在半導體芯片制造、光學元件加工以及生物醫療器件研發等領域,微納結構的加工精度正朝著原子級精度不斷邁進。傳統光刻技術由于受到波長衍射極限的制約,當加工尺度進入10nm以下時,不僅面臨著成本急劇上升的問題,還存在工藝復雜度大幅增加的瓶頸。而納米壓印技術憑借其在高分辨率加工、低成本生產以及高量產效率等方面的顯著優勢,正逐步成為下一代微納制造領域的核心技術之一。
(注:圖片來源于網絡)
一、納米壓印:芯片制造領域的“活字印刷術”
1.誕生背景:突破光刻“天花板”的必然選擇
納米壓印技術(Nanoimprint Lithography, NIL)是一種新型且具有突破性的微納加工技術,它通過物理壓印的方式,將模板上的微納米結構圖案復制到涂覆有聚合物材料的基底上。其核心思想類似于古老的印章印刷術,但在納米尺度上實現了高精度圖案復制。
(注:圖片來源于網絡)
20世紀90年代,半導體產業加速芯片制程微縮進程,傳統光學光刻技術受限于光的衍射極限,最小特征尺寸難以突破分辨率上的極限,電子束光刻雖能實現100納米以下的精度,但其掃描式加工效率極低,且設備與工藝成本居高不下,無法滿足大規模量產需求。在這一技術發展的關鍵節點,納米壓印技術應運而生,其核心優勢在于:通過模板復制替代光束掃描,將納米級圖案一次性壓印到基底上,不僅顯著降低生產成本,更實現了5nm以下的分辨率。
(注:圖片來源于網絡)
2.技術原理:納米級的“蓋章藝術”
納米壓印的本質是圖形復刻:利用帶有納米級圖案的模板,在涂覆光刻膠的基底上施加精確壓力,使膠層按模板輪廓塑形,固化后剝離模板,即可在基底上留下與模板互補的納米結構。根據固化方式不同,主要分為熱納米壓印(加熱軟化膠層)、紫外納米壓印(UV光固化膠層)和微接觸印刷(軟刻蝕)等類型。納米壓印的核心流程包括:模板制備、壓印膠涂布、壓印成型、脫模與后處理等關鍵環節。
(注:圖片來源于網絡)
二、關鍵流程拆解:逐層的“精度博弈”
1.模板制備——納米級對準
首先,需要制作一塊具有所需納米圖案的模板(通常稱為“印章”或“模具”)。模板材料需堅硬耐用(如硅或石英等),其表面圖案通過電子束光刻、聚焦離子束刻蝕等高精度技術加工而成。在使用準備好的模板進行壓印前,模板與基底需實現亞納米級對準,傳統機械定位系統受限于機械間隙與熱漂移,可能難以滿足需求。
(示意圖)
2.壓印成型——壓力均勻性控制
納米壓印技術的生產采用物理接觸的方式進行圖形轉移,將模板以一定的壓力壓入壓印膠(聚合物層)中,使其填充模板上的凹陷結構。這種方法能達到很高的分辨率,最小分辨率小于5納米。例如:熱壓印中,模板與基底的接觸壓力需均勻分布,否則會導致膠層厚度不均,圖案可能會出現凹凸不平的情況。
(示意圖)
3.脫模——應力控制
待聚合物固化后,小心地將模板與基底分離,此時聚合物層上就形成了與模板互補的納米結構圖案。脫模時,模板與固化膠層的粘附力易導致納米結構撕裂,需精確控制,例如:用微米級動態調節脫模速度與位移精度。
(示意圖)
三、當壓電技術切入納米壓印的核心痛點
壓電納米定位臺(如X、Y、θz三軸系統)采用壓電陶瓷驅動,直線分辨率可達2nm,閉環控制下定位精度≤10nm,配合傳感器實時反饋,可在壓印前實現模板與基底的亞微米級粗對準與納米級精對準,確保圖案層間的重合度。
壓電陶瓷促動器陣列可實現多點獨立壓力控制,通過閉環反饋系統實時調節各點壓力,可控制壓力均勻性最大化。技術優勢:壓電驅動響應速度快,可動態補償壓印過程中因溫度變化導致的壓力衰減,避免傳統機械加壓的“遲滯效應”。
壓電納米定位臺配合力傳感器,可實現低速脫模控制,同時實時監測脫模力變化,并且實時調整位移速度,減少應力集中。
芯明天壓電納米定位系統:納米壓印的“精準之手”
納米壓印技術的演進,本質是精度需求與成本控制的平衡哲學。而壓電納米定位與控制系統,正是這門哲學實踐中的核心要素——從對準到壓印,從固化到脫模,每一個納米尺度的動作背后,都需要極致的控制精度作為支撐。
