕松設(shè)置電流電平和轉(zhuǎn)換時間的模式。主要缺點是壓擺率受限,這是源于外部接線或?qū)嶋H負(fù)載限制。

在壓擺率方面,外部瞬態(tài)電路板通常具有更出色的表現(xiàn),但會降低靈活性。根據(jù)設(shè)計的不同,負(fù)載瞬態(tài)電路板可能會在最大電流、熱耗散或壓擺率方面受到限制。瞬態(tài)電路板從外部連接,因此接線通常成為限制壓擺率的因素。此外,還需要為測試的每個電源調(diào)整或配置電路板。

FET 沖擊是一種獲得高速瞬態(tài)結(jié)果的快速、直接方法??梢酝ㄟ^電阻器將金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管 (MOSFET)從漏極連接到源極,或直接連接到電源的輸出端,并使用函數(shù)發(fā)生器控制柵極。由于外部接線較少,因此寄生電感顯著降低。

雖然這種方法通常會產(chǎn)生高壓擺率,但測試可能難以控制和實現(xiàn)可重復(fù)性??赡苓€需要修改印刷電路板 (PCB) (圖2)。此方法的另一個問題是,測量實際負(fù)載階躍電流有一定困難,并且測量值可能不準(zhǔn)確。

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圖 2:包含 FET 沖擊的 PCB 示例

在嘗試測試高電流、高速瞬態(tài)的性能時,板載瞬態(tài)發(fā)生器會非常實用??梢园凑沾_切的負(fù)載瞬態(tài)規(guī)格設(shè)計電路。主要缺點是元件會產(chǎn)生額外成本和空間占用。此外,靈活進行多種不同的測量可能既困難又耗時。

板載瞬態(tài)發(fā)生器的設(shè)計也可能非常復(fù)雜。它可以像由 555 計時器控制的電阻器和 FET 一樣簡單,也可以像圖 3 中所示的一樣復(fù)雜。更為復(fù)雜的設(shè)計采用尺寸更小、開關(guān)速度更快的多級 FET。此設(shè)計可實現(xiàn) 1000A/μs 的壓擺率。

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圖 3:板載瞬態(tài)發(fā)生器的更復(fù)雜版本

最后一個選擇是使用處理器插槽和專用瞬變測試儀工具。這種方法成本最高,原因在于工具本身可能成本較高,而且 PCB 的成本也十分高昂。但對于一組給定的處理器要求,卻可以獲得最準(zhǔn)確的結(jié)果。處理器或 ASIC 制造商經(jīng)常開發(fā)此類工具,因而它們是專為滿足特定的測試條件而構(gòu)建。

表 1 總結(jié)了瞬態(tài)測試方案。

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表 1:不同瞬態(tài)測試方法的比較

測試負(fù)載瞬態(tài)是電源設(shè)計和合規(guī)性的非常重要的部分。測試裝置中的寄生電感會阻礙實現(xiàn)所需壓擺率。希望本文介紹的各種方法可以幫助您避免這個問題。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:源來如此 | 高壓擺率負(fù)載瞬態(tài)測試

文章出處:【微信號:tisemi,微信公眾號:德州儀器】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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