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FinFET與GAA結構的差異及其影響

中科院半導體所 ? 來源:老虎說芯 ? 2025-05-21 10:51 ? 次閱讀

文章來源:老虎說芯

原文作者:老虎說芯

本文介紹了當半導體技術從FinFET轉向GAA(Gate-All-Around)時工藝面臨的影響。

當半導體技術從FinFET轉向GAA(Gate-All-Around)時,會對蝕刻、清洗、CVD/PVD等制造工藝產生一系列影響。

FinFET與GAA結構的差異

FinFET結構:FinFET是一種三維結構,柵極圍繞著從襯底突出出來的硅鰭狀結構。

GAA結構:GAA是一種更高級的三維結構,柵極完全包圍著納米線或納米片,從而提供更好的電氣控制

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圖:FinFET和GAAFET示意

對蝕刻工藝的影響

FinFET中的蝕刻:需要高各向異性蝕刻工藝來形成鰭狀結構。在形成鰭結構的過程中,需要高選擇性蝕刻來避免損壞周圍的材料。

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圖:SiGe/Si Channel FinFET device生產工藝

GAA中的蝕刻:由于GAA中納米線或納米片的精細尺寸,蝕刻工藝需要更高的精度。需要對多層材料進行選擇性蝕刻,以確保納米線或納米片的完整性??赡苄枰胄滦臀g刻氣體或等離子體,以實現對納米結構的高保真度蝕刻。

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圖:GAA-SNWT的生產工藝

對清洗工藝的影響

FinFET中的清洗:主要針對鰭結構的清洗,重點在于去除光刻膠和蝕刻殘留物。

GAA中的清洗:由于GAA結構更加復雜,清洗工藝需要避免對納米線或納米片的損傷。需要引入更溫和、更有效的清洗溶劑和方法,以防止對細小結構的腐蝕和損傷。

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圖:傳統(tǒng)FET跟FinFET對比

對CVD/PVD工藝的影響

FinFET中的CVD/PVD:CVD(化學氣相沉積)和PVD(物理氣相沉積)主要用于鰭結構的柵極材料沉積和絕緣層沉積。要求良好的沉積均勻性和填充性。

GAA中的CVD/PVD:由于GAA結構需要完全包圍納米線或納米片,CVD/PVD工藝需要具備更高的沉積均勻性和精確控制能力。需要開發(fā)新的沉積材料和工藝,以適應納米線或納米片的包覆要求??赡苄枰褂肁LD(原子層沉積)等更精細的沉積技術,以確保每一層材料的均勻性和厚度控制。

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圖:FinFET器件的尺寸示意

其他相關工藝的影響

光刻:GAA結構對光刻技術提出了更高的要求,需要更高分辨率的光刻技術來定義精細結構??赡苄枰隕UV(極紫外光刻)技術,以滿足更小尺寸的需求。

材料選擇:由于GAA結構中的納米線或納米片對材料性能的敏感性,需要選擇具有更高電氣性能和熱穩(wěn)定性的材料。

封裝技術:GAA結構的復雜性對后續(xù)的封裝技術也提出了新的挑戰(zhàn),需要確保納米結構在封裝過程中的完整性和功能性。

總結來說,從FinFET到GAA的轉變對半導體制造的各個方面都提出了更高的要求,特別是在蝕刻、清洗和CVD/PVD等關鍵工藝上,需要進行技術的改進和創(chuàng)新,以適應新結構的制造需求。

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原文標題:半導體器件從FinFET轉向GAA時對晶圓制造工藝的影響

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導體所】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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