(壓電納米定位臺運動效果舉例)
S52系列大負載壓電偏擺臺
S52.ZT2S壓電偏擺臺,可產生θx、θy兩軸偏轉及Z向直線運動。它的承載能力可達5kg,閉環重復定位精度可達0.006%F.S.,適用于各種高精度應用領域。同時中心具有55×55mm^2的通孔,適用于透射光應用。
▲特點
·串聯結構耦合小
·閉環線性度/定位精度高
·可選真空版本
技術參數
型號 | S52.ZT2S |
運動自由度 | θx、θy、Z |
驅動控制 | 8路驅動,8路傳感 |
標稱直線行程范圍(0~120V) | 174μm |
Max.直線行程范圍(0~150V) | 217μm |
標稱偏擺角度(0~120V) | ±1.10mrad/軸(≈±227秒) |
Max.偏擺角度(0~150V) | ±1.37mrad/軸(≈±282.5秒) |
傳感器類型 | SGS |
Z向閉環分辨率 | 3.5nm |
θx、θy閉環分辨率 | 0.14μrad(≈0.03秒) |
Z向閉環線性度 | 0.013%F.S. |
θx、θy閉環線性度 | 0.009%F.S. |
Z向閉環重復定位精度 | 0.009%F.S. |
θx、θy閉環重復定位精度 | θx:0.0067%F.S.、θy:0.006%F.S. |
Z向推力 | 220N |
Z向剛度 | 1.1N/μm |
靜電容量 | θxθy:7μF、Z:28μF |
承載能力 | 5kg |
空載諧振頻率 | 233Hz |
帶載2.5kg諧振頻率 | θxθy:63Hz、Z:68Hz |
帶載2.5kg階躍時間 | θxθy:200ms、Z:300ms |
Z向俯仰角 | 20μrad |
Z向偏航角 | 8.7μrad |
Z向滾動角 | 14.5μrad |
X/Y 向耦合 | θx:9.5μrad、θy:8.7μrad |
水平方向耦合 | θx:17.3μrad、θy:16.3μrad |
重量(含線) | 2.5kg |
材質 | 鋼、鋁 |
注:以上參數是采用E00/E01系列壓電控制器測得。最大驅動電壓可在-20V~150V;對于高可靠的長期使用,建議驅動電壓在0~120V。
H30系列壓電偏擺臺
芯明天H30系列壓電偏擺臺是具有中心通孔的三維XY直線及θz軸旋轉運動的壓電偏擺臺,采用無摩擦柔性鉸鏈結構設計,響應速度快、閉環定位精度高,?60mm中心大通孔使其易于集成在顯微及掃描等光學系統中。
▲特點
·XY直線運動及θz旋轉
·承載可達6kg
·閉環定位精度高
·直線分辨率可達2nm
·旋轉分辨率可達0.1μrad
·直線行程可達140μm/軸
·旋轉角度可達2mrad
技術參數
型號 | H30.XY100R2S |
運動自由度 | X、Y、θz |
驅動控制 | 4路驅動,3路傳感 |
標稱直線行程范圍(0~120V) | ±56μm/軸 |
直線行程范圍(0~150V) | ±70μm/軸 |
標稱旋轉角度(0~120V) | 1.6mrad(≈330秒) |
旋轉角度(0~150V) | 2mrad(≈413秒) |
傳感器類型 | SGS |
XY向分辨率 | 6nm |
θz向分辨率 | 0.3μrad(≈0.06秒) |
XY向線性度 | 0.1%F.S. |
θz向線性度 | 0.07%F.S. |
XY向重復定位精度 | X0.057%F.S./Y0.018%F.S. |
θz向重復定位精度 | 0.03%F.S. |
空載諧振頻率 | XY450Hz/θz330Hz |
帶載諧振頻率@6kg | XY110Hz/θz85Hz |
靜電容量 | XY15μF/θz28.8μF |
階躍時間 | 150ms@6kg |
承載能力 | 6kg |
材質 | 鋁合金 |
重量 | 2.3kg |
審核編輯 黃宇
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