當進行評估的系既獨特又復雜時，全面的驗證和測試通常需要自行設計一些創新。

雖然大部份的測試與測量工作都從評估組件和電路板開始，但也經常面對最終的完整系統帶來多樣化、復雜且更困難的測試挑戰。系統測試通常需要開發高度專業化的獨特配置，而這需要的是客制的電子和機械組件。(當然，幾乎所有與火箭、載人/無人太空旅行、衛星等相關的先進系統都屬于這一類。)

廣泛用于檢測導彈目標的紅外線(IR)傳感器就屬于這種情況。但問題是如何測試這些高分辨率傳感器和系統的性能？答案很“簡單”：只需要一臺IR場景投影儀。事實上，這些投影機必須創造分辨率夠高的影像，使其具有意義且可編程，以便能動態改變影像。為此，它需要特殊的IR發光二極管(LED)數組。

美國芯片與原型系統架構公司Chip Design Systems (CDS)克服了這個問題。Chip Design Systems是美國特拉華大學(University of Delaware)教授Fouad Kiamilev于2013年成立的，主要由該校電子與計算機工程系的CVORG實驗室分拆而出。該公司專注于開發芯片、封裝以及軟硬件解決方案，用于產生熱場景以測試與校正紅外線探測器數組。

Chip Design Systems并與美國空軍研究實驗室(Air Force Research Laboratory)以及其他大學合作，設計了一種短波紅外線LED投影儀，用于測試這些新型的傳感器。該投影機能以前所未有的分辨率產生紅外線場景，其速度是現有技術的兩倍，亮度也更高得多，而且可以分別對像素進行編程。

該計劃的關鍵在于一種采用新方法縮小讀取芯片(RIIC)的紅外線LED數組。該架構透過在相鄰像素之間巧妙地共享晶體管以縮小芯片尺寸，而非采用更復雜且易于出現缺陷的更精細CMOS技術。512×512像素的場景投影系統以100Hz運行，并使用中波(3～5μm)超晶格LED數組。這些LED覆晶接合至讀取芯片，當液氮冷卻到77K時，顯示溫度高達1,350 K。數組子系統使用客制驅動電子裝置(圖1)和封裝，并進行非均勻校正(或稱為NUCed)。

圖1：512×512像素系統的驅動電子組件采用了創新的拓撲結構（來源：University of Delaware）

當然，完整的系統測試中要比這套IR LED數組更復雜；除了相當數量的設備外，還需要更多的人員投入以及承受挫折的意愿。至今大約有30名研究生(包括碩士和博士生)參與這套原型系統的開發(圖2)，該系統日前已在美國佛羅里達州埃爾金斯空軍基地(Elgin Air Force Base)成功完成評估。

圖2：圖中顯示由Chip Design Systems、美國特拉華大學與愛荷華大學(University of Iowa)連手開發的技術，及其如何用于實驗室中評估紅外線導彈在飛行中執行任務（來源：Air Force Research Laboratory）

當然，組件和電路板測試是系統測試的基礎建構模塊。但即使是功能齊全且經過測試的模塊在推進新領域時也可能無法完成任務。這就是系統測試的明顯挑戰之一。您不僅必須配置和除錯系統測試安排，通常還需要一些獨立、甚至是全然不同的方式，以驗證測試系統是否提供了有效的結果。無論問題是基本的校正還是更大的錯誤或誤解，高階的先進系統測試可能十分值得，同時也令人沮喪。

你曾經必須為了測試獨特且從未做過的系統開發專用的測試工具嗎？在過程中遇到過什么“驚喜”？順利克服問題而且還清楚地記得嗎？請與我們分享。