這款 30V、3.2mΩ、SON 3.3mm × 3.3mm NexFET? 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率轉換損耗 應用。
*附件:CSD17581Q3A 30V N 溝道 NexFET? 功率 MOSFET 數據表.pdf
特性
- 低 Q
g和 QGD - 低 R
DS(開) - 低熱阻
- 雪崩評級
- 無鉛
- 符合 RoHS 標準
- 無鹵素
- SON 3.3mm × 3.3mm 塑料封裝
參數
方框圖
1. 產品概述
- ?型號?:CSD17581Q3A
- ?類型?:30V N溝道 NexFET? 功率MOSFET
- ?封裝?:SON 3.3mm × 3.3mm 塑料封裝
- ?特點?:低柵極電荷(Q_g)、低導通電阻(R_DS(on))、低熱阻、雪崩額定、無鉛、RoHS合規、無鹵素
2. 應用領域
3. 電氣特性
3.1 靜態特性
- ? 漏源電壓(V_DS) ?:30V
- ? 柵源閾值電壓(V_GS(th)) ?:1.0V 至 1.7V
- ? 導通電阻(R_DS(on)) ?:
- V_GS = 4.5V時:3.9mΩ 至 4.7mΩ
- V_GS = 10V時:3.2mΩ 至 3.8mΩ
- ? 漏源泄漏電流(I_DSS) ?:1μA(V_GS = 0V, V_DS = 24V)
- ? 柵源泄漏電流(I_GSS) ?:100nA(V_DS = 0V, V_GS = 20V)
3.2 動態特性
- ? 輸入電容(C_iss) ?:2800pF 至 3640pF(V_GS = 0V, V_DS = 15V, f = 1MHz)
- ? 輸出電容(C_oss) ?:342pF 至 445pF
- ? 反向傳輸電容(C_rss) ?:150pF 至 195pF
- ? 柵極總電荷(Q_g) ?:
- V_DS = 15V, I_D = 16A時:
- V_GS = 4.5V:20nC 至 25nC
- V_GS = 10V:41nC 至 54nC
- V_DS = 15V, I_D = 16A時:
- ? 柵極到漏極電荷(Q_gd) ?:4nC
- ? 開啟延遲時間(t_d(on)) ?:12ns
- ? 上升時間(t_r) ?:23ns
- ? 關斷延遲時間(t_d(off)) ?:23ns
- ? 下降時間(t_f) ?:10ns
3.3 二極管特性
- ? 二極管正向電壓(V_SD) ?:0.8V 至 1.0V(I_SD = 16A, V_GS = 0V)
- ? 反向恢復電荷(Q_rr) ?:10.2nC(V_DS = 15V, I_F = 16A, di/dt = 300A/μs)
- ? 反向恢復時間(t_rr) ?:9.8ns
4. 熱信息
- ? 結到殼熱阻(R_θJC) ?:2°C/W
- ? 結到環境熱阻(R_θJA) ?:
- 典型值:45°C/W(安裝在1in2 2oz Cu板上)
- 最大值:160°C/W(安裝在最小Cu板上)
5. 絕對最大額定值
- ? 漏源電壓(V_DS) ?:30V
- ? 柵源電壓(V_GS) ?:±20V
- ? 連續漏電流(I_D) ?:
- 封裝限制:60A
- 硅限制(T_C = 25°C):101A
- ? 脈沖漏電流(I_DM) ?:154A
- ? 功率耗散(P_D) ?:
- 封裝限制:2.8W
- T_C = 25°C時:63W
- ? 工作結溫(T_J)、存儲溫度(T_stg) ?:-55°C 至 150°C
- ? 雪崩能量(E_AS) ?:76mJ(單脈沖,I_D = 39A,L = 0.1mH,R_G = 25Ω)
6. 封裝與訂購信息
- ?封裝尺寸?:詳細尺寸圖見數據表第8頁
- ?推薦PCB布局?:見數據表第9頁
- ?推薦鋼網圖案?:見數據表第9頁
- ?卷帶和卷軸信息?:見數據表第10頁
- ?訂購信息?:
- CSD17581Q3A:2500片/13英寸卷帶
- CSD17581Q3AT:250片/7英寸卷帶
7. 支持與文檔
- 提供文檔更新通知、社區資源、商標信息、靜電放電注意事項等。
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